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「A.D.C.」を含む例文一覧
該当件数 : 165件
2.列 ADC的配置例子
2．カラムADCの構成例 - 中国語 特許翻訳例文集
< 2.列 ADC的配置例子 >
＜2．カラムADCの構成例＞ - 中国語 特許翻訳例文集
[列 ADC的示例性配置 ]
［カラムADCの構成例］ - 中国語 特許翻訳例文集
ADC1035a/1035b可以使用 delta-sigma型 ADC、flash型 ADC或其它类型的ADC来实现。
ADC1035a／1035bは、デルタシグマADC、フラッシュADC、または任意の他のタイプのADCを使用して実装できる。 - 中国語 特許翻訳例文集
根据实施例的列处理电路组 150具有作为 ADC块的列处理电路 (ADC)151的多个列。
本実施形態のカラム処理回路群150は、ADCブロックであるカラム処理回路（ADC）151が複数列配列されている。 - 中国語 特許翻訳例文集
本实施例的列并行处理部分 160由作为 ADC块的多个列处理电路 (ADC)161形成。
本実施形態の列並列処理部160は、ADCブロックであるカラム処理回路（ADC）161が複数列配列されている。 - 中国語 特許翻訳例文集
ADC 161还包括传输开关 165。
ADC161は、転送スイッチ165を有する。 - 中国語 特許翻訳例文集
模 /数转换器 (ADC)132产生数字版本。
アナログ−デジタル変換器（ADC）132は、デジタルバージョンを生成する。 - 中国語 特許翻訳例文集
减少 ADC的数量可改善 IQ匹配并减少成本。
ADCの数を減らすことで、IQのマッチングを改善し、コストを低減し得る。 - 中国語 特許翻訳例文集
可调节 ADC采样率可以是 40n MHz。
調整可能なADCサンプリングレートは、40nMHzであることができる。 - 中国語 特許翻訳例文集
在列处理电路组 150中，使用来自 DAC 160的参照信号 SLP_ADC、对来自像素部件110的模拟输出执行 APGA-可兼容的积分 ADC和数字 CDS，以输出多个比特的数字信号。
ADC群150では、ADCブロック（各カラム部）でそれぞれ、画素部110のアナログ出力をDAC160からの参照信号SLPADCを使用したAPGA対応積分型ADC、およびデジタルCDSを行い、数ビットのデジタル信号を出力する。 - 中国語 特許翻訳例文集
另外，每个 ADC 151还具有对比较时间计数并保持计数结果的计数器锁存器 153。
さらに、各ADCは、比較時間をカウントし、カウント結果を保持するカウンタラッチ153を有する。 - 中国語 特許翻訳例文集
用于 AD转换的参照信号 SLP_ADC的斜率根据斜率确定信息变化。
AD変換用参照信号SLP＿ADCの傾きは、傾き決定情報により変化する。 - 中国語 特許翻訳例文集
另外，适当参数设定改进 ADC输出处的信号量化噪声比 (SQNR)。
さらに、適切なパラメータ設定は、ADC出力において、信号対量子化雑音比（SQNR）を改善する。 - 中国語 特許翻訳例文集
另外，适当参数设定增加 ADC输出处的信号量化噪声比 (SQNR)。
さらに、適切なパラメータ設定は、ADC出力において、信号対量子化雑音比（SQNR）を減少させる。 - 中国語 特許翻訳例文集
图 1是示出安装列并列 ADC的 CMOS传感器的结构实例的框图；
【図1】列並列ADC搭載のCMOSセンサの構成例を示すブロック図である。 - 中国語 特許翻訳例文集
在一些实施例中，干扰样本 212可以是由 RF/ADC电路 202提供的 I/Q样本。
ある実施形態で、干渉サンプル212は、RF／ADC回路202によって与えられるI／Qサンプルであってよい。 - 中国語 特許翻訳例文集
LPF 122的输出耦合至低速 ADC 128。
LPF122の出力は低速ADC128に結合される。 - 中国語 特許翻訳例文集
在操作时，处理器 111根据 ADC 128提供的低频信号来控制放大器 121的增益，使得在高速 ADC 127和低速 ADC 128的输入处的信号功率水平针对 ADC的动态范围进行优化。
動作時、プロセッサ111は、高速ADC127および低速ADC128の入力における信号パワーレベルがADCのダイナミックレンジに対して最適化されるように、ADC128によって提供される低周波数信号に従って増幅器121の利得を制御する。 - 中国語 特許翻訳例文集
19.根据权利要求 18所述的装置，进一步包括： 耦接到所述第二 ADC的延迟元件，其中所述延迟元件被配置成延迟来自所述第二 ADC的各个取样信号，从而使各个内插样本与来自所述第二 ADC的对应取样信号同步。
