「欠陥のある」に関連した中国語例文の一覧 -中国語例文検索

1．第1の実施の形態（フローティングディフュージョンに欠陥がある場合の欠陥検出）

1.第一实施例 (当浮置扩散具有缺陷时的缺陷检测 ) - 中国語 特許翻訳例文集

【図20】隣接欠陥を埋め込んだ画像の一例である。

图 20示出了嵌入相邻像素的图像的示例； - 中国語 特許翻訳例文集

その自己保存プログラムに欠陥がある。

那个自主保存程序有缺陷。 - 中国語会話例文集

この計画は多少の欠陥はあるが，やはりよい計画だと言える．

这个计划虽然有些缺陷，但仍是一个好计划。 - 白水社 中国語辞典

図5において、170は欠陥画素検出回路部16で検出された欠陥画素に対して再補正処理を加える欠陥画素再補正回路部、170aは欠陥画素のデータ補正に使用する欠陥画素の画素位置（特定された受光部の画素アドレス）データがあらかじめ格納された欠陥画素補正用記憶素子（再補正ROM）である。

图5中，170是对缺陷像素检测电路部 16所检测出的缺陷像素加以再修正处理的缺陷像素再修正电路部，170a是预先存储有缺陷像素数据修正所使用的缺陷像素的像素位置 (被确定的受光部的像素地址 )数据的缺陷像素修正用存储元件 (再修正 ROM)。 - 中国語 特許翻訳例文集

【図4】欠陥検出処理の例を説明するフローチャートである。

图 4是辅助说明缺陷检测处理的示例的流程图； - 中国語 特許翻訳例文集

【図9】本実施形態に係る図5の欠陥検出補正回路の欠陥検出補正処理のフローチャートを示す図である。

图 9是示出图 5所示的根据本实施例的缺陷检测和校正电路的缺陷检测和校正处理的流程图的图； - 中国語 特許翻訳例文集

本発明は、CCD，CMOSセンサなどの固体撮像素子における欠陥画素を検出し補償する機能を有する画素欠陥補正装置、撮像装置、画素欠陥補正方法、およびプログラムに関するものである。

本发明涉及固态成像器件 (如 CCD或 CMOS传感器 )中具有检测和补偿缺陷像素的功能的像素缺陷校正器件、成像设备、像素缺陷校正方法和程序。 - 中国語 特許翻訳例文集

【図5】第1実施形態に係る欠陥検出補正回路の構成例を示す図である。

图 5是示出根据第一实施例的缺陷检测和校正电路的配置示例的图； - 中国語 特許翻訳例文集

【図5】本実施形態に係る欠陥検出補正回路の構成例を示す図である。

图 5是示出根据本实施例的缺陷检测和校正电路的配置的例子的图； - 中国語 特許翻訳例文集

図8は、この発明の実施の形態2による画像読取装置の欠陥画素検出回路部16で検出された欠陥画素に対して再補正処理を加える欠陥画素再補正回路部170を説明するブロック図である。

图 8是对缺陷像素再修正电路部 170进行说明的框图，该缺陷像素再修正电路部170对本发明的实施方式2所涉及的图像读取装置的缺陷像素检测电路部16所检测出的缺陷像素加以再修正处理。 - 中国語 特許翻訳例文集

本発明は、CCD，CMOSセンサなどの固体撮像素子における欠陥画素を検出し補償する機能を有する画素欠陥検出補正装置、撮像装置、画素欠陥検出補正方法、およびプログラムに関するものである。

本发明涉及具有检测和补偿在诸如 CCD或 CMOS传感器的固态成像设备中的缺陷(defect)像素的功能的像素缺陷检测和校正设备、成像装置、像素缺陷检测和校正方法和程序。 - 中国語 特許翻訳例文集

