「試験中のユニット」に関連した中国語例文の一覧 -中国語例文検索

【図5】図1に示す並列試験回路のうちの1つの送信／受信ユニットを如何に構成できるかをより詳細に示す図である。

图 5更详细地图示出图 1所示并行测试电路中的一个的发送 /接收单元可被如何配置； - 中国語 特許翻訳例文集

図5は、図1に示す並列試験回路106、108のうちの1つの送信／受信ユニット112、114を如何に構成できるかをより詳細に示す図である。

图 5更详细地图示出图 1所示的并行测试电路 106、108中的一个的发送 /接收单元 112、114可被如何配置。 - 中国語 特許翻訳例文集

携帯型試験装置600がトランシーバ10とインターフェースされると、(上述したようにトランシーバ回路90，メモリユニット92及び／またはデジタル診断ユニット93に格納することができる)トランシーバ情報及び／または、メモリユニット426に格納されているような、エレクトロニクス装置情報(例えばポート識別子情報)がメモリユニット610に通信される。

当便携式测试设备 600与收发机 10接口时，收发机信息 (如前所述可存储在收发机电路 90、存储器单元 92和 /或数字诊断单元 93的信息 )和 /或 (例如存储在存储器单元 426中的 )电子设备信息 (例如端口标识信息 )被传送至存储器单元 610。 - 中国語 特許翻訳例文集

図6は、図1で示す各並列試験回路106、108の送信／受信ユニット112、114を、並列試験回路106と108の間での信号の遅延を調整できるよう構成する例示的な方法を示す図である。

图 6图示出用于配置图 1中示出的每个并行测试电路 106、108的发送 /接收单CN 10201748913 AA 说 明 书 6/6页元 112、114以使得并行测试电路 106、108之间的信号延迟能够得到调节的示例性方式。 - 中国語 特許翻訳例文集

逆に、並列試験回路106、108における送信／受信ユニット112、114のアクティブドライバについては、伝送路網104上でタイミング及び電圧の情報を有する信号を伝送するよう、それぞれ構成することができる。

相反，并行测试电路 106、108中的发送 /接收单元 112、114的有源驱动器可以每次一个地被配置为经由传输线路网络 104发送承载了定时和电压信息的信号。 - 中国語 特許翻訳例文集

図示したように、並列試験回路106、108の各々は、調整可能な遅延要素600、602を備え、各調整可能な遅延要素600、602の入力は、送信／受信ユニット106、108のうちの1つのそれぞれのレシーバ出力604、606に連結する。

如所示出的，并行测试电路 106、108中的每一个设置有可调节延迟元件 600、602； 并且每个可调节延迟元件 600、602的输入被耦合到发送 /接收单元 106、108中的一个的相应的接收器输出 604、606。 - 中国語 特許翻訳例文集

再度図1を参照すると、図1は図3に示す伝送路網を如何に使用して、試験システム102（例えば回路試験装置）の単一の試験チャネルを、‘378号出願で開示された並列試験回路106、108のうちの2つにファンアウトすることができるか（そして最終的に複数のDUTのI／O116にファンアウトできるか）を示している。伝送路網104上でのデータフローの所望の方向に依存して、1）送信／受信ユニット110、112、114の各々を送信モード又は受信モードに動的に置くように、さらに2）各送信／受信ユニット110、112、114のアクティブな終端処理を動的に有効及び無効にするように、図3及び図4で示すような制御システムを構成することができる。

现返回参考图 1，图 1图示出图 3所示的传输线路网络可以如何用来将测试系统102(例如，电路测试器 )的单个测试通道扇出到’ 378申请中所公开的两个并行测试电路 106、108(并且最终扇出到多个 DUT I/O116)。 根据传输线路网络 104上数据流的希望方向，诸如图 3和 4中公开的控制系统之类的控制系统可被配置为： - 中国語 特許翻訳例文集

3. 前記制御ユニットは、試験パッチを生成するのに用いられた前記印刷データからの装置空間値を転送して1つ又はそれ以上のカラー・ルックアップテーブル（CLUT）を通し、各々の使用可能なICCプロファイルに対するPCS値を生成することを特徴とする請求項2に記載の印刷システム。

3.根据权利要求 2所述的印刷系统，其中所述控制单元使装置空间值穿过一个或多个色彩查找表 (CLUT)，以为每个可用的 ICC特性文件生成 PCS值，所述装置空间值来自用于生成测试块的打印数据。 - 中国語 特許翻訳例文集