19. 前記第2のADCに連結された遅延要素であって、補間された各サンプルが前記第2のADCからの前記対応するサンプリングされた信号と同期するよう、前記第2のADCからの各サンプリングされた信号を遅延するよう構成された遅延要素をさらに備える、請求項18に記載の装置。 - 中国語 特許翻訳例文集
图 3为框图，描述了根据本发明实施例的安装列并行 ADC的固态成像装置 (CMOS图像传感器 )的配置例子；
【図3】本発明の実施形態に係る列並列ADC搭載固体撮像素子（CMOSイメージセンサ）の構成例を示すブロック図である。 - 中国語 特許翻訳例文集
图 3为框图，描述了根据本发明实施例的安装列并行 ADC的固态成像装置 (CMOS图像传感器 )100的配置例子。
図3は、本発明の実施形態に係る列並列ADC搭載固体撮像素子（CMOSイメージセンサ）の構成例を示すブロック図である。 - 中国語 特許翻訳例文集
图 5描述了根据量化比特的数目改变用于 AD转换的参照信号 SLP_ADC的斜率。
図5は、AD変換用参照信号SLP＿ADCの傾きが量子化ビット数により変化することを示す図である。 - 中国語 特許翻訳例文集
图 6描述了根据模拟增益的设置值改变用于 AD转换的参照信号 SLP_ADC的斜率。
図6は、AD変換用参照信号SLP＿ADCの傾きがアナログゲイン設定値により変化することを示す図である。 - 中国語 特許翻訳例文集
因此，黑化检测钳制电压 SLP_SUN随用于 AD转换的参照信号 SLP_ADC的斜率而变化，如图 8中所示。
このため、図8に示すように、AD変換用参照信号の傾きSLP＿ADCに合わせて黒化検出用クランプ電圧SLP＿SUNが変動する。 - 中国語 特許翻訳例文集
总而言之，根据来自固态成像装置 (CMOS图像传感器 )外部的通信内容，确定用于AD转换的参照信号 SLP_ADC的斜率。
一般的に、AD変換用参照信号SLP＿ADCの傾きは固体撮像素子（CMOSイメージセンサ）外部からの通信内容により決定される。 - 中国語 特許翻訳例文集
用于 AD转换的参照信号 SLP_ADC从相对钳制电压具有某偏移电压的电压开始倾斜。
AD変換用参照信号SLP＿ADCは、クランプ電圧に対してあるオフセット電圧をもった電圧から傾きが開始される。 - 中国語 特許翻訳例文集
重复此过程，能够为用于 AD转换的参照信号 SLP_ADC设置最佳钳制电压。
この処理を繰り返すことにより、AD変換用参照信号SLP＿ADCに応じた最適なクランプ電圧設定を行うことができる。 - 中国語 特許翻訳例文集
另外，合适的参数设定增加了ADC输出处的信号量化噪声比(SQNR)。
さらに、適切なパラメータ設定は、ADC出力において、信号対量子化雑音比（SQNR）を減少させる。 - 中国語 特許翻訳例文集
此经组合的信号在 618处被低通滤波 (LPF)且由单一模 /数转换器 (ADC)620转换到数字格式。
この合成信号は、618にてローパスフィルタリング（LPF）され、単一アナログ−デジタル変換器（ADC）620によってデジタル形式に変換される。 - 中国語 特許翻訳例文集
图 1是示出其中并入列并行 ADC的固态成像设备 (CMOS图像传感器 )的示例性配置的框图；
【図1】列並列ADC搭載固体撮像素子（CMOSイメージセンサ）の構成例を示すブロック図である。 - 中国語 特許翻訳例文集
图 3是示出按照本发明实施例的其中并入列并行 ADC的固态成像设备 (CMOS图像传感器 )的示例性配置的框图；
【図3】本発明の実施形態に係る列並列ADC搭載固体撮像素子（CMOSイメージセンサ）の構成例を示すブロック図である。 - 中国語 特許翻訳例文集
图 3是示出按照本发明实施例的其中并入列并行 ADC的固态成像设备 (CMOS图像传感器 )的示例性配置的框图。
図3は、本発明の実施形態に係る列並列ADC搭載固体撮像素子（CMOSイメージセンサ）の構成例を示すブロック図である。 - 中国語 特許翻訳例文集
而且，ADC的每个包括对比较时间计数的计数器 163和保持由计数器 163执行计数的结果的存储器 (锁存器 )164。
さらに、各ADCは、比較時間をカウントするカウンタ163と、カウンタ163のカウント結果を保持するメモリ（ラッチ）164を有する。 - 中国語 特許翻訳例文集
增益调整部 31对输入至 CDS/ADC部 3的摄像图像的 RGB分量的增益量进行调整。
ゲイン調整部31は、CDS／ADC部3に入力された撮像画像のRGB成分のゲイン量を調整する。 - 中国語 特許翻訳例文集
在其它配置中，第一输入音频信号 84A和第二输入音频信号 84B可由 ADC转换。
他の構成では、第1の入力オーディオ信号84Aおよび第2の入力オーディオ信号84Bは、ADCによって変換される場合がある。 - 中国語 特許翻訳例文集
