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図10は、本実施形態に係る補正用バイアス選択部の一構成例を示す図である。

图 10描述了根据实施例的校正偏置选择部件的配置例子。 - 中国語 特許翻訳例文集

【図1】本発明の第1の実施形態にかかる像ぶれ補正装置の構成を示す平面図である。

图 1是根据本发明实施例的图像抖动校正装置的平面图; - 中国語 特許翻訳例文集

【図9】変形例1にかかる光学補正特性情報の別の一例を説明するための図。

图 9A和 9B是示出根据变形例 1的光学校正特性信息的其它示例的图; - 中国語 特許翻訳例文集

【図11】変形例2にかかる光学補正特性情報の別の一例を説明するための図。

图 11A和 11B是示出根据变形例 2的光学校正特性信息的其它示例的图; - 中国語 特許翻訳例文集

次に、逆光補正曲線取得部24は、収束ポイントP3の入力階調値x3を決定する。

然后,逆光修正曲线取得部 24决定收敛点 P3的输入灰度值 x3。 - 中国語 特許翻訳例文集

つまり逆光補正部26は、輝度分布における極小値を見つけ、極小値に対応する階調値(輝度)を特定する。

即,逆光修正部 26找出亮度分布中的最小值,确定与最小值对应的灰度值 (亮度 )。 - 中国語 特許翻訳例文集

周波数補正部73は、P1検出部71から供給されたP1-fine検出値に基づいて、遅延部72から供給されたOFDM信号の周波数誤差を補正し、補正後のOFDM信号をFFT演算部74に出力する。

频率校正部分 73基于从 P1检测部分 71提供到其的 P1精细检测值校正从延迟部分 72提供到其的 OFDM信号的频率误差,并且将校正之后的 OFDM信号输出到 FFT计算部分74。 - 中国語 特許翻訳例文集

欠陥画素演算回路及びアドレス選択回路は、再補正ROM170aの欠陥画素位置データにより、補正する画素位置範囲を拡張するために設けられている。

为了通过再修正 ROM170a的缺陷像素位置数据对修正的像素位置范围进行扩张,设置有缺陷像素运算电路和地址选择电路。 - 中国語 特許翻訳例文集

補正制御部62は、入力される検出値のうち、P1処理部13からのP1-fine検出値およびP1-coarse検出値については、すぐに適用する。

校正控制部分 62从输入到其中的检测值当中立即应用来自 P1处理部分 13的P1精细检测值和 P1粗略检测值。 - 中国語 特許翻訳例文集

【図10】本発明の実施の形態による奥行値の補正の第2の態様を示す図である。

图 10包括示出根据本发明实施例的深度值校正的第二模式的示图。 - 中国語 特許翻訳例文集


図10は、本発明の実施の形態による奥行値の補正の第2の態様を示す図である。

图 10包括示出根据本发明实施例的深度值校正的第二模式的示图。 - 中国語 特許翻訳例文集

図16は、本発明の実施の形態による奥行値の補正の第3の態様を示す図である。

图 16包括示出根据本发明实施例的深度值校正的第三模式的示图。 - 中国語 特許翻訳例文集

その後、画像形成部Pは階調補正後の印刷用画像データにより印刷を行う(ACT14)。

之后,图像形成部 P通过灰度补正后的印刷用图像数据进行印刷 (ACT14)。 - 中国語 特許翻訳例文集

その後、画像形成部Pは階調補正後の印刷用画像データを印刷する(ACT35)。

之后,图像形成部 P印刷灰度补正后的印刷用图像数据 (ACT35)。 - 中国語 特許翻訳例文集

【図12】(A)は第2の実施形態における階調特性データを示し、(B)は片面印刷用の階調補正データを示し、(C)は両面印刷用の階調補正データを示す。

图 12A示出第二实施方式中的灰度特性数据,图 12B示出单面印刷用的灰度补正数据,图 12C示出双面印刷用的灰度补正数据。 - 中国語 特許翻訳例文集

【図10】本発明の第2の実施形態の等化装置における、補正関数生成器の一例を示すブロック図。

图 10是表示第二实施方式的均衡装置中的、校正函数生成器的一个例子的框图。 - 中国語 特許翻訳例文集

S302〜S308の処理は、補正光学系117の初期位置への復帰動作の処理を示している。

步骤 S302~ S308的处理是校正光学系统 117向初始位置的恢复操作的处理。 - 中国語 特許翻訳例文集

すなわち、画素検出回路16は、A/D変換部13の出力から分岐させて、黒補正部14及び白補正部15を介さないで画素補正回路部17、170に出力するようにしたが、欠陥画素がON(飽和出力又はGND出力)/OFF(GND出力又は飽和出力)的な出力であることが明らかな場合は、黒補正部14及び白補正部15を介した白黒補正された出力であっても欠陥画素の閾値範囲を細かく設定することにより欠陥画素の判定に対応できるので画素検出回路16を画素補正回路部17、170に組み込んでも良い。

