「AD変換」に関連した中国語例文の一覧 -中国語例文検索

また、例えば、2行2列のビニング読出しをすることを考慮すると、N個の保持回路H1〜HNのうち奇数列に対応する保持回路を第1組とし、偶数列に対応する保持回路を第2組として、これら第1組および第2組それぞれに対して個別にAD変換部を設けて、これら2つのAD変換部を並列動作させるのも好ましい。

另外，例如，如考虑作 2行 2列的像素并邻组合读出，优选为以如下方式： 将N个保持电路 H1～ HN之内对应于奇数列的保持电路作为第 1组、对应于偶数列的保持电路作为第 2组，对这些第 1组及第 2组的各个个别地设置 A/D转换部，使这 2个 A/D转换部作并联动作。 - 中国語 特許翻訳例文集

以上のように、本例に係る構成および制御動作によれば、リセットレベルのAD変換結果と画素信号レベルのAD変換結果との差分処理(CDS)後の信号がフルカウント値以上を出力する事ができ、非常に強力な過大光が入射した場合に画像が黒く沈んでしまう問題を防止することができる点で有利である。

如以上所示，根据本例的结构和控制动作，复位电平的模数变换结果和像素信号电平的模数变换结果之间的差分处理 (CDS)后的信号能够输出全部计数值以上，在入射极强光的情况下能够防止图像变暗黑的问题，在这一点是有利的。 - 中国語 特許翻訳例文集

【図2】通常光量時および黒化現象が発生する非常に強い光量時の読み出し選択行の動作およびAD変換方法を説明する図である。

图 2A和 2B解释了在光量正常时和光极强而导致黑化现象时针对将被读取的像素行的操作和 AD转换； - 中国語 特許翻訳例文集

【図9】本実施形態に係る補正用バイアス選択部内に形成されるAD変換用参照信号の傾きに対するクランプ電圧テーブルの一例を示す図である。

图 9描述了根据实施例的校正偏置选择部件中形成的用于 AD转换的参照信号的斜率的钳制电压表的例子； - 中国語 特許翻訳例文集

DAC制御部は、カラム処理回路群150の各カラム処理回路（ADC）151のAD変換を行う行ごとに、参照信号SLPADCの傾きを調整するように制御する。

DAC控制部件执行控制，以使得针对将经受列处理电路组 150中各个列处理电路(ADC)的 AD转换的每行，来调整参照信号 SLP_ADC的斜率。 - 中国語 特許翻訳例文集

したがって、AD変換用参照信号SLP＿ADCの傾きは、たとえば量子化ビット数、アナログゲイン設定値、カラムAD回路カウント動作部の周波数により変化する。

因此，由例如量化比特的数目、模拟增益的设置值、或者列 AD电路中计数器部分的频率改变用于 AD转换的参照信号 SLP_ADC的斜率。 - 中国語 特許翻訳例文集

AD変換用参照信号SLP＿ADCの傾きは、図5に示すように、量子化ビット数が多いほど緩やかになり、量子化ビット数が少ないほど急になる。

如图 5中所示，随量化比特的数目变大，用于 AD转换的参照信号 SLP_ADC的斜率变得平缓，随量化比特的数目变小，用于 AD转换的参照信号 SLP_ADC的斜率变陡峭。 - 中国語 特許翻訳例文集

したがって、P相期間およびD相期間において、AD変換用参照信号SLP＿ADCが画素信号SIGと一致するまでの時間（カウント値）が異なる。

因此，用于 AD转换的参照信号 SLP_ADC达到与像素信号 SIG一致所需的时间 (计数值 )在 P-相位时间段和 D-相位时间段之间不同。 - 中国語 特許翻訳例文集

また、AD変換用参照信号SLP＿ADCの傾きは、図6に示すように、アナログゲイン設定値が高いほど緩やかになり、アナログゲイン設定値が低いほど急になる。

如图 6中所示，随模拟增益的设置值变高，用于 AD转换的参照信号 SLP_ADC的斜率变得平缓，随模拟增益的设置值变低，用于 AD转换的参照信号 SLP_ADC的斜率变得陡峭。 - 中国語 特許翻訳例文集

