「SLP」に関連した中国語例文の一覧 -中国語例文検索

SLP数据与在图 5中所示的相同。

また、SLPデータは図5で示したものと同じである。 - 中国語 特許翻訳例文集

因此，黑化检测钳制电压 SLP_SUN随用于 AD转换的参照信号 SLP_ADC的斜率而变化，如图 8中所示。

このため、図8に示すように、AD変換用参照信号の傾きSLP＿ADCに合わせて黒化検出用クランプ電圧SLP＿SUNが変動する。 - 中国語 特許翻訳例文集

用于 AD转换的参照信号 SLP_ADC的斜率根据斜率确定信息变化。

AD変換用参照信号SLP＿ADCの傾きは、傾き決定情報により変化する。 - 中国語 特許翻訳例文集

在图 6和 7中所示的组播包是在步骤 S401中发送的 SLP协议包。

図示例は、共にステップS401において送出されたSLPプロトコルのパケットである。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 5示出了 SLD数据的示例。

図示例はSLPのデータを示している。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 5描述了根据量化比特的数目改变用于 AD转换的参照信号 SLP_ADC的斜率。

図5は、AD変換用参照信号SLP＿ADCの傾きが量子化ビット数により変化することを示す図である。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 6描述了根据模拟增益的设置值改变用于 AD转换的参照信号 SLP_ADC的斜率。

図6は、AD変換用参照信号SLP＿ADCの傾きがアナログゲイン設定値により変化することを示す図である。 - 中国語 特許翻訳例文集

总而言之，根据来自固态成像装置 (CMOS图像传感器 )外部的通信内容，确定用于AD转换的参照信号 SLP_ADC的斜率。

一般的に、AD変換用参照信号SLP＿ADCの傾きは固体撮像素子（CMOSイメージセンサ）外部からの通信内容により決定される。 - 中国語 特許翻訳例文集

用于 AD转换的参照信号 SLP_ADC从相对钳制电压具有某偏移电压的电压开始倾斜。

AD変換用参照信号SLP＿ADCは、クランプ電圧に対してあるオフセット電圧をもった電圧から傾きが開始される。 - 中国語 特許翻訳例文集

重复此过程，能够为用于 AD转换的参照信号 SLP_ADC设置最佳钳制电压。

この処理を繰り返すことにより、AD変換用参照信号SLP＿ADCに応じた最適なクランプ電圧設定を行うことができる。 - 中国語 特許翻訳例文集

在所例示的示例中，目的地端口号是 427，使得 SLP使用 UDP的端口 427。

UDP Frameにおいて、宛先ポート番号はプロトコルによって決まっており、図示例では、SLPはUDPの427番のポートを使用する。 - 中国語 特許翻訳例文集

例如，在 SLP的情况下，从 NIC中的一个发回如图 6A所示的响应包，并且从另一 NIC发回如图 6B所示的响应包。

例えば、SLPの場合は第1のNICから図6（a）に示すようなパケットを送信し、第2のNIC109から図6（b）に示すようなパケットを返信していた。 - 中国語 特許翻訳例文集

如图 5中所示，随量化比特的数目变大，用于 AD转换的参照信号 SLP_ADC的斜率变得平缓，随量化比特的数目变小，用于 AD转换的参照信号 SLP_ADC的斜率变陡峭。

AD変換用参照信号SLP＿ADCの傾きは、図5に示すように、量子化ビット数が多いほど緩やかになり、量子化ビット数が少ないほど急になる。 - 中国語 特許翻訳例文集

如图 6中所示，随模拟增益的设置值变高，用于 AD转换的参照信号 SLP_ADC的斜率变得平缓，随模拟增益的设置值变低，用于 AD转换的参照信号 SLP_ADC的斜率变得陡峭。

また、AD変換用参照信号SLP＿ADCの傾きは、図6に示すように、アナログゲイン設定値が高いほど緩やかになり、アナログゲイン設定値が低いほど急になる。 - 中国語 特許翻訳例文集