即,虽然像素检测电路 16使 A/D转换部 13的输出产生分支后,不通过黑修正部 14和白修正部 15输出到像素修正电路部 17、170,但是在缺陷像素是 ON(饱和输出或 GND输出 )的输出还是 OFF(GND输出或饱和输出 )的输出不明确的情况下,由于即使是通过了黑修正部 14和白修正部 15的被黑白修正后的输出,也可以通过精细地设定缺陷像素的阈值范围与缺陷像素的判定相对应,所以也可以将像素检测电路 16和像素修正电路部 17、170组合起来。 - 中国語 特許翻訳例文集

このデータベース130は、ユーザ端末T1およびT2の仕様における公知の異常の補正を記述する。

该数据库 130描述用户终端 T1和 T2规范中已知异常的修正。 - 中国語 特許翻訳例文集

また信号処理IC12には、A/D変換部13の出力から分岐させた光電変換信号が入力される欠陥画素検出回路部(画素検出回路)16、欠陥画素検出回路部16で検出された欠陥画素(特定された受光部の画素)に再補正処理を加える欠陥画素再補正回路部(画素補正回路部)17、欠陥画素のデータ補正に使用する欠陥画素の画素位置(特定された受光部の画素アドレス)データがあらかじめ格納された欠陥画素補正用記憶素子(再補正ROM)17a、及び信号処理IC12の動作を制御するCPU18が設けられている。

缺陷像素检测电路部 (像素检测电路 )16,从 A/D转换部 13的输出中分岔出的光电转换信号被输入该缺陷像素检测电路部; 缺陷像素再修正电路部 (像素修正电路部 )17,该缺陷像素再修正电路部对缺陷像素检测电路部 16检测出的缺陷像素 (被确定的受光部像素 )加以再修正处理; - 中国語 特許翻訳例文集

【図12】本発明の一実施の形態における折れ線近似した補正関数を用いてカメラのアイリス開放度を補正する例を示す説明図である。

图 12是指示通过利用对折线 (line plot)进行近似的校正函数来校正图 1所示的摄像机的光圈孔径的示例的曲线图; - 中国語 特許翻訳例文集

【図12】本発明の一実施の形態における折れ線近似した補正関数を用いてカメラのアイリス開放度を補正する例を示す説明図である。

图 12是指示通过利用近似折线图 (line plot)的校正函数来校正图 1所示的摄像机的光圈孔径的示例的曲线图; - 中国語 特許翻訳例文集

【図3】本発明の一実施の形態によるカメラ装置の補正係数の設定処理例を示すフローチャートである。

图 3是示出了根据本发明的实施例的设置摄像机设备的校正系数的处理的示例的流程图; - 中国語 特許翻訳例文集

続いて、合成対象画像選択範囲決定部171が、補正後の位置(補正位置)に基づいて、合成対象画像選択範囲を決定する(ステップS923)。

随后,合成目标图像选择范围确定部分 171基于该校正后的位置 (校正位置 )确定合成目标图像选择范围 (步骤 S923)。 - 中国語 特許翻訳例文集

続いて、合成対象画像選択範囲決定部171が、補正後の位置(補正位置)に基づいて、合成対象画像選択範囲を決定する(ステップS923)。

随后,合成目标图像选择范围确定部分 171基于校正之后的位置 (校正位置 )确定合成目标图像选择范围 (步骤 S923)。 - 中国語 特許翻訳例文集

また、補正制御部63は、T2/FEF判別結果がT2フレームであることを示さない場合は、保持していた誤差検出値をサンプリング誤差補正値の生成に用いず、例えば、破棄する。

另一方面,如果 T2/FEF判定结果不指示 T2帧,则校正控制部分 63不使用保留在其中的误差检测值来生成采样误差校正值,而是丢弃它们。 - 中国語 特許翻訳例文集