遠隔欠陥指示（RDI）は、それらの間の双方向接続上の欠陥の検出をそのピアMEPに通知するためにMEPによって使用される機能である。

远程故障指示 (RDI)是这样一种功能，该功能由一个 MEP用以向其对等 MEP通知检测到它们之间的双向连接上的故障。 - 中国語 特許翻訳例文集

検出部27は、A/D変換器23から、所定のタイミングで供給された画素毎の電圧信号の電圧レベルに基づいて、欠陥がある画素（欠陥画素）を検出する。

检测部分 27基于每个像素的电压信号的电压电平 (该电压信号从 A/D转换器 23以预定时序提供 )，检测具有缺陷 (缺陷像素 )的像素。 - 中国語 特許翻訳例文集

例えば、共通の欠陥除去アルゴリズムは、様々な範囲の形状の内の形を形成する色スペクトル内のピクセルに対するデジタル画像を検査して、欠陥候補を識別することを含んでいる。

例如，普通缺陷移除算法包括在数字图像中查找色谱内、构成识别缺陷候选的形状范围内的形状的像素。 - 中国語 特許翻訳例文集

実施の形態1及び2では、波長の異なるフィルタを有する3列（3色）の画素列のうち、R列の1画素に欠陥がある場合の例を主体に説明したが、G列あるいはB列の1画素に欠陥がある場合でも同様の手段で欠陥画素の出力値の推定が可能である。

实施方式 1和 2中，虽然在具有不同波长滤色片的 3列 (3色 )的像素列中，以在 R列的一个像素有缺陷的情况下的例子为主体进行了说明，但在 G列或 B列的一个像素有缺陷的情况下也可以以同样的方法对缺陷像素的输出值进行推算。 - 中国語 特許翻訳例文集