図9は、本実施形態に係る補正用バイアス選択部内に形成されるAD変換用参照信号の傾きに対するクランプ電圧テーブルの一例を示す図である。

图 9描述了根据实施例的校正偏置选择部件中形成的用于 AD转换的参照信号的斜率的钳制电压表的例子。 - 中国語 特許翻訳例文集

図10に示すように、補正用バイアス選択部170の比較器171にてAD変換用参照信号SLP＿ADCと黒化現象検出期間K1クランプ電圧を比較し、その傾きを検出する。

如图 10中所示，校正偏置选择部件 170中的比较器 171把用于 AD转换的参照信号 SLP_ADC与针对黑化检测时间段 K1的钳制电压加以比较，以检测用于 AD转换的参照信号 SLP_ADC的斜率。 - 中国語 特許翻訳例文集

補正用バイアス選択部170内にて、AD変換用参照信号（SLP＿ADC）を画素信号（SIG）ではなく、黒化現象検出期間K1クランプ電圧と比較する。

在校正偏置选择部件 170中，用于 AD转换的参照信号 (SLP_ADC)与针对黑化检测时间段 K1的钳制电压而不是与像素信号 (SIG)进行比较。 - 中国語 特許翻訳例文集

このため、このオフセット電圧とクランプ電圧と交わるまでのカウンタ172によるカウント数により、現状のAD変換用参照信号（SLP＿ADC）の傾きが求まる。

因此，用于 AD转换的当前参照信号 (SLP_ADC)的斜率从计数器 172所计数的计数值获取，直至偏移电压与钳制电压交叉。 - 中国語 特許翻訳例文集

また、黒化検出用クランプ電圧を、AD変換用参照信号の傾きに合わせて最適なものへ連動させることにより、黒化補正範囲を通常より広げることが可能となる。

另外，黑化检测钳制电压根据用于 AD转换的参照信号的斜率设置为最佳黑化检测钳制电压，从而可校正黑化的范围能够宽于正常情况下的可校正黑化的范围。 - 中国語 特許翻訳例文集

すなわち、本実施形態においては、図2のような通常構成と異なり、画素DPXからの出力信号はデジタル信号として2値判定されるので、ここにはAD変換器が存在しない。

也就是说，因为来自像素 DPX的输出信号经历二元判决作为根据本实施例的数字信号，如与图 2所示的普通配置不同，这里不涉及 AD转换器。 - 中国語 特許翻訳例文集

AD変換における相関二重サンプリングでは、信号の大きさやビット数に従って変換への所要期間が異なることが多く、広いノイズ帯域の影響を受けざるを得ない。

在 AD转换中的相关双重采样中，转换所需的时段通常根据信号的电平和位数而不同，并且不可避免地受宽噪声频带的影响。 - 中国語 特許翻訳例文集

なお、信号読出部20，AD変換部30および制御部40Aのそれぞれは、受光部10Aが集積化される半導体基板3に集積化せず、これとは別の半導体基板に集積化する構成でもあってよい。

再者，也可为如下构成： 信号读出部 20、A/D转换部 30及控制部 40A的各个并不集成化在集成化有受光部 10A的半导体基板 3中，而集成化在与其不同的半导体基板中。 - 中国語 特許翻訳例文集

N個の保持回路H1〜HNそれぞれから順次に出力された電圧値はAD変換部30に入力されて、その入力電圧値に応じたデジタル値に変換される。

从 N个保持电路 H1～ HN的各个依照顺序输出的电压值，被输入至 A/D转换部30，而转换为对应于其输入电压值的数字值。 - 中国語 特許翻訳例文集

そして、AD変換部30から出力されたN個のデジタル値のうち第1列および第2列それぞれに対応するデジタル値が加算され、その後も2個ずつのデジタル値が加算されていく。

然后，在从 A/D转换部 30所输出的 N个数字值的内，将对应于第 1列及第 2列的各个的数字值进行合计，其后也将每 2个数字值合计下去。 - 中国語 特許翻訳例文集

そして、AD変換部30から出力されたN個のデジタル値のうち第1列および第2列それぞれに対応するデジタル値が加算され、その後も2個ずつのデジタル値が加算されていく。

然后，在从 A/D转换部 30所输出的 N个数字CN 10201760291 AA 说 明 书 10/16页值之内，将对应于第 1列及第 2列的各个的数字值进行合计，其后也将每 2个数字值合计下去。 - 中国語 特許翻訳例文集

X線撮像器107から出力される画像信号は、AD変換器120によって例えば10ビット（＝1024レベル）のデジタルデータに変換され、CPU（中央処理装置）121にいったん取り込まれた後、フレームメモリ122に格納される。

从 X射线摄像器 107所输出的图像信号由 A/D转换器 120，例如转换为 10位CN 10201760291 AA 说 明 书 14/16页(＝ 1024阶 )的数字数据，一度取入至 CPU(中央处理装置 )121后，而储备于帧内存122。 - 中国語 特許翻訳例文集

