| 意味 | 例文 |
「缺陷检测」を含む例文一覧
該当件数 : 24件
[共享像素单元中的缺陷检测处理 ]
［共有画素ユニットにおける欠陥検出処理］ - 中国語 特許翻訳例文集
图 9是示出图 5所示的根据本实施例的缺陷检测和校正电路的缺陷检测和校正处理的流程图的图；
【図9】本実施形態に係る図5の欠陥検出補正回路の欠陥検出補正処理のフローチャートを示す図である。 - 中国語 特許翻訳例文集
图 4是辅助说明缺陷检测处理的示例的流程图；
【図4】欠陥検出処理の例を説明するフローチャートである。 - 中国語 特許翻訳例文集
图 5是示出根据第一实施例的缺陷检测和校正电路的配置示例的图；
【図5】第1実施形態に係る欠陥検出補正回路の構成例を示す図である。 - 中国語 特許翻訳例文集
图 5是示出根据本实施例的缺陷检测和校正电路的配置的例子的图；
【図5】本実施形態に係る欠陥検出補正回路の構成例を示す図である。 - 中国語 特許翻訳例文集
1.第一实施例 (当浮置扩散具有缺陷时的缺陷检测 )
1．第1の実施の形態（フローティングディフュージョンに欠陥がある場合の欠陥検出） - 中国語 特許翻訳例文集
同样在如上所述的 PD短时间缺陷检测处理之后，如在 FD缺陷检测处理之后，如参照图 3的时序图所述读出像素信号 (像素值 )。
以上のようなPD短時間欠陥検出処理の後も、FD欠陥検出処理の後と同様に、図3のタイムチャートを参照して説明した画素信号（画素値）の読み出しが行われる。 - 中国語 特許翻訳例文集
图 18是示出根据本发明第二实施例的缺陷检测和校正电路的配置示例的图；
【図18】本発明の第2実施形態に係る欠陥検出補正回路の構成例を示す図である。 - 中国語 特許翻訳例文集
图 1是示出应用根据本发明的实施例的像素缺陷检测和校正设备的成像装置的配置的例子的方框图；
【図1】本発明の実施形態に係る画素欠陥検出補正装置を適用した撮像装置の構成例を示すブロック図である。 - 中国語 特許翻訳例文集
图 5是辅助说明图 4的缺陷检测处理中共享像素单元的操作的时序图；
【図5】図4の欠陥検出処理における共有画素ユニットの動作を説明するタイムチャートである。 - 中国語 特許翻訳例文集
图 7是辅助说明图 6的缺陷检测处理中共享像素单元的操作的时序图。
【図7】図6の欠陥検出処理における共有画素ユニットの動作を説明するタイムチャートである。 - 中国語 特許翻訳例文集
以下将参照图 6的流程图和图 7的时序图描述 PD短时间缺陷检测处理。
ここで、図6のフローチャートおよび図7のタイムチャートを参照して、PD短時間欠陥検出処理について説明する。 - 中国語 特許翻訳例文集
图 10是示出根据本实施例的缺陷检测和校正电路的配置的第二例子的图，且也是示出将排除最大和最小值的六个像素的平均值设置为具有不同颜色的像素的平均值的缺陷检测和校正电路的图；
【図10】本実施形態に係る欠陥検出補正回路の第2の構成例を示す図であって、異色隣接画素の平均値を、最大値、最小値を除いた6画素平均とする欠陥検出補正回路を示す図である。 - 中国語 特許翻訳例文集
本发明涉及具有检测和补偿在诸如 CCD或 CMOS传感器的固态成像设备中的缺陷(defect)像素的功能的像素缺陷检测和校正设备、成像装置、像素缺陷检测和校正方法和程序。
本発明は、CCD，CMOSセンサなどの固体撮像素子における欠陥画素を検出し補償する機能を有する画素欠陥検出補正装置、撮像装置、画素欠陥検出補正方法、およびプログラムに関するものである。 - 中国語 特許翻訳例文集
接下来将参照图 4的流程图和图 5的时序图描述图 2中共享像素单元 41中的缺陷检测处理。
次に、図4のフローチャートおよび図5のタイムチャートを参照して、図2の共有画素ユニット41における欠陥検出処理について説明する。 - 中国語 特許翻訳例文集
例如，在接通图像拾取设备 11的电源时，在改变操作模式为像素添加模式、像素离散减少模式等时，以及在像素信号的输出之前，执行共享像素单元 41中的缺陷检测处理。
共有画素ユニット41における欠陥検出処理は、撮像装置11の電源立ち上げ時、画素加算モードや画素間引きモード等への動作モードの変更時、画素信号の出力の前などに実行される。 - 中国語 特許翻訳例文集
然而，在缺陷检测处理中，时序控制部分 26从时间 T5到时间 T6的时段中不设置驱动信号 TG0为 H电平，如由图 5中的虚线的圆圈标记所指示的。