【図16】注目画素のみに欠陥がある場合の処理領域の複数の画素値の一例の説明図である。

图 16A和图 16B是当仅感兴趣的像素有缺陷时处理区域的多个像素值的示例的说明图； - 中国語 特許翻訳例文集

【図17】注目画素および周辺画素に隣接欠陥がある場合の処理領域の複数の画素値の一例の説明図である。

图 17A和图 17B是当在感兴趣的像素和外围像素中存在相邻缺陷时处理区域的多个像素值的示例的说明图； - 中国語 特許翻訳例文集

【図4】この発明の実施の形態1による画像読取装置の欠陥画素を説明する画素列の平面図である。

图 4是对本发明实施方式 1所涉及的图像读取装置的缺陷像素进行说明的像素列的俯视图。 - 中国語 特許翻訳例文集

図4は、この発明の実施の形態1による画像読取装置の欠陥画素を説明する画素列の平面図である。

图 4是对本发明实施方式 1所涉及的图像读取装置的缺陷像素进行说明的像素列的俯视图。 - 中国語 特許翻訳例文集

【図8】この発明の実施の形態2による画像読取装置の欠陥画素再補正回路部を説明するブロック図である。

图 8是对本发明的实施方式 2所涉及的图像读取装置的缺陷像素再修正电路部进行说明的框图。 - 中国語 特許翻訳例文集

【図21】図20の画像を第1実施形態の画素欠陥補正処理により補正した画像の一例である。

图 21示出了通过使用第一实施例中的像素缺陷校正处理来校正图 20中的图像所获得的图像； - 中国語 特許翻訳例文集

システムの構造上の欠陥とチェックの見落としが重なり招かれた障害であると言えます。

可以说是由于没有检查出系统构造上的缺陷而造成了这次的故障。 - 中国語会話例文集

【図1】本発明の第1実施形態に係る画素欠陥補正装置を適用した撮像装置の構成例を示すブロック図である。

图 1是示出应用了根据本发明第一实施例的像素缺陷校正器件的成像设备的配置示例的框图； - 中国語 特許翻訳例文集

【図18】本発明の第2実施形態に係る欠陥検出補正回路の構成例を示す図である。

图 18是示出根据本发明第二实施例的缺陷检测和校正电路的配置示例的图； - 中国語 特許翻訳例文集

【図1】本発明の実施形態に係る画素欠陥検出補正装置を適用した撮像装置の構成例を示すブロック図である。

图 1是示出应用根据本发明的实施例的像素缺陷检测和校正设备的成像装置的配置的例子的方框图； - 中国語 特許翻訳例文集

【図5】図4の欠陥検出処理における共有画素ユニットの動作を説明するタイムチャートである。

图 5是辅助说明图 4的缺陷检测处理中共享像素单元的操作的时序图； - 中国語 特許翻訳例文集

【図7】図6の欠陥検出処理における共有画素ユニットの動作を説明するタイムチャートである。

图 7是辅助说明图 6的缺陷检测处理中共享像素单元的操作的时序图。 - 中国語 特許翻訳例文集

図4において、R列画素のうちi番目の画素（以下Riと称する）に欠陥があるときについて説明する。

图 4中，就 R列像素中第 i个像素 (以下称为Ri)有缺陷时进行说明。 - 中国語 特許翻訳例文集

【図15】欠陥判定対象画素を同色周辺8画素の平均値で置き換えて擬似輝度を算出するイメージを示す図である。

图 15是示出当通过以具有相同颜色的八个外围像素的平均值来替换要确定其缺陷的像素来计算伪亮度时的图像的图； - 中国語 特許翻訳例文集

【図26】利得欠陥および位相欠陥が補正回路によって前処理および後処理されずに直交ミキサ中のそれらのソースで補正される、図1のトランシーバのさらに別の実施形態の概略的なブロック図である。

图 26为图 1的收发器的又一实施例的示意性框图，其中增益减损及相位减损未被校正电路预处理及后处理，而是在正交混频器中在其来源处被校正。 - 中国語 特許翻訳例文集

【図10】本実施形態に係る欠陥検出補正回路の第2の構成例を示す図であって、異色隣接画素の平均値を、最大値、最小値を除いた6画素平均とする欠陥検出補正回路を示す図である。

图 10是示出根据本实施例的缺陷检测和校正电路的配置的第二例子的图，且也是示出将排除最大和最小值的六个像素的平均值设置为具有不同颜色的像素的平均值的缺陷检测和校正电路的图； - 中国語 特許翻訳例文集

次に、欠陥画素Riとは副走査方向に異なる画素列上にあり、かつRiと主走査方向で同じ位置にある画素GiおよびBiに対して、欠陥画素Riで行ったものと同一手段で画素Gi及び画素Biの暫定推定値を求める。

接着，对与缺陷像素 Ri在副扫描方向处于不同像素列上、且与 Ri在主扫描方向上处于相同位置的像素 Gi和 Bi，以与缺陷像素 Ri所实施的方法相同的方法求出像素 Gi和像素 Bi的暂定推算值。 - 中国語 特許翻訳例文集

すなわち、画素検出回路16は、A／D変換部13の出力から分岐させて、黒補正部14及び白補正部15を介さないで画素補正回路部17、170に出力するようにしたが、欠陥画素がON（飽和出力又はGND出力）／OFF（GND出力又は飽和出力）的な出力であることが明らかな場合は、黒補正部14及び白補正部15を介した白黒補正された出力であっても欠陥画素の閾値範囲を細かく設定することにより欠陥画素の判定に対応できるので画素検出回路16を画素補正回路部17、170に組み込んでも良い。

即，虽然像素检测电路 16使 A/D转换部 13的输出产生分支后，不通过黑修正部 14和白修正部 15输出到像素修正电路部 17、170，但是在缺陷像素是 ON(饱和输出或 GND输出 )的输出还是 OFF(GND输出或饱和输出 )的输出不明确的情况下，由于即使是通过了黑修正部 14和白修正部 15的被黑白修正后的输出，也可以通过精细地设定缺陷像素的阈值范围与缺陷像素的判定相对应，所以也可以将像素检测电路 16和像素修正电路部 17、170组合起来。 - 中国語 特許翻訳例文集

