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「きどうとるく」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 302件
読取装置32aは、プラテンガラス31上の原稿Mに照明光Laを照射する読取用光源34と、原稿Mからの反射光Lbを受光して原稿Mを幅方向に1ライン分読み取る読取部としてのラインイメージセンサ(光電変換素子)35と、特定波長光IRを原稿Mに照射するための消去用光源36と、消去用光源36からの特定波長光IRを反射集光してラインイメージセンサ35による原稿Mの読取範囲(読取位置)Sへ照射させる反射板37と、これらの部品を保持して移動機構33に取り付けられた保持部材38とを備えている。
用于将特定波长光 IR照射原稿 M的消除用光源 36; 将来自消除用光源 36的特定波长光 IR反射聚光而照射到行图像传感器 35的原稿 M的读取范围 (读取位置 )S的反射板 37; - 中国語 特許翻訳例文集
理論上は、単一チャネルのI/Oブロック702をより多くのDUTのI/Oブロック704、706、708、710に連結することで、信号のファンアウト/ファンインを任意の数の信号経路分(例えば4つ、若しくは8つ、若しくはその他任意の数の信号経路)のみ増加させ、‘378号出願に記載された並列試験回路を拡張することができる。しかし実際には、単一の並列試験回路700のファンアウト/ファンインを増加させると、信号精度とDUTの分離を維持することがより困難となる。例えば、より多くのDUTのI/Oブロック704、706、708、710を単一のチャネルI/Oブロック702に連結すると、類似した信号伝播特性同士を異なる信号ルート間で維持しながら、DUTのI/Oブロック704、706、708、710とチャネルI/Oブロック702との間の信号のルート設定を行うことがより困難となる。
然而,实际上,随着单个并行测试电路 700的扇出 /扇入增多,变得难以维持信号完整性和DUT隔离。 例如,随着更多的 DUT I/O块 704、706、708、710被耦合到单个通道 I/O块 702,变得更加难以在 DUT I/O块 704、706、708、710和通道 I/O块 702之间路由信CN 10201748913 AA 说 明 书 2/6页号以使得在不同的信号路由之间维持类似的信号传播特性。 - 中国語 特許翻訳例文集
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