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「ろしゅつほせい」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 110件
色補正部25は、色補正後のCMY信号を黒生成下地除去部26へ出力する。
颜色修正部 25将颜色修正后的 CMY信号向黑色生成基底除去部 26输出。
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すなわち、画素検出回路16は、A／D変換部13の出力から分岐させて、黒補正部14及び白補正部15を介さないで画素補正回路部17、170に出力するようにしたが、欠陥画素がON（飽和出力又はGND出力）／OFF（GND出力又は飽和出力）的な出力であることが明らかな場合は、黒補正部14及び白補正部15を介した白黒補正された出力であっても欠陥画素の閾値範囲を細かく設定することにより欠陥画素の判定に対応できるので画素検出回路16を画素補正回路部17、170に組み込んでも良い。
即，虽然像素检测电路 16使 A/D转换部 13的输出产生分支后，不通过黑修正部 14和白修正部 15输出到像素修正电路部 17、170，但是在缺陷像素是 ON(饱和输出或 GND输出 )的输出还是 OFF(GND输出或饱和输出 )的输出不明确的情况下，由于即使是通过了黑修正部 14和白修正部 15的被黑白修正后的输出，也可以通过精细地设定缺陷像素的阈值范围与缺陷像素的判定相对应，所以也可以将像素检测电路 16和像素修正电路部 17、170组合起来。 - 中国語 特許翻訳例文集
色補正部25は、次に、色補正後のCMY信号を黒色生成下色除去部26へ出力する。
色修正部 25接着向黑色生成底色除去部 26输出色修正后的 CMY信号。 - 中国語 特許翻訳例文集
【図9】本実施形態に係る図5の欠陥検出補正回路の欠陥検出補正処理のフローチャートを示す図である。
图 9是示出图 5所示的根据本实施例的缺陷检测和校正电路的缺陷检测和校正处理的流程图的图； - 中国語 特許翻訳例文集
図14は、第2の補正係数の算出動作を示すフローチャートである。
图 14是示出第二校正系数计算操作的流程图。 - 中国語 特許翻訳例文集
図22は、第2の補正係数の算出動作を示すフローチャートである。
图 22是示出第二校正系数计算操作的流程图。 - 中国語 特許翻訳例文集
【図2】第1のWB補正値算出処理を示すフローチャート。
图 2是示出用于计算第一 WB校正值的处理的流程图； - 中国語 特許翻訳例文集
【図5】第1実施形態に係る欠陥検出補正回路の構成例を示す図である。
图 5是示出根据第一实施例的缺陷检测和校正电路的配置示例的图； - 中国語 特許翻訳例文集
【図5】本実施形態に係る欠陥検出補正回路の構成例を示す図である。
图 5是示出根据本实施例的缺陷检测和校正电路的配置的例子的图； - 中国語 特許翻訳例文集
【図4】第1の実施形態における水中時のWB補正値算出処理を示すフローチャート。
图 4是示出第一实施例中用于计算水下 WB校正值的处理的流程图； - 中国語 特許翻訳例文集
【図9】第2の実施形態における水中時のWB補正値算出処理を示すフローチャート。
图 9是示出第二实施例中用于计算水下 WB校正值的处理的流程图； - 中国語 特許翻訳例文集
【図10】機差補正係数βを算出する方法を説明するフローチャートである。
图 10是用于描述计算机械差异校正系数β的方法的流程图。 - 中国語 特許翻訳例文集
ただし、AND回路44（441）から出力される所定の信号（以下、和のCP検出信号という）の出力先は、補正値算出部36ではなく、セレクタ46となる。