如图 10中所示，校正偏置选择部件 170中的比较器 171把用于 AD转换的参照信号 SLP_ADC与针对黑化检测时间段 K1的钳制电压加以比较，以检测用于 AD转换的参照信号 SLP_ADC的斜率。

図10に示すように、補正用バイアス選択部170の比較器171にてAD変換用参照信号SLP＿ADCと黒化現象検出期間K1クランプ電圧を比較し、その傾きを検出する。 - 中国語 特許翻訳例文集

DAC 160也生成具有 D相位模式中斜率的参照信号 SLP_ADC。

DAC160において、D相時にも、ある傾きをもった参照信号SLPADCが生成される。 - 中国語 特許翻訳例文集

从以上的描述可以明显看出，来自垂直扫描部件 120的选择脉冲 DSEL和来自校正偏置电路 180的钳制电压 SLP_SUN控制像素哑部件 110B。

このように、画素ダミー部110Bは、垂直走査部120からの選択パルスDSEL、補正用バイアス回路180からのクランプ電圧SLP＿SUNにより制御されている。 - 中国語 特許翻訳例文集

因此，由例如量化比特的数目、模拟增益的设置值、或者列 AD电路中计数器部分的频率改变用于 AD转换的参照信号 SLP_ADC的斜率。

したがって、AD変換用参照信号SLP＿ADCの傾きは、たとえば量子化ビット数、アナログゲイン設定値、カラムAD回路カウント動作部の周波数により変化する。 - 中国語 特許翻訳例文集

因此，用于 AD转换的参照信号 SLP_ADC达到与像素信号 SIG一致所需的时间 (计数值 )在 P-相位时间段和 D-相位时间段之间不同。

したがって、P相期間およびD相期間において、AD変換用参照信号SLP＿ADCが画素信号SIGと一致するまでの時間（カウント値）が異なる。 - 中国語 特許翻訳例文集

通信时序控制器 140在黑化检测时间段和其它时间段之间切换黑化检测钳制电压 SLP_SUN。

また、黒化現象検出用クランプ電圧SLP＿SUNは通信・タイミング制御部140によって、黒化現象検出期間とそれ以外の期間でクランプ電圧の切り替えが行われている。 - 中国語 特許翻訳例文集

在校正偏置选择部件 170中，用于 AD转换的参照信号 (SLP_ADC)与针对黑化检测时间段 K1的钳制电压而不是与像素信号 (SIG)进行比较。

補正用バイアス選択部170内にて、AD変換用参照信号（SLP＿ADC）を画素信号（SIG）ではなく、黒化現象検出期間K1クランプ電圧と比較する。 - 中国語 特許翻訳例文集

因此，用于 AD转换的当前参照信号 (SLP_ADC)的斜率从计数器 172所计数的计数值获取，直至偏移电压与钳制电压交叉。

このため、このオフセット電圧とクランプ電圧と交わるまでのカウンタ172によるカウント数により、現状のAD変換用参照信号（SLP＿ADC）の傾きが求まる。 - 中国語 特許翻訳例文集

比较部件 252将由基准信号产生部件27产生的基准信号 SLP_ADC与经由垂直信号线 19(H1、H2、......、Hh)从所选行中的单元像素 3获得的模拟像素信号电压 Vx进行比较。

比較部252は、参照信号生成部27で生成される参照信号SLP_ADC と、選択行の単位画素3から垂直信号線19（H1，H2，…，Hh）を経由し得られるアナログの画素信号電圧Vxを比較する。 - 中国語 特許翻訳例文集

在这种情况下，当设备 100接收到图 4所示的搜索包时，由于 SLP搜索之后的通信是临时性的，因此在通信中使用属于较近的网络的第一 NIC 108是高效的。

この場合、図4に示す探索パケットをデバイス100が受信した場合、SLPの探索に続く通信は一過性のものであるため、その通信にはより近いネットワークに所属する第1のNIC108を使用した方が効率がよい。 - 中国語 特許翻訳例文集

