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「相位校正」を含む例文一覧

該当件数 : 8



图 32A所示的第示例在低通滤波器 8412的后级包括第一示例的相位校正单元8630_1。

図18(1)に示す第1例は、低域通過フィルタ8412の後段に第1例の位相補正部8630_1を設けたものである。 - 中国語 特許翻訳例文集

第一示例的相位校正单元 8630_1具有用于检测低通滤波器 8412的输出信号的幅度电路的电平检测器 8632。

第1例の位相補正部8630_1は、低域通過フィルタ8412の出力信号の振幅レベルを検出するレベル検出部8632を有している。 - 中国語 特許翻訳例文集

相位校正单元 8630_2使用正交检测输出 (I,Q),通过相位旋转器 8634旋转输出信号的相位,并且通过电平检测器 8638检测得到的输出 (即,I’分量 )。

位相補正部8630_2は、直交検波の出力(I、Q)を使って位相回転部8634で出力信号の位相を回転させ、その出力(I’成分)をレベル検出部8638で検出する。 - 中国語 特許翻訳例文集

相位校正单元 8630_4中,相位旋转器 8636使用正交检测输出 (I,Q)旋转输出信号的相位,并且通过电平检测器 8638检测相位旋转器 8636的输出。

位相補正部8630_4は、直交検波の出力(I,Q)を使って位相回転部8636で出力信号の位相を回転させ、その出力をレベル検出部8638で検出する。 - 中国語 特許翻訳例文集

相位校正单元 8630_2包括用于使用正交检测的低通滤波器 8412_I和 8412_Q的输出信号 (I,Q)执行相位旋转处理的相位旋转器 8634、以及用于检测相位旋转器 8634的输出信号的幅度电平的电平检测器 8638。

第2例の位相補正部8630_2は、直交検波の低域通過フィルタ8412_I,8412_Qの出力(I,Q)を使って位相回転処理を行なう位相回転部8634と、位相回転部8634の出力信号の振幅レベルを検出するレベル検出部8638を有している。 - 中国語 特許翻訳例文集

在如上所述的这种修改中,在频分复用时各信道的载波频率的关系为 1/n或 m/n的情况下,尽管相位校正单元 8630用作针对相位不确定的措施,但在采用使用多个调制轴的 QPSK方法、8PSK方法等的情况下,针对相位不确定的措施也是可能的。

このような変形例において、周波数分割多重時における各チャネルの搬送周波数の関係が1/nやm/nにある場合には、位相不確定性の対策として位相補正部8630を適用することになるが、複数の変調軸を使用するQPSK方式や8PSK方式などを採用する場合でも位相不確定性に対する対処が可能である。 - 中国語 特許翻訳例文集

在只使用一个输出信号的情况下,相位校正单元 8630_3控制例如可以从 PLL配置的辅助载波信号生成器 8612,使得通过电平检测器 8632从传输其已知模式用于调整的一个输出信号检测的幅度电平可以最大化,从而变化辅助载波信号生成器 8612的输出信号(即,到混频器 8402的载波信号 )的相位。

片方のみの場合、位相補正部8630_3は、調整のために既知パターンを送信した方について、レベル検出部8632で検出された振幅レベルが最大になるように副搬送信号生成部8612(たとえばPLLで構成)を制御して、その出力信号(周波数混合部8402への搬送信号)の位相を変化させる。 - 中国語 特許翻訳例文集

到第三示例的相位校正单元 8630_3的电平检测器 8632的输入可以是只提供 I轴分量的低通滤波器 8412_I的输出信号的第一配置示例、只提供 Q轴分量的低通滤波器8412_Q的输出信号的第一配置示例、和提供 I轴分量的低通滤波器 8412_I的输出信号和 Q轴分量的低通滤波器 8412_Q的输出信号两者的第三配置示例的任何。

第3例の位相補正部8630_3のレベル検出部8632への入力は、I軸成分用の低域通過フィルタ8412_Iの出力信号のみとする第1構成例、Q軸成分用の低域通過フィルタ8412_Qの出力信号のみとする第2構成例、I軸成分用の低域通過フィルタ8412_Iの出力信号とQ軸成分用の低域通過フィルタ8412_Qの出力信号の双方とする第3構成例の何れでもよい。 - 中国語 特許翻訳例文集





   

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