应当注意，从 AND电路 44(441)输出的预定信号 (以下，称为和 CP检测信号 )不是被引向校正值计算块 36而是被引向选择器 46。 - 中国語 特許翻訳例文集
また信号処理IC12には、A／D変換部13の出力から分岐させた光電変換信号が入力される欠陥画素検出回路部(画素検出回路)16、欠陥画素検出回路部16で検出された欠陥画素（特定された受光部の画素）に再補正処理を加える欠陥画素再補正回路部（画素補正回路部)17、欠陥画素のデータ補正に使用する欠陥画素の画素位置（特定された受光部の画素アドレス）データがあらかじめ格納された欠陥画素補正用記憶素子（再補正ROM）17a、及び信号処理IC12の動作を制御するCPU18が設けられている。
缺陷像素检测电路部 (像素检测电路 )16，从 A/D转换部 13的输出中分岔出的光电转换信号被输入该缺陷像素检测电路部； 缺陷像素再修正电路部 (像素修正电路部 )17，该缺陷像素再修正电路部对缺陷像素检测电路部 16检测出的缺陷像素 (被确定的受光部像素 )加以再修正处理； - 中国語 特許翻訳例文集
領域分離処理部24は、更に、入力階調補正部23から入力されたRGB信号を、色補正部25及び圧縮処理部3へ出力する。
区域分离处理部 24进而向色修正部 25以及压缩处理部 3输出从输入色调修正部 23输入的 RGB信号。 - 中国語 特許翻訳例文集
信号処理IC12には、受光部10r、10g、10bから出力された光電変換信号（光電変換出力値）が入力されるアナログ信号をA／D変換（アナログ・デジタル変換）してデジタル信号に変換するA／D変換部13、画素（受光部）毎の黒レベルのばらつきを低減する黒補正部14、黒レベル補正に使用する補正値があらかじめ格納された黒補正用記憶素子（黒補正ROM）14a、画素（受光部）毎の白レベルのばらつきを低減する白補正部15、白レベル補正に使用する補正値があらかじめ格納された白補正用記憶素子（白補正ROM）15aが設けられている。
A/D转换部 13，该 A/D转换部将被输入的从受光部 10r、10g、10b输出的光电转换信号 (光电转换输出值 )的模拟信号通过 A/D转换 (模拟数字转换 )转换成数字信号； 黑修正部 14，该黑修正部对每个像素 (受光部 )的黑电平的偏差进行降低； - 中国語 特許翻訳例文集
順を追うと、色分解処理への入力信号値が150、色分解処理からの出力値(＝階調補正処理への入力値)が110、階調補正の出力値は1520である。
具体地，150的信号值被输入到分色处理中，110的值 (要被输入到灰度校正处理中的值 )作为分色处理的结果被输出，而 1520的值作为灰度校正处理的结果被输出。 - 中国語 特許翻訳例文集
そしてプロットされた各明度値に対応する階調補正後の出力値を前述の相関表から読み、同一の明度に対応する階調補正後の出力値と色分解処理から出力される信号値（横軸704）とを対応付けて変換表を作成する。
然后产生转换表，使得在每个亮度值上，经过了灰度校正处理的输出值与作为分色处理的结果输出的信号值 (横轴 704)相关。 - 中国語 特許翻訳例文集
測光・測距部33L、33Rは、被写体の輝度、および被写体までの距離を検出し、この検出結果から露出量、ホワイトバランス補正量、および焦点距離を決定する。
聚焦检测 /测光单元 33L和 33R检测被摄物的亮度和到被摄物的距离，以根据所检测的亮度和距离来确定曝光量、白平衡修正量、和焦距。 - 中国語 特許翻訳例文集
これにより、固定の黒化現象検出用クランプ電圧設定値での黒化現象補正範囲が拡大する。
这拓宽了固定的黑化检测钳制电压设置值处的可校正黑化的范围。 - 中国語 特許翻訳例文集
また、シェーディング補正をする際は、読取ローラ43が回転駆動して、白色基準面をカバー体50の開口溝から露出させる。
另外，在进行阴影校正时，读取辊 43旋转驱动，使白色基准面从盖体 50的开口槽露出。 - 中国語 特許翻訳例文集