通信时序控制器 140包括控制 DAC 160中参照信号 SLP_ADC(RAMP)的生成的 DAC控制部件。

通信・タイミング制御部140は、DAC160における参照信号SLCADC（RAMP）の生成を制御するDAC制御部を含む。 - 中国語 特許翻訳例文集

在正常操作时间段 K2中，DAC 160生成具有 P-相位模式中斜率的参照信号 SLP_ADC。

通常動作期間K2において、DAC160では、P相時のある傾きをもった参照信号SLPADCが生成される。 - 中国語 特許翻訳例文集

当在校正偏置选择部件 170中采用与用于 AD转换的参照信号的斜率相关联地改变钳制电压的电路配置时，能够精确地响应用于 AD转换的参照信号 SLP_ADC的斜率的变化。

この補正用バイアス選択部170内でAD変換用参照信号の傾きに連動してクランプ電圧変更をする回路構成を採用することにより、AD変換用参照信号SLP＿ADCの傾きが変化した場合にも、精度良く追従を行う。 - 中国語 特許翻訳例文集

因此，基准信号产生部件 27具有 DA转换部件 270(DAC：数字模拟转换器 )，产生由来自通信 /定时控制部件 20的控制数据 CN4指示的斜率 (变化率 )的基准信号 SLP_ADC。 该部件 270与计数时钟 CKdac1同步地，根据由来自通信 /定时控制部件 20的控制数据 CN4指示的初始值来产生基准信号。

このため、参照信号生成部27は、DA変換部270（DAC；Digital Analog Converter）を有し、通信・タイミング制御部20からの制御データCN4で示される初期値からカウントクロックCKdac1に同期して、制御データCN4で示される傾き（変化率）の参照信号SLP_ADC を生成する。 - 中国語 特許翻訳例文集

与其他的输入端子(+)一起，向每一比较部件252的两个端子之一的输入端子(+)提供由基准信号产生部件 27产生的基准信号 SLP_ADC。 其两个端子中的另一个输入端子(-)连接到以垂直列排列的垂直信号线 19中相关联的一个，并向输入端子 (-)提供来自像素阵列部件 10的像素信号电压 Vx。

比較部252の一方の入力端子（＋）は、他の比較部252の入力端子（＋）と共通に、参照信号生成部27で生成される参照信号SLP_ADC が入力され、他方の入力端子（−）には、それぞれ対応する垂直列の垂直信号線19が接続され、画素アレイ部10からの画素信号電圧Vxが個々に入力される。 - 中国語 特許翻訳例文集

DAC控制部件执行控制，以使得针对将经受列处理电路组 150中各个列处理电路(ADC)的 AD转换的每行，来调整参照信号 SLP_ADC的斜率。

DAC制御部は、カラム処理回路群150の各カラム処理回路（ADC）151のAD変換を行う行ごとに、参照信号SLPADCの傾きを調整するように制御する。 - 中国語 特許翻訳例文集

DAC控制部件能够执行控制，以使得在列处理电路组 150中执行 CDS(关联复式取样 )时，根据量化比特的数目差，来调整第一取样和第二取样中每个的参照信号 SLP_ADC的斜率。

DAC制御部は、カラム処理回路群150におけるCDS（Correlated Double Sampling；CDS）時に、量子化ビット数に違いに応じて1次サンプリング、2次サンプリングそれぞれの参照信号SLPADCの傾き調整を行うように制御可能である。 - 中国語 特許翻訳例文集

在列处理电路组 150中，使用来自 DAC 160的参照信号 SLP_ADC、对来自像素部件110的模拟输出执行 APGA-可兼容的积分 ADC和数字 CDS，以输出多个比特的数字信号。

