「测试系统」に関連した中国語例文の一覧 -中国語例文検索

装置 100包括耦合到两个并行测试电路 106、108中的每一个的测试系统 102。

装置100は2つの並列試験回路106、108のそれぞれに連結した試験システム102を含む。 - 中国語 特許翻訳例文集

由并行测试电路 106、108发送的信号然后可被测试系统 102接收。

試験システム102は、並列試験回路106、108の送信する信号を受信できる。 - 中国語 特許翻訳例文集

这些信号中的一些或全部可通过例如诸如测试系统 102(图 1)之类的测试系统被提供给并行测试电路。

これらの信号の一部又はすべては、例えば試験システム102（図1参照）のような試験システムによって並列試験回路に提供され得る。 - 中国語 特許翻訳例文集

注意，出于该描述的目的，“驱动”模式表示其中测试系统正通过并行测试电路 500将数据驱动到 DUT I/O的数据流，并且“接收”模式表示其中测试系统正通过并行测试电路 500从 DUT I/O接收数据的数据流。

なお記述の目的で、「ドライブ」モードは試験システムが並列試験回路500を通してDUTのI／Oへとデータを駆動するデータフローを示し、「受信」モードは試験システムが並列試験回路500を通してDUTのI／Oからのデータを受信するデータフローを示す。 - 中国語 特許翻訳例文集

通过串行地将TESTER_IO节点耦合到不同的RCV_OUT信号，各种 DUT I/O信号可被串行地输出到与 TESTER_IO节点相耦合的测试系统。

TESTER＿IOノードを異なるRCV−OUT信号に連続的に連結することによって、TESTER＿IOノードに連結した試験システムに種々のDUTのI／O信号を連続的に出力することができる。 - 中国語 特許翻訳例文集

为了调节并行测试电路 106、108之间的信号延迟，每次可以开启 (open)有源驱动器 608、610中的一个，并且可以使用时域反射法 (TDR)来计算从测试系统 102到并行测试电路 106、108中的一个的往返 (round-trip)信号延迟。

並列試験回路106と108の間の信号遅延を調整するために、一度にアクティブドライバ608、610のうちの1つを開放して、タイムドメインリフレクトメリ（TDR）を使用して、試験システム102から並列試験回路106、108のうちの1つへの往復信号遅延を算出することができる。 - 中国語 特許翻訳例文集

在驱动模式中，发送缓冲器 506经由 TESTER_IO从测试系统 (测试器 )接收信号，对其进行缓冲，并且将其分发到所有的 DUT I/O驱动器 (在’378申请中被称作 DUT_IO驱动器 )。 输入端接可以是导通或关断，如通过 CHIO_VTERM_ENA来控制的。

ドライブモードでは、送信バッファ506はTESTER＿IOを介して試験システム（試験装置）から信号を受信し、それをバッファリングし、（‘378号出願でDUT＿IOドライバと称された）すべてのDUTのI／Oドライバに分配する。入力の終結はCHIO＿VTERM＿ENAによって制御することでオン又はオフすることができる。終端処理が有効である場合には、受信バッファ508がオンとなり、受信バッファの電源が終端電圧であるCHIO−VTとなる。終端処理が無効である場合には、受信バッファ508がオフとなる。 - 中国語 特許翻訳例文集

现返回参考图 1，图 1图示出图 3所示的传输线路网络可以如何用来将测试系统102(例如，电路测试器 )的单个测试通道扇出到’ 378申请中所公开的两个并行测试电路 106、108(并且最终扇出到多个 DUT I/O116)。 根据传输线路网络 104上数据流的希望方向，诸如图 3和 4中公开的控制系统之类的控制系统可被配置为：

再度図1を参照すると、図1は図3に示す伝送路網を如何に使用して、試験システム102（例えば回路試験装置）の単一の試験チャネルを、‘378号出願で開示された並列試験回路106、108のうちの2つにファンアウトすることができるか（そして最終的に複数のDUTのI／O116にファンアウトできるか）を示している。伝送路網104上でのデータフローの所望の方向に依存して、1）送信／受信ユニット110、112、114の各々を送信モード又は受信モードに動的に置くように、さらに2）各送信／受信ユニット110、112、114のアクティブな終端処理を動的に有効及び無効にするように、図3及び図4で示すような制御システムを構成することができる。 - 中国語 特許翻訳例文集