本発明は、CCD，CMOSセンサなどの固体撮像素子における欠陥画素を検出し補償する機能を有する画素欠陥検出補正装置、撮像装置、画素欠陥検出補正方法、およびプログラムに関するものである。
本发明涉及具有检测和补偿在诸如 CCD或 CMOS传感器的固态成像设备中的缺陷(defect)像素的功能的像素缺陷检测和校正设备、成像装置、像素缺陷检测和校正方法和程序。 - 中国語 特許翻訳例文集
図5において、170は欠陥画素検出回路部16で検出された欠陥画素に対して再補正処理を加える欠陥画素再補正回路部、170aは欠陥画素のデータ補正に使用する欠陥画素の画素位置（特定された受光部の画素アドレス）データがあらかじめ格納された欠陥画素補正用記憶素子（再補正ROM）である。
图5中，170是对缺陷像素检测电路部 16所检测出的缺陷像素加以再修正处理的缺陷像素再修正电路部，170a是预先存储有缺陷像素数据修正所使用的缺陷像素的像素位置 (被确定的受光部的像素地址 )数据的缺陷像素修正用存储元件 (再修正 ROM)。 - 中国語 特許翻訳例文集
階調補正後の出力値の値域（本例では0〜16320）の方が、入力値が取り得る範囲（純黒調では0〜128）よりも広いために、色分解処理の出力データの階調が、出力画像の階調を決める。
由于在灰度校正处理之后获得的输出值的范围 (在本实施例中是 0到 16320)比输入值可能处于的范围 (在中性色调中是 0到 128)更大，因此使用作为分色处理结果获得的输出数据的灰度来确定输出图像的灰度。 - 中国語 特許翻訳例文集
図8は、この発明の実施の形態2による画像読取装置の欠陥画素検出回路部16で検出された欠陥画素に対して再補正処理を加える欠陥画素再補正回路部170を説明するブロック図である。
图 8是对缺陷像素再修正电路部 170进行说明的框图，该缺陷像素再修正电路部170对本发明的实施方式2所涉及的图像读取装置的缺陷像素检测电路部16所检测出的缺陷像素加以再修正处理。 - 中国語 特許翻訳例文集
【図18】本発明の第2実施形態に係る欠陥検出補正回路の構成例を示す図である。
图 18是示出根据本发明第二实施例的缺陷检测和校正电路的配置示例的图； - 中国語 特許翻訳例文集
【図10】本実施形態に係る欠陥検出補正回路の第2の構成例を示す図であって、異色隣接画素の平均値を、最大値、最小値を除いた6画素平均とする欠陥検出補正回路を示す図である。
图 10是示出根据本实施例的缺陷检测和校正电路的配置的第二例子的图，且也是示出将排除最大和最小值的六个像素的平均值设置为具有不同颜色的像素的平均值的缺陷检测和校正电路的图； - 中国語 特許翻訳例文集
実施の形態1では、欠陥画素検出回路部16で検出された欠陥画素を欠陥画素再補正回路部17で再補正処理を行った例を示したが、実施の形態2では、さらに高精度で画像処理を行う方法について図5を用いて説明する。
实施方式 1表示了通过缺陷像素再修正电路部 17对缺陷像素检测电路部 16所检测出的缺陷像素进行了再修正处理的例子，在实施方式 2中，将利用图 5就以更高精度进行图像处理的方法进行说明。 - 中国語 特許翻訳例文集
【図1】本発明の実施形態に係る画素欠陥検出補正装置を適用した撮像装置の構成例を示すブロック図である。
图 1是示出应用根据本发明的实施例的像素缺陷检测和校正设备的成像装置的配置的例子的方框图； - 中国語 特許翻訳例文集
【図10】図10は、ある程度の大きさで補正係数を算出する領域（ブロック）の一例を示した図である。
图 10是示出了用于计算校正系数的具有一定程度的尺寸的区域 (块 )的示例的图； - 中国語 特許翻訳例文集
スイッチSW0〜SWNは、補正用バイアス選択部170による黒化現象検出用クランプ電圧設定値SCVLに応じてオン、オフ制御される。