また、実施の形態1では欠陥画素に対して読み取り幅方向に隣接する両側の受光部データを用いるようにしたが、両側の受光部データには、欠陥画素と反対側にある隣接画素を考慮して重み付けした係数を付加して暫定推定手段1及び暫定推定手段2に用いても良い。

此外，实施方式 1中利用了相对缺陷像素在读取宽度方向上相邻的两侧的受光部数据，但是，也可以考虑位于缺陷像素相反侧的相邻像素而向两侧的受光部数据中添加加权后的系数以用于暂定推算单元 1和暂定推算单元 2。 - 中国語 特許翻訳例文集

「線欠陥」とも呼ばれる導波路を作製して、フォトニックバンドギャップのある波長範囲内にある波長を有するEMRを伝送することができる。

可以制造也称为“线缺陷”的波导以传输具有位于光子带隙的波长范围内的波长的 EMR。 - 中国語 特許翻訳例文集

しかし実際には、列オフセットの検出領域であるVOBの出力信号には画素欠陥ノイズやRTSノイズが重畳しており、これらのノイズの影響によって巡回演算値に誤差が発生する。

然而，实际上，像素缺陷噪声和 RTS噪声重叠在作为列偏移检测区域的 VOB区域的输出信号上，并且在这些噪声成分的影响下，循环计算值中产生了误差。 - 中国語 特許翻訳例文集

また、これらの記憶領域においては、図4（A）に示すように、アドレス1の記憶領域に値を書き込んだ場合に、アドレス3の記憶領域に記憶されている値が所定値に書き換わる欠陥があるものとする。

假设这些存储器区域是缺陷的，使得当值写入地址 1的存储器区域中时，在地址 3的存储器区域中存储的值重写到预定值。 - 中国語 特許翻訳例文集

図2は、OFDMトランシーバの送信経路および受信経路の4つのI／Q欠陥が全て同時に推定されるとともに補正される方法48の諸ステップを示すフローチャートである。

图2为展示方法48的步骤的流程图，OFDM收发器的发射路径及接收路径的所有四个 I/Q减损是通过方法 48而被同时估计且被校正。 - 中国語 特許翻訳例文集

図26は、I／Q欠陥が前処理も後処理もされずにそれらのソースで補正される、トランシーバ10の別の実施形態の概略的なブロック図である。

图 26为收发器 10的另一实施例的示意性框图，其中 I/Q减损未经预处理及后处理，而是在其来源处经校正。 - 中国語 特許翻訳例文集

PD短時間欠陥検出処理を実行する撮像装置の構成は、図1で示される撮像装置11と基本的に同様であるので、その説明は省略する。

执行 PD短时间缺陷检测处理的图像拾取设备的配置，基本类似于图 1所示的图像拾取设备 11的配置，因此将省略其描述。 - 中国語 特許翻訳例文集

このノイズ低減処理は、例えば、撮像素子の画素欠陥を補正する処理、および、撮像時に発生するランダムノイズを低減する処理である。

该噪声降低处理例如是校正摄像元件的像素缺陷的处理、以及降低在摄像时产生的随机噪声的处理。 - 中国語 特許翻訳例文集

εaは、被アップコンバート同相信号74の振幅が被アップコンバート直交位相信号76の振幅より大きい分である利得欠陥を表現している。

εa表示经升频转换的同相信号 74的振幅大于经升频转换的正交相位信号 76的振幅的增益减损。 - 中国語 特許翻訳例文集

第2補正回路44が、受信器13の直交ミキサで導入された利得および位相欠陥εbおよびφbを被補正ベースバンド信号138から除去済みである。

第二校正电路 44已从经校正的基带信号 138移除由接收器 13的正交混频器所引入的增益减损εb及相位减损 。 - 中国語 特許翻訳例文集

なお、図4のフローチャートにおいては、ステップS14，S15の処理を、イメージセンサ22における全ての画素について行うようにしたが、実際の欠陥検出対象であるFD53は、共有画素ユニット内の画素に共有されているので、共有画素ユニット内の画素のうちの1つの画素について行うようにしてもよい。