ADC群150では、ADCブロック（各カラム部）でそれぞれ、画素部110のアナログ出力をDAC160からの参照信号SLPADCを使用したAPGA対応積分型ADC、およびデジタルCDSを行い、数ビットのデジタル信号を出力する。 - 中国語 特許翻訳例文集

随着带有斜坡波形的参照信号 SLP_ADC与计数值以一一对应关系变化，每个 ADC 151把垂直信号线 116的电势 (模拟信号 )Vs1转换为数字信号。

各ADC151は、ランプ波形のある参照信号SLCADCとカウンタ値が一対一の対応を取りながら変化することで垂直信号線116の電位（アナログ信号）Vslをデジタル信号に変換する。 - 中国語 特許翻訳例文集

每 ADC 151把参照信号 SLP_ADC的电压的变化转换为时间的变化，并且在给定的周期 (时钟 )内对时间计数，以把时间转换为数字值。

ADC151は、参照信号SLCADCの電圧の変化を時間の変化に変換するものであり、その時間をある周期(クロック)で数えることでデジタル値に変換する。 - 中国語 特許翻訳例文集

DAC 160在 DAC控制部件的控制下，使用按给定倾斜度线性变化的斜波形，生成参照信号 (斜坡信号 )，并且把参照信号 SLP_ADC供给至列处理电路组 150。

DAC160は、DAC制御部の制御の下、ある傾きを持った線形に変化するスロープ波形である参照信号（ランプ信号）を生成し、参照信号SLCADCをカラム処理回路群150に供給する。 - 中国語 特許翻訳例文集

在每个列处理电路 (ADC)151中，针对每列而布置的比较器 152把读取至垂直信号线 116的模拟像素信号 SIG与参照信号 SLP_ADC加以比较。

各カラム処理回路（ADC）151において、垂直信号線116に読み出されたアナログ画素信号SIGが列毎に配置された比較器152で参照信号SLPADCと比較される。 - 中国語 特許翻訳例文集

每个 ADC 151具有比较器 152，比较器 152把通过逐步改变 DAC 160生成的参照信号所获得的拥有斜坡波形的参照信号 SLP_ADC与经由垂直信号线 116从每行像素所获得的模拟像素信号 SIG加以比较。

各ADC151は、DAC160により生成される参照信号を階段状に変化させたランプ波形である参照信号SLCADCと、行線毎に画素から垂直信号線を経由し得られるアナログ画素信号SIGと、を比較する比較器（コンパレータ）152を有する。 - 中国語 特許翻訳例文集

在列处理电路组 150中，读取至垂直信号线 116的模拟像素信号 SIG由针对每列所布置的比较器 152与参照信号 SLP_ADC(作为按给定倾斜度线性变化的斜波形的斜坡信号 RAMP)进行比较。

ADC群150においては、垂直信号線116に読み出されたアナログ画素信号SIGは列毎（カラム毎）に配置された比較器152で参照信号SLCADC（ある傾きを持った線形に変化するスロープ波形であるランプ信号RAMP）と比較される。 - 中国語 特許翻訳例文集

当模拟像素信号 SIG与参照信号 SLP_ADC相交时，比较器 152的输出被反转，以停止计数器锁存器 153的输入时钟，或者把其输入已经被停止的时钟输入到计数器锁存器153，从而完成 AD转换。

アナログ画素信号SIGと参照信号SLCADCが交わったとき、比較器152の出力が反転し、カウンタラッチ153の入力クロックを停止し、または、入力を停止していたクロックをカウンタラッチ153に入力し、AD変換を完了させる。 - 中国語 特許翻訳例文集

选择器 181根据来自通信时序控制器 140的选择控制信号 SCTL来选择第一输入或者第二输入，并且输出具有相应于所选择输入的电平的黑化检测钳制电压 SLP_SUN。

セレクタ181は、通信・タイミング制御部140の選択制御信号SCTLに応じて、第1入力または第2入力を選択し、選択した入力に応じたレベルの黒化現象検出用クランプ電圧SLPSUNを出力する。 - 中国語 特許翻訳例文集