「ramp」に関連した中国語例文の一覧 -中国語例文検索

电容器 C311的第二电极连接至用于斜坡信号 RAMP的输入端子 TRAMP。

そして、キャパシタC311の第2電極がランプ信号RAMPの入力端子TRAMPに接続されている。 - 中国語 特許翻訳例文集

通信时序控制器 140包括控制 DAC 160中参照信号 SLP_ADC(RAMP)的生成的 DAC控制部件。

通信・タイミング制御部140は、DAC160における参照信号SLCADC（RAMP）の生成を制御するDAC制御部を含む。 - 中国語 特許翻訳例文集

每个列处理电路 (ADC)61 包括比较器 61-1，比较器 61-1 比较基准信号RAMP(Vslop)和经由垂直信号线从每个行线上的相应像素获得的模拟信号 Vs1，其中，该基准信号 RAMP是通过改变由 DAC 7逐步生成的基准信号而获得的斜坡波形。

各カラム処理回路（ADC）61は、DAC7により生成される参照信号を階段状に変化させたランプ波形である参照信号RAMP（Vslop）と、行線毎に画素から垂直信号線を経由し得られるアナログ信号Vslとを比較する比較器61−1を有する。 - 中国語 特許翻訳例文集

DAC 170生成为倾斜波形的基准信号 RAMP(斜坡信号 )，该倾斜波形在定时控制电路 140的 DAC控制功能部分实施的控制下、以一定斜率线性地变化，而 DAC向列并行处理部分 160输出基准信号 RAMP。

DAC170は、タイミング制御回路140のDAC制御機能部の制御の下、ある傾きを持った線形に変化するスロープ波形である参照信号（ランプ信号）を生成し、参照信号RAMPを列並列処理部160に供給する。 - 中国語 特許翻訳例文集

在每个列处理电路 (ADC)61，读出到垂直信号线 10的模拟信号 (电势 Vs1)在布置在列中的比较器 61-1与逐步变化的基准信号 RAMP(Vslop)相比较。

各カラム処理回路（ADC）61において、垂直信号線10に読み出されたアナログ信号（電位Vsl）が列毎に配置された比較器61−1で階段状に変化する参照信号RAMP（Vslop）と比較される。 - 中国語 特許翻訳例文集

例如，定时控制电路 140包括 DAC控制功能部分，该 DAC控制功能部分控制 DAC 170和内部电压生成电路 180执行的基准信号 RAMP(Vslop)的生成。

タイミング制御回路140は、たとえばDAC170および内部電圧生成回路180における参照信号RAMP（Vslop）の生成を制御するDAC制御機能部を含む。 - 中国語 特許翻訳例文集

ADC 161把基准信号 RAMP(电势 Vslop)的电压的变化转换为时间变化 (时间间隔 )，并且该时间间隔使用一定时间段 (时钟 )来计数，以将其转换为数字值。

ADC161は、参照信号RAMP（電位Vslop）の電圧の変化を時間の変化に変換するものであり、その時間をある周期(クロック)で数えることでデジタル値に変換する。 - 中国語 特許翻訳例文集

例如，DAC 170在 DAC控制功能部分实施的控制下，针对将经受列并行处理部分160的各个列处理电路 (ADC)161进行的 A/D转换的各行像素，生成偏移调整的基准信号RAMP。

DAC170は、たとえばDAC制御機能部の制御の下、列並列処理部160の各カラム処理回路（ADC）161のAD変換を行う行ごとに、オフセット調整した参照信号RAMPを生成する。 - 中国語 特許翻訳例文集

例如，在 DAC 170，用于 DC电平控制的箝位 DAC 172的输出信号 S172和斜坡 DAC 171的输出信号 S171被求和来生成 P阶段中的偏移调整的基准信号 RAMP(Vslop)。

そして、DAC170において、P相時には、たとえばオフセット調整を受けたDCレベル制御用のクランプDAC172の出力信号S172とランプDAC171の出力信号S171が加算されて参照信号RAMP（Vslop）が生成される。 - 中国語 特許翻訳例文集

在每个列处理电路 (ADC)161中，读出到垂直信号线 116的模拟信号电势 VSL在布置在列中的比较器 162处与基准信号 RAMP相比较。

各カラム処理回路（ADC）161において、垂直信号線116に読み出されたアナログ信号電位VSLが列毎に配置された比較器162で参照信号RAMPと比較される。 - 中国語 特許翻訳例文集

在 DAC 170，对用于 DC电平控制的箝位 DAC 172的输出信号 S172和斜坡 DAC 171的输出信号 S171求和，来生成也在 D阶段中的偏移调整的基准信号 RAMP(Vslop)。

DAC170において、D相時にも、オフセット調整を受けたDCレベル制御用のクランプDAC172の出力信号S172とランプDAC171の出力信号S172が加算されて参照信号RAMP（Vslop）が生成される。 - 中国語 特許翻訳例文集

在列处理电路组 150中，读取至垂直信号线 116的模拟像素信号 SIG由针对每列所布置的比较器 152与参照信号 SLP_ADC(作为按给定倾斜度线性变化的斜波形的斜坡信号 RAMP)进行比较。

ADC群150においては、垂直信号線116に読み出されたアナログ画素信号SIGは列毎（カラム毎）に配置された比較器152で参照信号SLCADC（ある傾きを持った線形に変化するスロープ波形であるランプ信号RAMP）と比較される。 - 中国語 特許翻訳例文集

ADC 161的每个包括作为功能部分的比较器 162，比较器 162用来比较作为通过逐步改变由 DAC 170生成的基准信号而获得的斜坡波形的基准信号 RAMP(Vslop)、与经由垂直信号线从各个行线上的相应像素获得的模拟信号 VSL。

各ADC161は、DAC170により生成される参照信号を階段状に変化させたランプ波形である参照信号RAMP（Vslop）と、行線毎に画素から垂直信号線を経由し得られるアナログ信号VSLとを比較する機能部としての比較器162を有する。 - 中国語 特許翻訳例文集