「試験システム」に関連した中国語例文の一覧 -中国語例文検索

システムは試験的に運用される。

系统被用于考试。 - 中国語会話例文集

システムへ試験結果を登録する。

向系统注册测验结果。 - 中国語会話例文集

装置100は2つの並列試験回路106、108のそれぞれに連結した試験システム102を含む。

装置 100包括耦合到两个并行测试电路 106、108中的每一个的测试系统 102。 - 中国語 特許翻訳例文集

試験システム102は、並列試験回路106、108の送信する信号を受信できる。

由并行测试电路 106、108发送的信号然后可被测试系统 102接收。 - 中国語 特許翻訳例文集

試験装置100は、システム制御部110、試験モジュール部120、試験制御部130、および接続部140を備える。

测试装置 100包括系统控制部110、测试模块部 120、测试控制部 130及连接部 140。 - 中国語 特許翻訳例文集

これらの信号の一部又はすべては、例えば試験システム102（図1参照）のような試験システムによって並列試験回路に提供され得る。

这些信号中的一些或全部可通过例如诸如测试系统 102(图 1)之类的测试系统被提供给并行测试电路。 - 中国語 特許翻訳例文集

システム制御部110は、被試験デバイス10−1および被試験デバイス10−2に対応する試験制御部130−1および試験制御部130−2を制御することにより、被試験デバイス10−1および被試験デバイス10−2の試験を制御する。

系统控制部 110通过控制对应于被测试设备 10-1及被测试设备 10-2的测试控制部 130-1及测试控制部 130-2，来控制被测试设备 10-1及被测试设备 10-2的测试。 - 中国語 特許翻訳例文集

なお記述の目的で、「ドライブ」モードは試験システムが並列試験回路500を通してDUTのI／Oへとデータを駆動するデータフローを示し、「受信」モードは試験システムが並列試験回路500を通してDUTのI／Oからのデータを受信するデータフローを示す。

注意，出于该描述的目的，“驱动”模式表示其中测试系统正通过并行测试电路 500将数据驱动到 DUT I/O的数据流，并且“接收”模式表示其中测试系统正通过并行测试电路 500从 DUT I/O接收数据的数据流。 - 中国語 特許翻訳例文集

複数の試験制御部130のそれぞれは、システム制御部110から与えられる制御命令および試験プログラム等に応じて、第1試験モジュール122および第2試験モジュール124を制御する。

多个测试控制部 130，分别对应于来自系统控制部 110的控制命令及测试程序等控制第 1测试模块 122及第 2测试模块 124。 - 中国語 特許翻訳例文集

しかしながら、他の実施形態においては、オペレータは、データ処理システム102において、試験ページを生成することができる。

然而，在其他实施方式中，操作者可在数据处理系统 102处生成测试页。 - 中国語 特許翻訳例文集

システムはさらに、メモリユニット及びメモリユニットに取り付けられたRFリーダーを有する携帯型試験装置を備える。

该系统还包括便携式测试设备，该便携式测试设备具有存储器单元和附连于存储器单元的 RF读取器。 - 中国語 特許翻訳例文集

即ち、試験装置10によれば、システム全体をリセットさせずに復旧ができるので、復旧時間を短縮することができる。

即由于根据测试装置 10，不需进行系统整体的复位而复原，所以可缩短复原时间。 - 中国語 特許翻訳例文集

この試験はまた、所与のシステム（例えばシステム初期化時の）に対して一回だけ実行されてもよいし、あるいは温度および他の環境要因が変化するにつれてシステムを再構成するために時々再実行されてもよい。

测试还可以仅为给定系统执行一次 (例如，在系统初始化时 )，或者可以偶尔因温度和其它环境因素的改变而重复执行，以重新配置系统。 - 中国語 特許翻訳例文集

さらに、図1の図示実施例が製造プラント104aと104bとを含む一方、本明細書に記載の方法例および装置例は、プロセス制御システム、データ収集システム、および／または試験および測定（T＆M）システムが用いられる任意の環境で用いられ得る。