図3(a)に示した圧縮処理部3は、2値データ生成部31、可逆圧縮部32、補正処理部33及び非可逆圧縮部34に加えて、背景レイヤの濃度補正を行なう濃度補正処理部36及び37を備える。

图 3A所示的压缩处理部 3不仅包括二值数据生成部 31、可逆压缩部 32、修正处理部 33和不可逆压缩部 34,还包括进行背景层的浓度修正的浓度修正处理部 36和 37。 - 中国語 特許翻訳例文集

すなわち、誤差計算部208、209は、入力値補正部203、204による補正値の和に対する各画素毎の量子化値、又は補正値の割合を算出可能である複数の値を高次関数又は三角関数に代入することにより、量子化値を分配してもよい。

也就是说,误差计算部 208和 209可以通过将各像素的、相对于由输入值校正部 203和 204获得的校正值的总和的量化值,或者将可以被用来计算校正值的比率的多个值代入高维函数(high-dimensional function)或三角函数,来分配量化值。 - 中国語 特許翻訳例文集

なお、補正信号生成部111は、信号処理装置10の内部において自動的に補正信号を生成するものでもよく、また信号処理装置10の外部から受け取った任意の値に基づいて補正信号を生成するものでもよい。

校正信号生成单元 111可以在信号处理设备 10内自动生成校正信号,或者可以基于从信号处理设备 10外部接收的任何值来生成校正信号。 - 中国語 特許翻訳例文集

本発明は、CCD,CMOSセンサなどの固体撮像素子における欠陥画素を検出し補償する機能を有する画素欠陥補正装置、撮像装置、画素欠陥補正方法、およびプログラムに関するものである。

本发明涉及固态成像器件 (如 CCD或 CMOS传感器 )中具有检测和补偿缺陷像素的功能的像素缺陷校正器件、成像设备、像素缺陷校正方法和程序。 - 中国語 特許翻訳例文集

【図3】第一実施形態における、主走査方向の濃度ムラ補正の効果を考慮した濃度階調補正処理を示すフローチャートである。

图 3是示出根据第一实施例的、考虑主扫描方向上的浓度不均校正的影响的浓度级校正处理的流程图。 - 中国語 特許翻訳例文集

【図1】本発明の実施形態に係る画素欠陥検出補正装置を適用した撮像装置の構成例を示すブロック図である。

图 1是示出应用根据本发明的实施例的像素缺陷检测和校正设备的成像装置的配置的例子的方框图; - 中国語 特許翻訳例文集

【図10】機差補正係数βを算出する方法を説明するフローチャートである。

图 10是用于描述计算机械差异校正系数β的方法的流程图。 - 中国語 特許翻訳例文集

具体的には、合成対象画像選択範囲決定部171が、時間軸において、補正位置584よりも時間L22だけ前の範囲と、補正位置584よりも時間L23だけ後の範囲とにより構成される範囲L24を合成対象画像選択範囲585として決定する。

具体地说,合成目标图像选择范围确定部分 171确定时间轴上的一个范围 L24作为合成目标图像选择范围 585,该范围 L24包括领先校正位置 584时间 L22的范围和超过校正位置 584时间 L23的范围。 - 中国語 特許翻訳例文集

具体的には、合成対象画像選択範囲決定部171が、時間軸において、補正位置584よりも時間L22だけ前の範囲と、補正位置584よりも時間L23だけ後の範囲とにより構成される範囲L24を合成対象画像選択範囲585として決定する。

具体地,合成目标图像选择范围确定部分 171确定时间轴上包括领先校正位置 584时间 L22的范围和超过校正位置 584时间 L23的范围的范围 L24作为合成目标图像选择范围 585。 - 中国語 特許翻訳例文集

そして時間T8において、補正光学系117の初期位置復帰量STEP1が最小値(−SPEED_MIN)になった後、補正光学系117の初期位置復帰動作も完了となる。

在时间 T8,校正光学系统 117的初始位置恢复量 STEP1为最小值 -SPEED_MIN,从而平滑地完成校正光学系统 117的初始位置恢复操作。 - 中国語 特許翻訳例文集