この場合、奇数列に対応する保持回路と、これの隣の偶数列に対応する保持回路とから、同時に電圧値が出力され、これら2つの電圧値が同時にAD変換処理されてデジタル値とされる。

这一情况下，从对应于奇数列的保持电路、与对应于其的相邻的偶数列的保持电路同时输出电压值，将这 2个电压值同时作 A/D转换处理而成为数字值。 - 中国語 特許翻訳例文集

なお、信号読出部20，AD変換部30および制御部40Aのそれぞれは、受光部10Aが集積化される半導体基板3に集積化せず、これとは別の半導体基板に集積化する構成でもあってよい。

再者，也可为如下构成： 信号读出部 20、 A/D转换部 30及控制部 40A的各个并不集成化在集成化有受光部 10A的半导体基板 3中，而集成化在与其不同的半导体基板中。 - 中国語 特許翻訳例文集

N個の保持回路H1〜HNそれぞれから順次に出力された電圧値はAD変換部30に入力されて、その入力電圧値に応じたデジタル値に変換される。

从 N个保持电路 H1～ HN的各个依照顺序输出的电压值被输入至 A/D转换部30，而转换为对应于该输入电压值的数字值。 - 中国語 特許翻訳例文集

N個の保持回路H1〜HNそれぞれから順次に出力された電圧値はAD変換部30に入力されて、その入力電圧値に応じたデジタル値に変換される。

从 N个保持电路 H1～ HN的各个依照顺序输出的电压值，被输入至 A/D转换部30，而转换为对应于该输入电压值的数字值。 - 中国語 特許翻訳例文集

X線撮像器107から出力される画像信号は、AD変換器120によって例えば10ビット（＝1024レベル）のデジタルデータに変換され、CPU（中央処理装置）121にいったん取り込まれた後、フレームメモリ122に格納される。

从 X射线摄像器 107所输出的图像信号由 A/D转换器 120，例如转换为 10位(＝ 1024阶 )的数字数据，一度取入至 CPU(中央处理装置 )121后，而储备于帧内存122。 - 中国語 特許翻訳例文集

“列並列”とは、垂直列の垂直信号線19（列信号線の一例）に対して実質的に並列に複数のCDS処理機能部やデジタル変換部（AD変換部）などが設けられていることを意味する。

术语“列平行”是指如下的事实： 在垂直列中，对于每一垂直信号线 19(列信号线的示例 )，平行地提供多个 CDS处理功能部件、数字转换功能部件 (AD转换部件 )和其他部件。 - 中国語 特許翻訳例文集

水平走査部12は、カラムAD変換部26の各比較部252とカウンタ部254とが、それぞれが担当する処理を行なうのと並行して、各データ記憶部256が保持していたカウント値を読み出す読出走査部の機能を持つ。

水平扫描部件 12能够用作读出扫描部件，与列 AD转换部件 26的比较部件 252和计数器部件 254进行的处理并行地，从数据存储部件 256读出计数值。 - 中国語 特許翻訳例文集

具体的には、撮像装置8は、撮影レンズ802、光学ローパスフィルタ804、色フィルタ群812、画素アレイ部10、駆動制御部7、カラムAD変換部26、参照信号生成部27、カメラ信号処理部810を備えている。

更具体地说，成像装置8包括成像镜头802、光学低通滤波器804、滤色片组812、像素阵列部件 10、驱动控制部件 7、列 AD转换部件 26、基准信号产生部件 27和相机信号处理块 810。 - 中国語 特許翻訳例文集

カラムAD変換部26の後段に設けられたカメラ信号処理部810は、撮像信号処理部820と、撮像装置8の全体を制御する主制御部として機能するカメラ制御部900を有する。

在列 AD转换部件 26的下一级提供的相机信号处理块 810包括成像信号处理部件820和相机控制部件 900。 所述部件 900用作适于整体地控制成像装置 8的主控制部件。 - 中国語 特許翻訳例文集