しかしながら、欠陥検出処理においては、図中、破線の丸印で示されるように、時刻T5乃至T6の期間において、タイミング制御部26は、駆動信号TG0をHレベルにしない。 - 中国語 特許翻訳例文集
执行 PD短时间缺陷检测处理的图像拾取设备的配置，基本类似于图 1所示的图像拾取设备 11的配置，因此将省略其描述。
PD短時間欠陥検出処理を実行する撮像装置の構成は、図1で示される撮像装置11と基本的に同様であるので、その説明は省略する。 - 中国語 特許翻訳例文集
然而，在图 7的时序图中所示的 PD短时间缺陷检测处理的操作中，时序控制部分 26在从时间 T5到时间 T6的时段中将驱动信号 TG0设置为 H电平。
しかしながら、図7のタイムチャートで示されるPD短時間欠陥検出処理における動作では、時刻T5乃至T6の期間において、タイミング制御部26は、駆動信号TG0をHレベルにする。 - 中国語 特許翻訳例文集
当要在显示部分30上显示用于允许用户检查被摄体的图像(该图像正在被拾取)的所谓直通图像 (through image)时，例如，在如上所述的缺陷检测之后，如参照图 3的时序图所述，读出像素信号 (像素值 )。
以上のような欠陥検出処理の後、例えば、表示部30に、撮像されている被写体の画像をユーザに確認させるための、いわゆるスルー画を表示させる場合、図3のタイムチャートを参照して説明した画素信号（画素値）の読み出しが行われる。 - 中国語 特許翻訳例文集
在参照图 5的时序图描述的 FD缺陷检测处理的操作中，从时间 T4之后 FD 53中累积的电荷重置的状态起，驱动信号 TG0在从时间 T5到时间 T6的时段中不设置为 H电平。
ここで、図5のタイムチャートを参照して説明したFD欠陥検出処理における動作では、時刻T4の後、FD53に蓄積されている電荷がリセットされている状態から、時刻T5乃至T6の期間においても、駆動信号TG0をHレベルにしないようにしていた。 - 中国語 特許翻訳例文集
当在从时间 T6到时间 T7的时段期间 VSL 57的电压电平的改变因此大于预定阈值时，检测部分 27在步骤 S15为地址存储部分 28提供指示设为缺陷检测的目标的像素 (光电二极管 51-1)的位置的地址作为缺陷像素的地址，并且使得地址存储部分 28存储该地址。
このように、時刻T6乃至T7の期間の、VSL57における電圧レベルの変化が所定の閾値より大きい場合、ステップS15において、検出部27は、欠陥検出対象となっている画素（フォトダイオード51−1）の位置を示すアドレスを、欠陥画素のアドレスとして、アドレス記憶部28に供給し、記憶させる。 - 中国語 特許翻訳例文集
顺便提及，尽管在图 4的流程图中对图像传感器 22中的所有像素执行步骤 S14和S15的处理，但是可以对共享像素单元中的像素之一执行步骤 S14和 S15的处理，因为作为缺陷检测的实际目标的 FD 53由共享像素单元中的像素所共享。
なお、図4のフローチャートにおいては、ステップS14，S15の処理を、イメージセンサ22における全ての画素について行うようにしたが、実際の欠陥検出対象であるFD53は、共有画素ユニット内の画素に共有されているので、共有画素ユニット内の画素のうちの1つの画素について行うようにしてもよい。 - 中国語 特許翻訳例文集
在检测部分 49(图 3)检测到缺席的情况下，处理进行到步骤 S144。 CPU 41(图 3)将请求缺席记录 (用于在记录器 11(其记录介质 37(图 2))中记录缺陷检测时由接收部分45获取且在显示部分 48上显示的内容 )的命令 (在下文中，称为缺席记录请求命令 )从网络 I/F 44发送到记录器 11。
また、ステップ143において、ユーザがディジタルTV12の周囲に存在しないことが検出されたと判定された場合、すなわち、検出部49（図3）において、不在検出が行われた場合、処理は、ステップS144に進み、CPU41（図3）は、不在検出が行われたときに受信部45で取得され、表示部48で表示されていたコンテンツを、レコーダ11（の記録媒体37（図2））に記録させる不在録画を要求するコマンド（以下、不在録画要求コマンドともいう）を、ネットワークI/F44から、レコーダ11に対して送信する。 - 中国語 特許翻訳例文集
| 意味 | 例文 |