进一步地，虽然图 1示出的例子包括制造厂 104a和 104b，此处所述的示例性方法和装置可以应用于任何采用过程控制系统、数据收集系统和 /或测试和测量 (T&M)系统的环境。 - 中国語 特許翻訳例文集

並列試験回路106と108の間の信号遅延を調整するために、一度にアクティブドライバ608、610のうちの1つを開放して、タイムドメインリフレクトメリ（TDR）を使用して、試験システム102から並列試験回路106、108のうちの1つへの往復信号遅延を算出することができる。

为了调节并行测试电路 106、108之间的信号延迟，每次可以开启 (open)有源驱动器 608、610中的一个，并且可以使用时域反射法 (TDR)来计算从测试系统 102到并行测试电路 106、108中的一个的往返 (round-trip)信号延迟。 - 中国語 特許翻訳例文集

図8は、図5に示される実施形態と同様であるが、携帯型試験装置600が試験装置コネクタ632を介して直接にエレクトロニクス装置400のトランシーバポート460に電気的に接続される、RFIDベース情報収集システム4の一実施形態例の略図である。

图 8是与图 5所示相似的基于 RFID的信息采集系统 4的示例性实施例的示意图，但其中便携式测试设备 600经由测试设备连接器 632直接连接于电子设备 400中的收发机端口 460。 - 中国語 特許翻訳例文集

TESTER＿IOノードを異なるRCV−OUT信号に連続的に連結することによって、TESTER＿IOノードに連結した試験システムに種々のDUTのI／O信号を連続的に出力することができる。

通过串行地将TESTER_IO节点耦合到不同的RCV_OUT信号，各种 DUT I/O信号可被串行地输出到与 TESTER_IO节点相耦合的测试系统。 - 中国語 特許翻訳例文集

処理ブロック410において、プリンタ200における変化（例えば、紙の交換、設定の変更等）に応答して、試験ページがプリント・システム230において印刷される。

在处理块 410，响应于打印机 200的改变 (如，纸张改变、设置改变等 )而在打印系统 230处打印测试页。 - 中国語 特許翻訳例文集

システムは、メモリユニット及びメモリユニットに取り付けられたRFリーダーを有し、トランシーバ回路とメモリユニットの間に電気的接続を形成するためにトランシーバソケットと嵌合するように構成された、携帯型試験装置も備える。

该系统还包括便携式测试设备，该便携式测试设备具有存储器单元和附连于存储器单元的 RF读取器并被配置成与收发机槽口接合以形成收发机电路和存储器单元之间的电连接。 - 中国語 特許翻訳例文集

【図7】図7は、図1に示される実施形態と同様であるが、携帯型試験装置がトランシーバに直接に接続される一実施形態例を示す、RFIDベース情報収集システム及び遠距離通信ネットワーク部分の簡略な実施形態である。

图 7是与图 1所示类似的基于 RFID信息采集系统和电信网络部分的示意实施例，但其示出其中便携式测试设备直接连接到收发机的示例性实施例； - 中国語 特許翻訳例文集

図7は、図1に示されたものと同様のRFIDベース情報収集システム4及び遠距離通信ネットワーク部分5の略図であるが、携帯型試験装置600がトランシーバ10に直接に接続される実施形態例を示す。

图 7是与图 1所示类似的基于 RFID的信息采集系统 4和电信网络部分 5的示意性实施例，但其示出便携式测试设备 600直接连接到收发机 10的示例性实施例。 - 中国語 特許翻訳例文集

再度図1を参照すると、図1は図3に示す伝送路網を如何に使用して、試験システム102（例えば回路試験装置）の単一の試験チャネルを、‘378号出願で開示された並列試験回路106、108のうちの2つにファンアウトすることができるか（そして最終的に複数のDUTのI／O116にファンアウトできるか）を示している。伝送路網104上でのデータフローの所望の方向に依存して、1）送信／受信ユニット110、112、114の各々を送信モード又は受信モードに動的に置くように、さらに2）各送信／受信ユニット110、112、114のアクティブな終端処理を動的に有効及び無効にするように、図3及び図4で示すような制御システムを構成することができる。

