「アナログ比較器」に関連した中国語例文の一覧 -中国語例文検索

コンパレータの非反転入力端子には、不図示のデジタル・アナログ（DA）変換器で設定された低電圧VDAC415と比較される。

通过数字模拟 (DA)转换器 (未示出 )确定的低电压 VDAC 415被施加到比较器 412的非反相输入端子。 - 中国語 特許翻訳例文集

各カラム処理回路（ADC）151において、垂直信号線116に読み出されたアナログ画素信号SIGが列毎に配置された比較器152で参照信号SLPADCと比較される。

在每个列处理电路 (ADC)151中，针对每列而布置的比较器 152把读取至垂直信号线 116的模拟像素信号 SIG与参照信号 SLP_ADC加以比较。 - 中国語 特許翻訳例文集

各カラム処理回路（ADC）61において、垂直信号線10に読み出されたアナログ信号（電位Vsl）が列毎に配置された比較器61−1で階段状に変化する参照信号RAMP（Vslop）と比較される。

在每个列处理电路 (ADC)61，读出到垂直信号线 10的模拟信号 (电势 Vs1)在布置在列中的比较器 61-1与逐步变化的基准信号 RAMP(Vslop)相比较。 - 中国語 特許翻訳例文集

各カラム処理回路（ADC）161において、垂直信号線116に読み出されたアナログ信号電位VSLが列毎に配置された比較器162で参照信号RAMPと比較される。

在每个列处理电路 (ADC)161中，读出到垂直信号线 116的模拟信号电势 VSL在布置在列中的比较器 162处与基准信号 RAMP相比较。 - 中国語 特許翻訳例文集

列並列処理部160の比較器162には、アナログ読み出しおよびAD変換期間中、サンプルホールド回路200の内部容量であるキャパシタC201にホールドされた電圧がバイアス電圧VBIAS13として供給される。

在模拟信号被读出及 A/D转换的时间段期间，将保持在作为采样 /保持电路 200的内部电容的电容器 C201中的电压作为偏置电压 VBIAS13供给至列并行处理部分 160的比较器 162。 - 中国語 特許翻訳例文集

比較器162は、アナログ信号読み出しおよびAD変換期間中にノイズ発生源である外部ラインからサンプルホールド回路200により電気的に切り離される。

在模拟信号被读出并 A/D转换时，由采样 /保持电路 200将比较器 162与作为噪声源的外部线电隔离。 - 中国語 特許翻訳例文集

このとき、比較器300は、アナログ信号読み出しおよびAD変換期間中にノイズ発生源である外部ラインからサンプルホールド回路200により電気的に切り離されることから、外部ノイズのADCへの回り込みが抑制される。

由于在模拟信号被读出及 A/D转换时，通过采样 /保持电路 200将比较器 300与作为噪声源的外部线电隔离，因此防止外部噪声进入 ADC。 - 中国語 特許翻訳例文集

各ADC151は、DAC160により生成される参照信号を階段状に変化させたランプ波形である参照信号SLCADCと、行線毎に画素から垂直信号線を経由し得られるアナログ画素信号SIGと、を比較する比較器（コンパレータ）152を有する。

每个 ADC 151具有比较器 152，比较器 152把通过逐步改变 DAC 160生成的参照信号所获得的拥有斜坡波形的参照信号 SLP_ADC与经由垂直信号线 116从每行像素所获得的模拟像素信号 SIG加以比较。 - 中国語 特許翻訳例文集

各カラム処理回路（ADC）61は、DAC7により生成される参照信号を階段状に変化させたランプ波形である参照信号RAMP（Vslop）と、行線毎に画素から垂直信号線を経由し得られるアナログ信号Vslとを比較する比較器61−1を有する。

每个列处理电路 (ADC)61 包括比较器 61-1，比较器 61-1 比较基准信号RAMP(Vslop)和经由垂直信号线从每个行线上的相应像素获得的模拟信号 Vs1，其中，该基准信号 RAMP是通过改变由 DAC 7逐步生成的基准信号而获得的斜坡波形。 - 中国語 特許翻訳例文集

各ADC161は、DAC170により生成される参照信号を階段状に変化させたランプ波形である参照信号RAMP（Vslop）と、行線毎に画素から垂直信号線を経由し得られるアナログ信号VSLとを比較する機能部としての比較器162を有する。

ADC 161的每个包括作为功能部分的比较器 162，比较器 162用来比较作为通过逐步改变由 DAC 170生成的基准信号而获得的斜坡波形的基准信号 RAMP(Vslop)、与经由垂直信号线从各个行线上的相应像素获得的模拟信号 VSL。 - 中国語 特許翻訳例文集

ADC群150においては、垂直信号線116に読み出されたアナログ画素信号SIGは列毎（カラム毎）に配置された比較器152で参照信号SLCADC（ある傾きを持った線形に変化するスロープ波形であるランプ信号RAMP）と比較される。

在列处理电路组 150中，读取至垂直信号线 116的模拟像素信号 SIG由针对每列所布置的比较器 152与参照信号 SLP_ADC(作为按给定倾斜度线性变化的斜波形的斜坡信号 RAMP)进行比较。 - 中国語 特許翻訳例文集

アナログ画素信号SIGと参照信号SLCADCが交わったとき、比較器152の出力が反転し、カウンタラッチ153の入力クロックを停止し、または、入力を停止していたクロックをカウンタラッチ153に入力し、AD変換を完了させる。

当模拟像素信号 SIG与参照信号 SLP_ADC相交时，比较器 152的输出被反转，以停止计数器锁存器 153的输入时钟，或者把其输入已经被停止的时钟输入到计数器锁存器153，从而完成 AD转换。 - 中国語 特許翻訳例文集

リーキーバケツ平均化フィルタ1512の出力は、信号処理回路1516へ供給される。 信号処理回路1516は、リーキーバケツ平均化フィルタの出力1502と、閾値1522との比較によって、リーキーバケツフィルタのアナログ出力を、2値フラグ値に変換し、出力1518で出力する。

漏桶滤波器 1512的输出馈送到信号处理电路 1516，信号处理电路 1516通过将漏桶滤波器 1520的输出与阈值 1522相比较来将漏桶滤波器的模拟输出转换成输出 1518处的二进制标志值。 - 中国語 特許翻訳例文集

後述する比較例では、ある時間に入るクロック数をカウントして画素信号をデジタル変換するCMOSセンサにおいて、非常に強力な過大光が入射した場合、リセット信号が下降しない様に垂直信号線の電位をアナログ的に制御する方法で画素信号をAD変換する前に信号制御を行っている。

在后述的比较例中，在将进入到某时间的时钟数进行计数来将像素信号进行数字变换的 CMOS传感器中，在入射了极强光的情况下，在通过将垂直信号线的电位以复位信号不会降低的方式进行模拟控制的方法中，在对像素信号进行模数变换之前进行信号控制。 - 中国語 特許翻訳例文集