「测试电路」に関連した中国語例文の一覧 -中国語例文検索

图 7提供了示例性并行测试电路的高级别表示。

【図7】例示的な並列試験回路の高レベル表現を示す図である。 - 中国語 特許翻訳例文集

装置 100包括耦合到两个并行测试电路 106、108中的每一个的测试系统 102。

装置100は2つの並列試験回路106、108のそれぞれに連結した試験システム102を含む。 - 中国語 特許翻訳例文集

由并行测试电路 106、108发送的信号然后可被测试系统 102接收。

試験システム102は、並列試験回路106、108の送信する信号を受信できる。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 6图示出用于配置图 1所示每个并行测试电路的发送 /接收单元以使得并行测试电路之间的信号延迟可得到调节的示例性方式； 和

【図6】図1に示す各並列試験回路の送信／受信ユニットを、並列試験回路同士の間の信号遅延を調整し得るように構成する例示的な方法を示す図である。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 6图示出用于配置图 1中示出的每个并行测试电路 106、108的发送 /接收单CN 10201748913 AA 说 明 书 6/6页元 112、114以使得并行测试电路 106、108之间的信号延迟能够得到调节的示例性方式。

図6は、図1で示す各並列試験回路106、108の送信／受信ユニット112、114を、並列試験回路106と108の間での信号の遅延を調整できるよう構成する例示的な方法を示す図である。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 5更详细地图示出图 1所示并行测试电路中的一个的发送 /接收单元可被如何配置；

【図5】図1に示す並列試験回路のうちの1つの送信／受信ユニットを如何に構成できるかをより詳細に示す図である。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 5更详细地图示出图 1所示的并行测试电路 106、108中的一个的发送 /接收单元 112、114可被如何配置。

図5は、図1に示す並列試験回路106、108のうちの1つの送信／受信ユニット112、114を如何に構成できるかをより詳細に示す図である。 - 中国語 特許翻訳例文集

注意，出于该描述的目的，“驱动”模式表示其中测试系统正通过并行测试电路 500将数据驱动到 DUT I/O的数据流，并且“接收”模式表示其中测试系统正通过并行测试电路 500从 DUT I/O接收数据的数据流。

なお記述の目的で、「ドライブ」モードは試験システムが並列試験回路500を通してDUTのI／Oへとデータを駆動するデータフローを示し、「受信」モードは試験システムが並列試験回路500を通してDUTのI／Oからのデータを受信するデータフローを示す。 - 中国語 特許翻訳例文集

为了调节并行测试电路 106、108之间的信号延迟，每次可以开启 (open)有源驱动器 608、610中的一个，并且可以使用时域反射法 (TDR)来计算从测试系统 102到并行测试电路 106、108中的一个的往返 (round-trip)信号延迟。

並列試験回路106と108の間の信号遅延を調整するために、一度にアクティブドライバ608、610のうちの1つを開放して、タイムドメインリフレクトメリ（TDR）を使用して、試験システム102から並列試験回路106、108のうちの1つへの往復信号遅延を算出することができる。 - 中国語 特許翻訳例文集

响应于来自控制电路 42的请求，存储器控制电路 31顺序存储通过测试电路 21从像素阵列部分 10输出的像素数据。

メモリ制御回路31は、制御回路42からの要求に応じて、画素アレイ部10からテスト回路21をスルーして出力される画素データを順次記憶する。 - 中国語 特許翻訳例文集

响应于来自控制电路 42的请求，存储器控制电路 31顺序存储通过测试电路 21从像素阵列部分 10输出的像素数据。

また、メモリ制御回路31は、制御回路42からの要求に応じて、画素アレイ部10からテスト回路21をスルーして出力される画素データを順次記憶する。 - 中国語 特許翻訳例文集

在一些情况下，并且如在’ 378申请中所描述的，并行测试电路 700可被扩张为提供来自 DUT_IO节点的并行读数。

一部の場合には、また‘378号出願に記載されるように、DUT＿IOノードからの読取りを並列して行うよう、並列試験回路700を拡張してもよい。 - 中国語 特許翻訳例文集