負荷回路150は、アナログ信号読み出しおよびAD変換期間中にノイズ発生源である内部電圧生成回路180からサンプルホールド回路190のより電気的に切り離される。

在模拟信号 VSL被读出并 A/D转换时，由采样 /保持电路 190将负载电路 150与作为噪声源的内部电压生成电路 180电隔离。 - 中国語 特許翻訳例文集

比較器162は、アナログ信号読み出しおよびAD変換期間中にノイズ発生源である外部ラインからサンプルホールド回路200により電気的に切り離される。

在模拟信号被读出并 A/D转换时，由采样 /保持电路 200将比较器 162与作为噪声源的外部线电隔离。 - 中国語 特許翻訳例文集

このとき、比較器300は、アナログ信号読み出しおよびAD変換期間中にノイズ発生源である外部ラインからサンプルホールド回路200により電気的に切り離されることから、外部ノイズのADCへの回り込みが抑制される。

由于在模拟信号被读出及 A/D转换时，通过采样 /保持电路 200将比较器 300与作为噪声源的外部线电隔离，因此防止外部噪声进入 ADC。 - 中国語 特許翻訳例文集

DAC170は、たとえばDAC制御機能部の制御の下、列並列処理部160の各カラム処理回路（ADC）161のAD変換を行う行ごとに、オフセット調整した参照信号RAMPを生成する。

例如，DAC 170在 DAC控制功能部分实施的控制下，针对将经受列并行处理部分160的各个列处理电路 (ADC)161进行的 A/D转换的各行像素，生成偏移调整的基准信号RAMP。 - 中国語 特許翻訳例文集

DAC170は、アナログ信号読み出しおよびAD変換期間中にノイズ発生源である内部電圧生成回路180からサンプルホールド回路190により電気的に切り離される。

在模拟信号被读出及 A-D转换时，由采样 /保持电路 190将 DAC 170与作为噪声源的内部电压生成电路 180电隔离。 - 中国語 特許翻訳例文集

このようにDAC170は、アナログ信号読み出しおよびAD変換期間中にノイズ発生源である内部電圧生成回路180からサンプルホールド回路190により電気的に切り離されることから、ノイズのDAC、ひいてはADCへの回り込みが抑制される。

由此，防止噪声进入 DAC和 ADC。 - 中国語 特許翻訳例文集

ランプDAC171は、アナログ信号読み出しおよびAD変換期間中にノイズ発生源である内部電圧生成回路180からサンプルホールド回路190により電気的に切り離される。

以此方式，在模拟信号被读出及 A-D转换时，由采样 /保持电路 190将斜坡 DAC 171与作为噪声源的内部电压生成电路 180电隔离，并防止噪声进入 DAC和 ADC。 - 中国語 特許翻訳例文集

そして、サンプルホールド部192は、アナログ信号読み出しおよびAD変換期間中にノイズ発生源である内部電圧生成回路180からDAC、ひいてはADCから電気的に切り離すことでノイズ経路を遮断する。

在模拟信号被读出及 A/D转换的时间段期间，采样 /保持部分 192把 DAC和 ADC与作为噪声源的内部电压生成电路 180电隔离。 由此，噪声路径中断。 - 中国語 特許翻訳例文集

そして、サンプルホールド部201は、アナログ信号読み出しおよびAD変換期間中にノイズ発生源である外部ラインからADCから電気的に切り離すことでノイズ経路を遮断する。

由此，在模拟信号被读出及 A/D转换的时间段期间，采样 /保持部分 201把 ADC与作为噪声源的外部线电隔离，由此，噪声路径中断。 - 中国語 特許翻訳例文集

1H期間中のアナログ読み出しおよびAD変換を行う期間以外の期間に、サンプルホールド回路190，200がタイミング制御回路140よりサンプリングパルスSMP11，SMP12を受け取る。

在每个水平时间段内除了模拟信号被读出及 A/D转换的时间段之外的的时间段中，采样 /保持电路 190和 200从定时控制电路 140接收采样脉冲 SMP11和 SMP12。 - 中国語 特許翻訳例文集

負荷回路150およびDAC170には、アナログ読み出しおよびAD変換期間中、サンプルホールド回路190の内部容量であるキャパシタC191，C192にホールドされた電圧がバイアス電圧VBIAS11，VBIAS12として供給される。

在模拟信号被读出及 A/D转换的时间段期间，将保持在作为采样 /保持电路 190的内部电容的电容器 C191和 C192中的电压作为偏置电压 VBIAS11和 VBIAS12供给至负载电路 150和 DAC 170。 - 中国語 特許翻訳例文集

列並列処理部160の比較器162には、アナログ読み出しおよびAD変換期間中、サンプルホールド回路200の内部容量であるキャパシタC201にホールドされた電圧がバイアス電圧VBIAS13として供給される。