根据校正偏置选择部件 170所设置的黑化检测钳制电压设置值 SCVL控制开关SW0～ SWN的接通 /切断。 - 中国語 特許翻訳例文集
また、同様に色分解処理への入力信号値Cpに対して、階調補正の出力信号値が2080となる。
注意，类似地，当分色处理的输入信号值是 Cp时，作为灰度校正处理的结果输出的信号值是 2080。 - 中国語 特許翻訳例文集
【図11】図10の補正用バイアス選択部における黒化現象検出期間の動作を説明するためのタイミングチャートを示す図である。
图 11说明了用于解释黑化检测时间段中图 10中校正偏置选择部件操作的时序图； - 中国語 特許翻訳例文集
図11は、図10の補正用バイアス選択部における黒化現象検出期間の動作を説明するためのタイミングチャートを示す図である。
图 11说明了用于解释黑化检测时间段中图 10中校正偏置选择部件操作的时序图。 - 中国語 特許翻訳例文集
【図3】図2の撮像画像補正処理におけるゲイン量算出処理に係る動作の一例を示すフローチャートである。
图 3是示出图 2的摄像图像补正处理中的增益量算出处理的动作一例的流程图。 - 中国語 特許翻訳例文集
推定モードでは、第2補正回路44は、直交位相Rx成分104を、第2補正回路44がADC43から受信したディジタル化および濾波された直交位相信号88と実質的に同じ形態で出力する。
在估计模式中，第二校正电路 44以与第二校正电路 44从 ADC 43接收的经数字化及滤波的正交相位信号 88大体上相同的形式来输出 Q相 Rx分量 104。 - 中国語 特許翻訳例文集
一方、セレクタ46は、CPグループ選択信号として、“1”が入力され設定された場合には、AND回路442から差のCP検出信号が入力されたときだけ、イネーブル信号を補正値算出部36に供給する。
另一方面，如果“1”被输入并被建立为 CP群组选择信号，则选择器 46只在来自 AND电路 442的差 CP检测信号输入之后，将使能信号馈送给校正值计算块 36。 - 中国語 特許翻訳例文集
例えば、セレクタ46は、CPグループ選択信号として、“0”が入力され設定された場合には、AND回路441から和のCP検出信号が入力されたときだけ、イネーブル信号を補正値算出部36に供給する。
例如，如果“0”被输入并被建立为 CP群组选择信号，则选择器 46只在来自 AND电路 441的和 CP检测信号输入之后，将使能信号馈送给校正值计算块 36。 - 中国語 特許翻訳例文集
例えば、セレクタ46は、CPグループ選択信号として、“2”が入力され設定された場合には、OR回路47から全CP検出信号が入力されたとき、イネーブル信号を補正値算出部36に供給する。
例如，如果“2”被输入并被建立为 CP群组选择信号并且如果全部 CP检测信号从OR电路 47输入，则选择器 46将使能信号提供给校正值计算块 36。 - 中国語 特許翻訳例文集
図10に示すように、補正用バイアス選択部170の比較器171にてAD変換用参照信号SLP＿ADCと黒化現象検出期間K1クランプ電圧を比較し、その傾きを検出する。
如图 10中所示，校正偏置选择部件 170中的比较器 171把用于 AD转换的参照信号 SLP_ADC与针对黑化检测时间段 K1的钳制电压加以比较，以检测用于 AD转换的参照信号 SLP_ADC的斜率。 - 中国語 特許翻訳例文集
そして、所望の閾値範囲に満たない光電変換出力値に対応する画素位置（アドレス）を含むデータを欠陥画素再補正回路部17の再補正ROM17aに保存する。
然后，将包含不满足期望的阈值范围的光电转换输出值所对应的像素位置 (地址 )的数据保存到缺陷像素再修正电路部17的再修正 ROM17a中。 - 中国語 特許翻訳例文集
欠陥画素再補正回路部17は、特定された画素位置データをCPUの指示により再補正ROM17aから読み出された位置の画素信号を生成してから出力する。