这些信号中的一些或全部可通过例如诸如测试系统 102(图 1)之类的测试系统被提供给并行测试电路。

これらの信号の一部又はすべては、例えば試験システム102（図1参照）のような試験システムによって並列試験回路に提供され得る。 - 中国語 特許翻訳例文集

相反，并行测试电路 106、108中的发送 /接收单元 112、114的有源驱动器可以每次一个地被配置为经由传输线路网络 104发送承载了定时和电压信息的信号。

逆に、並列試験回路106、108における送信／受信ユニット112、114のアクティブドライバについては、伝送路網104上でタイミング及び電圧の情報を有する信号を伝送するよう、それぞれ構成することができる。 - 中国語 特許翻訳例文集

在操作中，在并行测试电路 700的 TESTER_IO节点处接收的信号可被扇出到任意或全部 DUT_IO节点，或者在任意 DUT_IO节点处读取的信号可被选择性地传回TESTER_IO节点。

動作上、並列試験回路700のTESTER＿IOノードにおいて受信した信号を、DUT＿IOノードのいずれか若しくは全てにファンアウトし得る、又はDUT＿IOノードのいずれかにおいて読み取った信号を、選択的にTESTER＿IOノードに戻すよう伝送し得る。 - 中国語 特許翻訳例文集

如所示出的，并行测试电路 106、108中的每一个设置有可调节延迟元件 600、602； 并且每个可调节延迟元件 600、602的输入被耦合到发送 /接收单元 106、108中的一个的相应的接收器输出 604、606。

図示したように、並列試験回路106、108の各々は、調整可能な遅延要素600、602を備え、各調整可能な遅延要素600、602の入力は、送信／受信ユニット106、108のうちの1つのそれぞれのレシーバ出力604、606に連結する。 - 中国語 特許翻訳例文集

然而，实际上，随着单个并行测试电路 700的扇出 /扇入增多，变得难以维持信号完整性和DUT隔离。 例如，随着更多的 DUT I/O块 704、706、708、710被耦合到单个通道 I/O块 702，变得更加难以在 DUT I/O块 704、706、708、710和通道 I/O块 702之间路由信CN 10201748913 AA 说 明 书 2/6页号以使得在不同的信号路由之间维持类似的信号传播特性。

理論上は、単一チャネルのI／Oブロック702をより多くのDUTのI／Oブロック704、706、708、710に連結することで、信号のファンアウト／ファンインを任意の数の信号経路分（例えば4つ、若しくは8つ、若しくはその他任意の数の信号経路）のみ増加させ、‘378号出願に記載された並列試験回路を拡張することができる。しかし実際には、単一の並列試験回路700のファンアウト／ファンインを増加させると、信号精度とDUTの分離を維持することがより困難となる。例えば、より多くのDUTのI／Oブロック704、706、708、710を単一のチャネルI／Oブロック702に連結すると、類似した信号伝播特性同士を異なる信号ルート間で維持しながら、DUTのI／Oブロック704、706、708、710とチャネルI／Oブロック702との間の信号のルート設定を行うことがより困難となる。 - 中国語 特許翻訳例文集

现返回参考图 1，图 1图示出图 3所示的传输线路网络可以如何用来将测试系统102(例如，电路测试器 )的单个测试通道扇出到’ 378申请中所公开的两个并行测试电路 106、108(并且最终扇出到多个 DUT I/O116)。 根据传输线路网络 104上数据流的希望方向，诸如图 3和 4中公开的控制系统之类的控制系统可被配置为：

再度図1を参照すると、図1は図3に示す伝送路網を如何に使用して、試験システム102（例えば回路試験装置）の単一の試験チャネルを、‘378号出願で開示された並列試験回路106、108のうちの2つにファンアウトすることができるか（そして最終的に複数のDUTのI／O116にファンアウトできるか）を示している。伝送路網104上でのデータフローの所望の方向に依存して、1）送信／受信ユニット110、112、114の各々を送信モード又は受信モードに動的に置くように、さらに2）各送信／受信ユニット110、112、114のアクティブな終端処理を動的に有効及び無効にするように、図3及び図4で示すような制御システムを構成することができる。 - 中国語 特許翻訳例文集