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「でんげんへんあつき」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 4



信号処理IC12には、受光部10r、10g、10bから出力された光電変換信号(光電変換出力値)が入力されるアナログ信号をA/D変換(アナログ・デジタル変換)してデジタル信号に変換するA/D変換部13、画素(受光部)毎の黒レベルのばらつきを低減する黒補正部14、黒レベル補正に使用する補正値があらかじめ格納された黒補正用記憶素子(黒補正ROM)14a、画素(受光部)毎の白レベルのばらつきを低減する白補正部15、白レベル補正に使用する補正値があらかじめ格納された白補正用記憶素子(白補正ROM)15aが設けられている。

A/D转换部 13,该 A/D转换部将被输入的从受光部 10r、10g、10b输出的光电转换信号 (光电转换输出值 )的模拟信号通过 A/D转换 (模拟数字转换 )转换成数字信号; 黑修正部 14,该黑修正部对每个像素 (受光部 )的黑电平的偏差进行降低; - 中国語 特許翻訳例文集

図10に示すように、補正用バイアス選択部170の比較器171にてAD変換用参照信号SLP_ADCと黒化現象検出期間K1クランプ電圧を比較し、その傾きを検出する。

如图 10中所示,校正偏置选择部件 170中的比较器 171把用于 AD转换的参照信号 SLP_ADC与针对黑化检测时间段 K1的钳制电压加以比较,以检测用于 AD转换的参照信号 SLP_ADC的斜率。 - 中国語 特許翻訳例文集

補正用バイアス選択部170内にて、AD変換用参照信号(SLP_ADC)を画素信号(SIG)ではなく、黒化現象検出期間K1クランプ電圧と比較する。

在校正偏置选择部件 170中,用于 AD转换的参照信号 (SLP_ADC)与针对黑化检测时间段 K1的钳制电压而不是与像素信号 (SIG)进行比较。 - 中国語 特許翻訳例文集

カプラ315における信号電力レベルが、カプラ315において期待されるレンジの上位20dBにあるとき、マイクロプロセッサ314は減衰器324を動作させ、RF検出器316及びA/D変換器320における信号レベルを20dB減少させる。

当耦合器 315处的信号功率水平处于在耦合器 315处所预期的范围的上限20dB时,微处理器 314使能衰减器 324以将 RF检测器 316和 A/D转换器 320处的信号水平减小 20dB。 - 中国語 特許翻訳例文集





   

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