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「含炭素けつ岩」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 2件
ドライブモードでは、送信バッファ506はTESTER_IOを介して試験システム(試験装置)から信号を受信し、それをバッファリングし、(‘378号出願でDUT_IOドライバと称された)すべてのDUTのI/Oドライバに分配する。入力の終結はCHIO_VTERM_ENAによって制御することでオン又はオフすることができる。終端処理が有効である場合には、受信バッファ508がオンとなり、受信バッファの電源が終端電圧であるCHIO−VTとなる。終端処理が無効である場合には、受信バッファ508がオフとなる。
在驱动模式中,发送缓冲器 506经由 TESTER_IO从测试系统 (测试器 )接收信号,对其进行缓冲,并且将其分发到所有的 DUT I/O驱动器 (在’378申请中被称作 DUT_IO驱动器 )。 输入端接可以是导通或关断,如通过 CHIO_VTERM_ENA来控制的。 - 中国語 特許翻訳例文集
理論上は、単一チャネルのI/Oブロック702をより多くのDUTのI/Oブロック704、706、708、710に連結することで、信号のファンアウト/ファンインを任意の数の信号経路分(例えば4つ、若しくは8つ、若しくはその他任意の数の信号経路)のみ増加させ、‘378号出願に記載された並列試験回路を拡張することができる。しかし実際には、単一の並列試験回路700のファンアウト/ファンインを増加させると、信号精度とDUTの分離を維持することがより困難となる。例えば、より多くのDUTのI/Oブロック704、706、708、710を単一のチャネルI/Oブロック702に連結すると、類似した信号伝播特性同士を異なる信号ルート間で維持しながら、DUTのI/Oブロック704、706、708、710とチャネルI/Oブロック702との間の信号のルート設定を行うことがより困難となる。
然而,实际上,随着单个并行测试电路 700的扇出 /扇入增多,变得难以维持信号完整性和DUT隔离。 例如,随着更多的 DUT I/O块 704、706、708、710被耦合到单个通道 I/O块 702,变得更加难以在 DUT I/O块 704、706、708、710和通道 I/O块 702之间路由信CN 10201748913 AA 说 明 书 2/6页号以使得在不同的信号路由之间维持类似的信号传播特性。 - 中国語 特許翻訳例文集
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