「ランプ波」に関連した中国語例文の一覧 -中国語例文検索

ランプ発生器203、204、210及び211は、非変調入力基準信号の周波数と同じ周波数を持つランプ信号を生成する。

斜坡产生器 203、204、210和 211产生与未调制输入参考时钟信号相同频率的斜坡信号。 - 中国語 特許翻訳例文集

ランプ発生器210、211は、非変調基準入力クロックと同じ周波数を発生する。

斜坡产生器 210和 211产生与未调制参考输入时钟相同的频率。 - 中国語 特許翻訳例文集

位相周波数比較器208の出力は、RCネットワークによりフィルタされ、ランプ発生器203、204に入力される制御電圧Vctrlとなる。

相位 -频率检测器 208的输出被 RC网络滤波，以产生被输入到斜坡产生器 203和 204的控制电压 Vctrl。 - 中国語 特許翻訳例文集

傾きの調整は、非変調基準クロック信号と比較した場合の周期的ランプ信号の周波数に応じて行われる。

所述斜率的调整取决于在与未调制参考时钟信号进行比较时周期斜坡信号的频率。 - 中国語 特許翻訳例文集

各アンテナに対応する送信基準信号は、周波数において異なる位相ランプを有する。

对应于每一天线的所发射参考信号将在频率方面具有不同相位斜坡。 - 中国語 特許翻訳例文集

各ADC151は、ランプ波形のある参照信号SLCADCとカウンタ値が一対一の対応を取りながら変化することで垂直信号線116の電位（アナログ信号）Vslをデジタル信号に変換する。

随着带有斜坡波形的参照信号 SLP_ADC与计数值以一一对应关系变化，每个 ADC 151把垂直信号线 116的电势 (模拟信号 )Vs1转换为数字信号。 - 中国語 特許翻訳例文集

DAC160は、DAC制御部の制御の下、ある傾きを持った線形に変化するスロープ波形である参照信号（ランプ信号）を生成し、参照信号SLCADCをカラム処理回路群150に供給する。

DAC 160在 DAC控制部件的控制下，使用按给定倾斜度线性变化的斜波形，生成参照信号 (斜坡信号 )，并且把参照信号 SLP_ADC供给至列处理电路组 150。 - 中国語 特許翻訳例文集

所定電圧Vxは、ランプ信号と所定の電圧とが交差する点が、非変調基準信号の周波数に近く（又は同一に）なる出力周波数となるような値に設定される。

预定电压 Vx被设置为一值，以使得斜坡信号和预定电压的相交产生与未调制参考信号频率接近 (或相同 )的输出频率。 - 中国語 特許翻訳例文集

ランプ信号の周波数が非変調入力基準信号の周波数と一致せず、マスターセル201がロックされていない状態である場合、ブロック804が繰り返される。

如果主单元 201因为斜坡信号的频率与未调制输入参考信号的频率不同而未被锁定，则重复框 804。 - 中国語 特許翻訳例文集

DAC170は、タイミング制御回路140のDAC制御機能部の制御の下、ある傾きを持った線形に変化するスロープ波形である参照信号（ランプ信号）を生成し、参照信号RAMPを列並列処理部160に供給する。

DAC 170生成为倾斜波形的基准信号 RAMP(斜坡信号 )，该倾斜波形在定时控制电路 140的 DAC控制功能部分实施的控制下、以一定斜率线性地变化，而 DAC向列并行处理部分 160输出基准信号 RAMP。 - 中国語 特許翻訳例文集

この周波数の変化は、ランダム信号電圧レベルが変化する前の交差点と比較して、ランプ信号（304及び305）がランダムノイズ信号302と異なる点で交差することによって生じる。

在频率上的这种改变是因为斜坡信号 (304和 305)与随机噪声信号 302在与随机噪声信号电压电平改变之前的相交点不同的点处相交。 - 中国語 特許翻訳例文集

遅延は周波数領域中の位相ランプによる乗算に対応するので、CDD後の実効チャネル実現はH1＋ejfDH2に比例し、ただし、Dは、第2のアンテナ上にもたらされる遅延に比例する。

因为延迟在频域中对应于与相位斜坡的乘法，所以在CDD之后的有效信道实现与 H1+ejfD H2成比例，其中 D与在第二天线上所引入的延迟成比例。 - 中国語 特許翻訳例文集

各ADC151は、DAC160により生成される参照信号を階段状に変化させたランプ波形である参照信号SLCADCと、行線毎に画素から垂直信号線を経由し得られるアナログ画素信号SIGと、を比較する比較器（コンパレータ）152を有する。

每个 ADC 151具有比较器 152，比较器 152把通过逐步改变 DAC 160生成的参照信号所获得的拥有斜坡波形的参照信号 SLP_ADC与经由垂直信号线 116从每行像素所获得的模拟像素信号 SIG加以比较。 - 中国語 特許翻訳例文集

ADC群150においては、垂直信号線116に読み出されたアナログ画素信号SIGは列毎（カラム毎）に配置された比較器152で参照信号SLCADC（ある傾きを持った線形に変化するスロープ波形であるランプ信号RAMP）と比較される。

在列处理电路组 150中，读取至垂直信号线 116的模拟像素信号 SIG由针对每列所布置的比较器 152与参照信号 SLP_ADC(作为按给定倾斜度线性变化的斜波形的斜坡信号 RAMP)进行比较。 - 中国語 特許翻訳例文集

各カラム処理回路（ADC）61は、DAC7により生成される参照信号を階段状に変化させたランプ波形である参照信号RAMP（Vslop）と、行線毎に画素から垂直信号線を経由し得られるアナログ信号Vslとを比較する比較器61−1を有する。

每个列处理电路 (ADC)61 包括比较器 61-1，比较器 61-1 比较基准信号RAMP(Vslop)和经由垂直信号线从每个行线上的相应像素获得的模拟信号 Vs1，其中，该基准信号 RAMP是通过改变由 DAC 7逐步生成的基准信号而获得的斜坡波形。 - 中国語 特許翻訳例文集

各ADC161は、DAC170により生成される参照信号を階段状に変化させたランプ波形である参照信号RAMP（Vslop）と、行線毎に画素から垂直信号線を経由し得られるアナログ信号VSLとを比較する機能部としての比較器162を有する。

ADC 161的每个包括作为功能部分的比较器 162，比较器 162用来比较作为通过逐步改变由 DAC 170生成的基准信号而获得的斜坡波形的基准信号 RAMP(Vslop)、与经由垂直信号线从各个行线上的相应像素获得的模拟信号 VSL。 - 中国語 特許翻訳例文集

また、本実施形態の固体撮像素子100は、黒化検出用クランプ電圧を、AD変換用参照信号の傾きを決める量子化ビット数、アナログゲイン、カラムAD回路カウンタ動作部の周波数などに連動して変化させる。

根据实施例的固态成像装置 100与确定用于 AD转换的参照信号的斜率的量化比特的数目、模拟增益、列 AD电路中计数器部分的频率等相关联地改变黑化检测钳制电压。 - 中国語 特許翻訳例文集