「メモリ試験」に関連した中国語例文の一覧 -中国語例文検索

システムはさらに、メモリユニット及びメモリユニットに取り付けられたRFリーダーを有する携帯型試験装置を備える。

该系统还包括便携式测试设备，该便携式测试设备具有存储器单元和附连于存储器单元的 RF读取器。 - 中国語 特許翻訳例文集

方法は、メモリチップとの電気的接続を形成するために、メモリユニット及びメモリユニットに取り付けられたRFリーダーを有する携帯型試験装置を接続する工程を含む。

该方法包括连接便携式测试设备以形成与存储器芯片的电连接，该便携式测试设备具有存储器单元和附连于存储器单元的 RF读取器。 - 中国語 特許翻訳例文集

方法はさらに、トランシーバ回路との電気的接続を形成するために、メモリユニット及びメモリユニットに取り付けられたRFリーダーを有する携帯型試験装置を接続する工程を含む。

该方法还包括连接便携式测试设备以形成与收发机电路的电连接，该便携式测试设备具有存储器单元和附连于存储器单元的 RF读取器。 - 中国語 特許翻訳例文集

システムは、メモリユニット及びメモリユニットに取り付けられたRFリーダーを有し、トランシーバ回路とメモリユニットの間に電気的接続を形成するためにトランシーバソケットと嵌合するように構成された、携帯型試験装置も備える。

该系统还包括便携式测试设备，该便携式测试设备具有存储器单元和附连于存储器单元的 RF读取器并被配置成与收发机槽口接合以形成收发机电路和存储器单元之间的电连接。 - 中国語 特許翻訳例文集

【図4A】500kHz間隔の8トーン試験信号を使用した、メモリレスLUTのPDの実施例による線形化前後の代表的な線形化結果を示す図表である。

图 4A是示出了表示利用使用具有 500kHz间隔的八音测试信号的无记忆LUT PD的实施方式进行线性化之前以及之后的线性化结果的图示。 - 中国語 特許翻訳例文集

【図4D】500kHz間隔の8トーン試験信号を使用した、メモリ多項式PDによる線形化前後の代表的な線形化結果を示す図表である。

图 4D是示出了表示利用使用具有 500kHz间隔的八音测试信号的记忆多项式 PD进行线性化之前以及之后的线性化结果的图示。 - 中国語 特許翻訳例文集

携帯型試験装置600がトランシーバ10とインターフェースされると、(上述したようにトランシーバ回路90，メモリユニット92及び／またはデジタル診断ユニット93に格納することができる)トランシーバ情報及び／または、メモリユニット426に格納されているような、エレクトロニクス装置情報(例えばポート識別子情報)がメモリユニット610に通信される。

当便携式测试设备 600与收发机 10接口时，收发机信息 (如前所述可存储在收发机电路 90、存储器单元 92和 /或数字诊断单元 93的信息 )和 /或 (例如存储在存储器单元 426中的 )电子设备信息 (例如端口标识信息 )被传送至存储器单元 610。 - 中国語 特許翻訳例文集

また、テストコントローラ22のCPU34は、通信バッファ42が滞留していることを示す使用状態パケットを受け取った場合、受け取った使用状態パケットを順次に当該試験装置10の電源をオフとしても記憶内容が失われないメモリ36に保存する。

另外，测试控制器 22的 CPU34，在接收到表示通信缓冲器 42滞留这一情况的使用状态数据包的情况下，依次将所接收的使用状态数据包保存在即使关闭该测试装置 10的电源也不会丢失存储内容的存储器 36中。 - 中国語 特許翻訳例文集