在模拟信号被读出及 A/D转换的时间段期间，将保持在作为采样 /保持电路 200的内部电容的电容器 C201中的电压作为偏置电压 VBIAS13供给至列并行处理部分 160的比较器 162。 - 中国語 特許翻訳例文集

このため、時間的なノイズを全く含まないDCバイアス電圧として負荷回路150、DAC170、ADCを含む列並列処理部160に供給され、AD変換期間中のノイズの伝播による画質の劣化が抑制される。

如此，将电压供给至负载电路 150、DAC 170、和包括 ADC的列并行处理部分 160，作为根本不具有时间噪声的 DC偏置电压。 因而可以抑制在 A/D转换时间段期间由于噪声传播而造成的图像质量的劣化。 - 中国語 特許翻訳例文集

図2に示す例では、バス13を経由して入力されたA／D変換部2によるAD変換後の画像データであるBayerデータ1とBayerデータ2が合成処理を行う2つの画像データである。

在图 2所示的例子中，经由总线 13输入的、按拜尔排列顺序读出的图像数据由 A/D转换部 2进行了 AD转换后的图像数据即拜尔数据 1和拜尔数据 2是进行合成处理的 2个图像数据。 - 中国語 特許翻訳例文集

スイッチSW2はリセット時はオフ（OFF）であり、画素信号をAD変換する画素AD時はオン（ON）するように、駆動制御部9等により制御される。 これは、リセット信号を

开关SW2在复位时断开 (OFF)，被驱动控制部 9等控制成，在将像素信号进行模数变换的像素模数变换时导通 (ON)。 - 中国語 特許翻訳例文集

詳細な図示は省略するが、本例は、画素アレイ10とAD変換部との間に、図10で示すリセット信号制御回路106を更に備える点で、上記第1の実施形態と相違する。

省略详细图示，本例在像素阵列 10和模数变换部之间还具备图 1所示的复位信号控制电路 106这一点上，不同于上述第一实施方式。 - 中国語 特許翻訳例文集

そこで、本例では、この問題を解決するため、上記のように、画素アレイ10とAD変換部との間に、図10で示すリセット信号制御回路106と、上記第1の実施形態に係る構成とを組み合わせて適用する。

因此，在本例中，为了解决该问题，如上所示，在像素阵列 10和模数变换部之间组合图 10所示的复位信号控制电路 106和上述第一实施方式的结构来使用。 - 中国語 特許翻訳例文集

図示するように、比較例1に係る固体撮像装置では、AD変換部に、比較的に占有面積が大きいバイアス回路105およびリセット信号制御回路106が配置されている点で、上記実施形態と相違する。

如图所示，在比较例 1的固体摄像装置中，在模数变换部配置了占有面积较大的旁路电路 105和复位信号控制电路 106，在这一点上不同于上述实施方式。 - 中国語 特許翻訳例文集

つまり、この状態でリセットレベルのAD変換結果と画素信号レベルのAD変換結果との差分処理（CDS）が行なわれるが、リセットレベル検出時にコンパレータ8が反転せずにラッチ回路14がラッチ信号を保持している場合は、画素信号AD期間時にコンパレータ8が反転しても、このラッチ信号を考慮する事により画素(PD)カウント値をフルカウント値を出力する。

即，在该状态下，进行复位电平的模数变换结果和像素信号电平的模数变换结果之间的差分处理(CDS)，但是在检测复位电平时，比较器8不反转而闩锁电路14保持闩锁信号的情况下，即使在像素信号模数变换期间时比较器 8反转，也通过考虑该闩锁信号，来输出像素 (PD)计数值的全部计数值。 - 中国語 特許翻訳例文集

つまり、この状態でリセットレベルのAD変換結果と信号レベルのAD変換結果との差分処理（CDS）が行なわれるが、リセットレベル検出時（時刻t5〜t7の期間）にカウンタのある判定bitが立ったらラッチ信号を出力し、ラッチ回路14にその信号を保持しておき、画素信号AD期間時にコンパレータ8が反転しても、このラッチ信号を考慮する事により画素(PD)カウント値をフルカウントに強制的にする。

即，在该状态下，进行复位电平的模数变换结果和信号电平的模数变换结果之间的差分处理 (CDS)，但是在检测复位电平时 (时刻 t5～ t7的器件 )，若计数器的某个判断比特成立，则输出闩锁信号，预先在闩锁电路 14保持该信号，在像素信号模数变换期间时，即使比较器 8反转，也通过考虑该闩锁信号，将像素 (PD)计数值强制性地计数到全部计数。 - 中国語 特許翻訳例文集