现返回参考图 1，图 1图示出图 3所示的传输线路网络可以如何用来将测试系统102(例如，电路测试器 )的单个测试通道扇出到’ 378申请中所公开的两个并行测试电路 106、108(并且最终扇出到多个 DUT I/O116)。 根据传输线路网络 104上数据流的希望方向，诸如图 3和 4中公开的控制系统之类的控制系统可被配置为： - 中国語 特許翻訳例文集

10 被試験デバイス、100 試験装置、110 システム制御部、120 試験モジュール部、122 第1試験モジュール、124 第2試験モジュール、130 試験制御部、140 接続部、142 識別部、144 変換部、146 記憶部、148 経路切替部、152 切替部、154 FIFOバッファ、156 FIFOバッファ、158 FIFOバッファ、162 切替部、164 FIFOバッファ、166 FIFOバッファ、168 FIFOバッファ、172 経路切替部、1900 コンピュータ、2000 CPU、2010 ROM、2020 RAM、2030 通信インターフェイス、2040 ハードディスクドライブ、2050 フレキシブルディスク・ドライブ、2060 CD−ROMドライブ、2070 入出力チップ、2075 グラフィック・コントローラ、2080 表示装置、2082 ホスト・コントローラ、2084 入出力コントローラ、2090 フレキシブルディスク、2095 CD−ROM

10 被测试设备、100 测试装置、110 系统控制部、120 测试模块部、122 第 1测试模块、124 第 2测试模块、130 测试控制部、140 连接部、142 识別部、144 转换部、146 存储部、148 通道切换部、152 切换部、154 FIFO缓存器、156 FIFO缓存器、158 FIFO缓存器、162 切换部、164 FIFO缓存器、166 FIFO缓存器、168 FIFO缓存器、172 通道切换部、1900 计算机、2000 CPU、2010 ROM、2020 RAM、2030 通信接口、2040 硬盘驱动器、2050 软盘驱动器、2060 CD-ROM驱动器、2070 输入输出芯片、2075 图形控制器、2080 显示装置、2082 主控制器、2084 输入输出控制器、2090 软盘、2095 CD-ROMCN 10218573239 A - 中国語 特許翻訳例文集

3. 前記制御ユニットは、試験パッチを生成するのに用いられた前記印刷データからの装置空間値を転送して1つ又はそれ以上のカラー・ルックアップテーブル（CLUT）を通し、各々の使用可能なICCプロファイルに対するPCS値を生成することを特徴とする請求項2に記載の印刷システム。

3.根据权利要求 2所述的印刷系统，其中所述控制单元使装置空间值穿过一个或多个色彩查找表 (CLUT)，以为每个可用的 ICC特性文件生成 PCS值，所述装置空间值来自用于生成测试块的打印数据。 - 中国語 特許翻訳例文集

ドライブモードでは、送信バッファ506はTESTER＿IOを介して試験システム（試験装置）から信号を受信し、それをバッファリングし、（‘378号出願でDUT＿IOドライバと称された）すべてのDUTのI／Oドライバに分配する。入力の終結はCHIO＿VTERM＿ENAによって制御することでオン又はオフすることができる。終端処理が有効である場合には、受信バッファ508がオンとなり、受信バッファの電源が終端電圧であるCHIO−VTとなる。終端処理が無効である場合には、受信バッファ508がオフとなる。

在驱动模式中，发送缓冲器 506经由 TESTER_IO从测试系统 (测试器 )接收信号，对其进行缓冲，并且将其分发到所有的 DUT I/O驱动器 (在’378申请中被称作 DUT_IO驱动器 )。 输入端接可以是导通或关断，如通过 CHIO_VTERM_ENA来控制的。 - 中国語 特許翻訳例文集