缺陷像素再修正电路部 17通过 CPU的指示将被确定的像素位置数据从再修正ROM17a读出，生成该位置的像素信号后将其输出。 - 中国語 特許翻訳例文集
次に、Qの逆行列が、送信器12の利得欠陥および位相欠陥を補正するために第1補正回路22によって使用される利得係数に帰するために算出される。
接着计算 Q的逆矩阵以达到由第一校正电路 22用以校正发射器 12的增益减损及相位减损的增益系数。 - 中国語 特許翻訳例文集
次に、Qの逆行列が、受信器13の利得欠陥および位相欠陥を補正するために第2補正回路44によって使用される利得係数に帰するために算出される。
接着计算 Q的逆矩阵以达到由第二校正电路 44用以校正接收器 13的增益减损及相位减损的增益系数。 - 中国語 特許翻訳例文集
例えば、シェーディング補正を行う場合、データ処理部130は、A／D変換部110から出力された画像データ、白基準データ、黒基準データを、それぞれ、後述する記憶部140に記憶し、対応する画素ごとに、所定の補正式に従ったシェーディング補正を行う。
例如，在进行阴影补正的情况下，数据处理部 130将从 A/D变换部 110输出的图像数据、白基准数据、黑基准数据分别存储到后述的存储部 140内，并按照对应的每一像素来进行基于规定补正式的阴影补正。 - 中国語 特許翻訳例文集
すなわち、CPUは、シェーディング補正処理のために算出された平均値avgR、avgG、及びavgBを、オートホワイトバランス補正処理のための色度分布情報として流用する。
换句话说，CPU利用用于明暗校正处理所计算的平均值 avgR、avgG及 avgB，作为自动白平衡校正处理的色度分布信息。 - 中国語 特許翻訳例文集
更に、領域分離処理部24は、入力階調補正部23から入力されたRGB信号を、そのまま後段の色補正部25及び圧縮処理部3へ出力する。
进一步，区域分离处理部 24将从输入灰度等级修正部 23输入的 RGB信号原样不变地向后段的颜色修正部 25和压缩处理部 3输出。 - 中国語 特許翻訳例文集
本発明は、CCD，CMOSセンサなどの固体撮像素子における欠陥画素を検出し補償する機能を有する画素欠陥補正装置、撮像装置、画素欠陥補正方法、およびプログラムに関するものである。
本发明涉及固态成像器件 (如 CCD或 CMOS传感器 )中具有检测和补偿缺陷像素的功能的像素缺陷校正器件、成像设备、像素缺陷校正方法和程序。 - 中国語 特許翻訳例文集
白補正部15から出力された3系列のRGB画像信号は、欠陥画素再補正回路部170の欠陥画素演算回路で再補正ROM170aの欠陥画素位置データにより欠陥画素データに隣接又は周辺に位置する画素位置データを欠陥画素演算回路で暫定推定手段1及び暫定推定手段2を用いて演算処理し、1ラインの順次出力信号（SIG）として3系列のRGB画像信号をシステム本体などに送出する。
从白修正部 15输出的 RGB三个系列的图像信号通过缺陷像素再修正电路部 170的缺陷像素运算电路，根据再修正 ROM170a的缺陷像素位置数据，对位于缺陷像素数据相邻或周围位置的像素位置数据，利用暂定推算单元 1和暂定推算单元 2进行运算处理，将三个系列的 RGB图像信号作为一列的逐列输出信号 (SIG)输出到系统主体等。 - 中国語 特許翻訳例文集
こうして作成された図3の階調補正テーブルを用いると、図4に示す純黒調の色分解テーブルの色分解処理の出力信号値として、Y成分は0〜128までの129階調を使用できる。
当使用这样产生并如图 3所示的灰度校正表时，Y分量可使用 129种灰度级别即 0到 128的灰度级别，用于作为使用如图 4所示的中性色调的分色表进行分色处理的结果而获得的输出信号值。 - 中国語 特許翻訳例文集
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