逆光補正に用いる逆行補正曲線F1は、図8に示したように一部の階調範囲だけを上昇させる特殊な変換特性を有しており、入力画像に対して大きな変化を生じさせる。

在逆光修正中使用的逆光修正曲线 F1,如图 8所示,具有只使一部分的灰度范围上升的特殊转换特性,对输入图像产生大的变化。 - 中国語 特許翻訳例文集

2.第2の実施の形態(合成画像生成制御:被写体距離を算出してインパクト音検出位置を補正する例)

2.第二实施例 (合成图像生成控制:计算对象距离并校正碰撞声音检测位置的示例 ) - 中国語 特許翻訳例文集

【図10】本実施形態に係る欠陥検出補正回路の第2の構成例を示す図であって、異色隣接画素の平均値を、最大値、最小値を除いた6画素平均とする欠陥検出補正回路を示す図である。

图 10是示出根据本实施例的缺陷检测和校正电路的配置的第二例子的图,且也是示出将排除最大和最小值的六个像素的平均值设置为具有不同颜色的像素的平均值的缺陷检测和校正电路的图; - 中国語 特許翻訳例文集

別の実施形態では、補正シフタ142は、直交ミキサで導入された+φa位相不一致を補正する量−φaによって直交位相送信器LO信号75の位相をシフトするために、直交ミキサに加えられる。

在另一实施例中,将校正移位器 142加到正交混频器,以便将正交相位发射器 LO信号 75的相位移位量 ,其校正由正交混频器所引入的相位失配。 - 中国語 特許翻訳例文集

ステップS72において、現在受信中の信号がT2フレームであると判定された場合、処理は、ステップS73に進み、補正制御部62は、キャリア周波数補正部12に対して、保持されている検出値を用いて、補正を行わせる。

如果在步骤S72判定当前正接收的信号是T2帧,则处理前进到步骤S73,在该步骤校正控制部分 62控制载波频率校正部分 12使用所保留的检测值执行校正。 - 中国語 特許翻訳例文集

このように本実施形態では、画像データDを構成する画素のうち、色が暗部色域Jに属する画素だけが逆光補正曲線F1によって補正される。

这样,在本实施方式中,只对构成图像数据 D的像素中颜色属于暗部色域 J的像素,利用逆光修正曲线 F1进行修正。 - 中国語 特許翻訳例文集

【図1】本発明の第1実施形態に係る画素欠陥補正装置を適用した撮像装置の構成例を示すブロック図である。

图 1是示出应用了根据本发明第一实施例的像素缺陷校正器件的成像设备的配置示例的框图; - 中国語 特許翻訳例文集

本発明の実施の形態では、奥行値の補正の第3の態様として、図16(b)のように静止画の特定の領域の奥行値が一定値(K)になるように補正する。

在本发明的实施例中,作为深度值校正的第三模式,如图 16的部分 (b)中一样,静止图像的特定区域的深度值被校正为变成恒定值(K)。 - 中国語 特許翻訳例文集

【図5】本発明に係る固体撮像装置の第1実施の形態を示す、画素部における漏れ込み光用補正画素の要部の構成図である。

图 5是示出了本发明第一实施例固体摄像装置的像素部中漏光修正用像素的主要部分的结构图。 - 中国語 特許翻訳例文集

【図8】本発明に係る固体撮像装置の第2実施の形態を示す、画素部における漏れ込み光用補正画素の要部の構成図である。

图 8是示出了本发明第二实施例固体摄像装置的像素部中漏光修正用像素的主要部分的结构图。 - 中国語 特許翻訳例文集

【図9】本発明に係る固体撮像装置の第3実施の形態を示す、画素部における漏れ込み光用補正画素の要部の構成図である。

图 9是示出了本发明第三实施例固体摄像装置的像素部中漏光修正用像素的主要部分的结构图。 - 中国語 特許翻訳例文集

【図4】同実施形態にかかる像ぶれ補正装置の構成を示す平面図であって、図1の状態にカバープレートを設けた状態を示す。

图 4是示出图 1所示的图像抖动校正装置在盖板安装于其中时的结构的平面图; - 中国語 特許翻訳例文集

【図8】本発明の実施の形態における奥行値補正機構の第1の機能構成例を示す図である。

图 8是示出本发明实施例中的深度值校正机构的第一示例功能配置的示图。 - 中国語 特許翻訳例文集

【図11】本発明の実施の形態における奥行値補正機構の第2の機能構成例を示す図である。

图 11是示出本发明实施例中的深度值校正机构的第二示例功能配置的示图。 - 中国語 特許翻訳例文集

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