顺便提及，尽管在图 4的流程图中对图像传感器 22中的所有像素执行步骤 S14和S15的处理，但是可以对共享像素单元中的像素之一执行步骤 S14和 S15的处理，因为作为缺陷检测的实际目标的 FD 53由共享像素单元中的像素所共享。 - 中国語 特許翻訳例文集

εa＝φa＝0でかつ利得欠陥εbおよび位相不一致φbが計算において使用されれば、乗算器97の第5倍数係数が行列位置11での係数であり、乗算器98の第6倍数係数が行列位置12での係数であり、乗算器99の第7倍数係数が行列位置21での係数であり、乗算器100の第8倍数係数が行列位置22での係数である。

乘法器 99的第七乘法因子为在矩阵位置 21处的系数； 且乘法器 100的第八乘法因子为在矩阵位置 22处的系数。 - 中国語 特許翻訳例文集

一方、ステップS14において、VSL57における、FD53がリセットされてから一定時間経過後の電圧レベルの変化が、所定の閾値より大きいと判定された場合、すなわち、図5のタイムチャートの時刻T7において、FD53の電圧レベルが時刻T6から変化し、ひいては、VSL57の電圧レベルが時刻T6から、所定の閾値より変化している場合、FD53に欠陥があるとされ、処理はステップS15に進む。

另一方面，当在步骤 S14确定从 FD 53的重置经过一定时间之后 VSL 57的电压电平的改变大于预定阈值，也就是说，当 FD 53的电压电平在时间 T6之后在图 5的时序图中的时间 T7改变，并且 VSL 57的电压电平的改变在时间 T6之后在时间 T7又大于预定阈值时，确定 FD 53具有缺陷。 处理进行到步骤 S15。 - 中国語 特許翻訳例文集

したがって、εb＝φb＝0でかつ利得欠陥εaおよび位相不一致φaが計算において使用されれば、乗算器67の第1倍数係数が図20の行列位置11における係数であり、乗算器68の第2倍数係数が行列位置12における係数であり、乗算器69の第3倍数係数が行列位置21における係数であり、乗算器70の第4倍数係数が行列位置22における係数である。

当 且在计算中使用增益减损εb及相位失配 时，乘法器 97的第五乘法因子为在矩阵位置 11处的系数； 乘法器 98的第六乘法因子为在矩阵位置 12处的系数； - 中国語 特許翻訳例文集

R列にある欠陥画素（特定画素）Riに着目すると、白補正部15から出力された受光部10rのR列信号に対して、図7（b）に示すように同時に出力されるRGB信号のうち、受光部10bのB列信号を2走査周期分、受光部10gのG列信号を1走査周期分遅延させたものを取り出すことによって、被照射体4の同一領域を波長の異なる3色のフィルタを通して読み取った光電変換信号となり、これらの取り出された時間合わせを施した後の信号を用いて実施の形態1で説明した補正精度より精度を高める。

若着眼于存在于 R列的缺陷像素 (特定像素 )Ri，则对于从白修正部 15输出的、受光部 10r的 R列信号，如图 7(b)所示，通过取出同时被输出的 RGB信号中、使受光部 10b的B列信号延迟了两个扫描周期、使受光部 10g的 G列信号延迟了一个扫描周期的信号，利用成为了使照射对象 4的同一区域通过波长不同的三种颜色的滤色片后读取到的光电转换信号的、实施了这些被取出的时间组合后的信号，使精度比实施方式 1所说明的修正精度更高。 - 中国語 特許翻訳例文集