在一些实施例中，干扰样本 212(图 2)可以是由 RF/ADC电路 202(图 2)提供的 I/Q样本。
ある実施形態で、干渉サンプル212（図2）は、RF／ADC回路202（図2）によって供給されるI／Qサンプルであってよい。 - 中国語 特許翻訳例文集
一般而言，ADC采样率 fadc可以与码元率 f码元成任何整数或非整数倍数的关系。
一般に、ADCサンプリングレートfadcは任意の整数あるいは非整数因数により記号レートfsymと関連してもよい。 - 中国語 特許翻訳例文集
一般而言，ADC采样率 fadc可以与码元率 fsym成任何整数或非整数倍的关系。
一般に、ADCサンプリングレートfadcは、任意の整数または非整数ファクタによってシンボルレートfsymに関係付けられ得る。 - 中国語 特許翻訳例文集
图 5是在本发明中采用的可以用来计算 ADC样本和的电路的示意图；
【図5】図5は、本発明で用いられるADCサンプルの和を計算するために使用され得る回路の概略図である - 中国語 特許翻訳例文集
ADC 26a执行将像素信号转换为数字信号的处理。
ADC26aでは、画素信号がデジタルの信号に変換する処理が行われる。 - 中国語 特許翻訳例文集
增益调整器 SFNGA1105A和 SFNGA2105B耦合到 ADC 112A、112B，且为可选的。
利得調整器SFNGA1 105AおよびSFNGA2 105Bは、ADC112A、112Bに結合され、任意である。 - 中国語 特許翻訳例文集
ADC 127和 128的输出由 DSP单元 110进行监测。
ADC127および128の出力は、DSPユニット110によって監視される。 - 中国語 特許翻訳例文集
DAC控制部件执行控制，以使得针对将经受列处理电路组 150中各个列处理电路(ADC)的 AD转换的每行，来调整参照信号 SLP_ADC的斜率。
DAC制御部は、カラム処理回路群150の各カラム処理回路（ADC）151のAD変換を行う行ごとに、参照信号SLPADCの傾きを調整するように制御する。 - 中国語 特許翻訳例文集
即，列处理电路组 150具有 k个比特的数字信号的转换功能，并且具有分别针对垂直信号线 (列线 )116-1～ 116-n布置的各 ADC 151，从而形成列并行 ADC块。
すなわち、カラム処理回路群150は、kビットデジタル信号変換機能を有し、各垂直信号線（列線）116−1〜116−n毎に配置され、列並列ADCブロックが構成される。 - 中国語 特許翻訳例文集
如图 5中所示，随量化比特的数目变大，用于 AD转换的参照信号 SLP_ADC的斜率变得平缓，随量化比特的数目变小，用于 AD转换的参照信号 SLP_ADC的斜率变陡峭。
AD変換用参照信号SLP＿ADCの傾きは、図5に示すように、量子化ビット数が多いほど緩やかになり、量子化ビット数が少ないほど急になる。 - 中国語 特許翻訳例文集
如图 6中所示，随模拟增益的设置值变高，用于 AD转换的参照信号 SLP_ADC的斜率变得平缓，随模拟增益的设置值变低，用于 AD转换的参照信号 SLP_ADC的斜率变得陡峭。
また、AD変換用参照信号SLP＿ADCの傾きは、図6に示すように、アナログゲイン設定値が高いほど緩やかになり、アナログゲイン設定値が低いほど急になる。 - 中国語 特許翻訳例文集
如图 10中所示，校正偏置选择部件 170中的比较器 171把用于 AD转换的参照信号 SLP_ADC与针对黑化检测时间段 K1的钳制电压加以比较，以检测用于 AD转换的参照信号 SLP_ADC的斜率。
図10に示すように、補正用バイアス選択部170の比較器171にてAD変換用参照信号SLP＿ADCと黒化現象検出期間K1クランプ電圧を比較し、その傾きを検出する。 - 中国語 特許翻訳例文集
在每个列处理电路 (ADC)151中，针对每列而布置的比较器 152把读取至垂直信号线 116的模拟像素信号 SIG与参照信号 SLP_ADC加以比较。
各カラム処理回路（ADC）151において、垂直信号線116に読み出されたアナログ画素信号SIGが列毎に配置された比較器152で参照信号SLPADCと比較される。 - 中国語 特許翻訳例文集
从 ADC 620的输出 622经由自动增益控制 (AGC)624的闭合回路反馈调整在到 ADC 620的输入处的放大器 626，以用于获得 ADC 620的全分辨率能力。
自動利得制御（AGC）624を通るADC620の出力622からの閉ループフィードバックは、ADC620の全分解能能力を得るために、ADC620への入力の増幅器626を調整する。 - 中国語 特許翻訳例文集
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