「测」に関連した中国語例文の一覧 -中国語例文検索

根据又一种可能性，将预测误差信号首先变换到频域中，从而产生系数。

更なる可能性によると、予測誤差信号は、最初に周波数領域に変換され、結果として係数が得られる。 - 中国語 特許翻訳例文集

另外，本方法规定了检查第三种可能性，即，将预测误差信号的值 (样本或系数 )设定为零。

これに加えて、その方法は、第3の可能性、すなわち、予測誤差信号の値（サンプル又は係数）をゼロにすることも検討する。 - 中国語 特許翻訳例文集

对于每个块 (比如针对其产生了预测误差信号的宏块 )进行此选择。

この選択は、予測誤差信号が生成されたマクロブロックのような各ブロックについて行われる。 - 中国語 特許翻訳例文集

以下，作为执行通常的锁住检测的功能，对 DC偏置控制部 18的各部位的功能进行说明。

以下、通常のロックイン検出を実行するものとして、DCバイアス制御部18の各部位の機能について説明する。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 7是示出用于使用第一估计方法来检测载波移位量的前序处理块的典型结构的框图；

【図7】第1の推定方法によりキャリアずれ量を検出するプリアンブル処理部19の構成例を示すブロック図である。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 11是示出用于使用第二估计方法来检测载波移位量的前序处理块的典型结构的框图；

【図11】第2の推定方法によりキャリアずれ量を検出するプリアンブル処理部19の構成例を示すブロック図である。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 13是示出实现了 PRBS生成块、BPSK调制块、乘法块和相位检测块的典型设置的框图；

【図13】PRBS発生部52、BPSK変調部53、乗算部54、及び、位相検出部55の実装の例を示すブロック図である。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 14是示出实现了 PRBS生成块、BPSK调制块、乘法块和相位检测块的另一典型设置的框图；

【図14】PRBS発生部52、BPSK変調部53、乗算部54、及び、位相検出部55の実装の他の例を示すブロック図である。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 17是示出用于使用第三估计方法来检测载波移位量的前序处理块的典型结构的框图；

【図17】第3の推定方法によりキャリアずれ量を検出するプリアンブル処理部19の構成例を示すブロック図である。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 7是示出使用第一估计方法来检测载波移位量的前序处理块 19(图 3)的典型结构的框图。

図7は、第1の推定方法によりキャリアずれ量を検出するプリアンブル処理部19（図3）の構成例を示すブロック図である。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 8是说明由图 7所示的前序处理块 19所执行的载波移位量检测处理的流程图。

図8は、図7のプリアンブル処理部19が行うキャリアずれ量検出処理を説明するフローチャートである。 - 中国語 特許翻訳例文集

利用第一估计方法，不可能检测在从最小值 (MIN)到最大值 (MAX)的范围之外的任意载波移位量。

そして、第1の推定方法では、最小値MINから最大値MAXまでの範囲以外のキャリアずれ量は、検出することができない。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 11是示出用于使用第二估计方法检测载波移位量的前序处理块 19(图 3)的典型结构的框图。

図11は、第2の推定方法によりキャリアずれ量を検出するプリアンブル処理部19（図3）の構成例を示すブロック図である。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 13是示例性地示出如何实现图 11中的 PRBS生成块 52、BPSK调制块 53、乘法块 54和相位检测块 55的框图。

図13は、図11のPRBS発生部52、BPSK変調部53、乗算部54、及び、位相検出部55の実装の例を示すブロック図である。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 14是示出作为替代如何实现图 11所示出的 PRBS生成块 52、BPSK调制块 53、乘法块 54和相位检测块 55的框图。

図14は、図11のPRBS発生部52、BPSK変調部53、乗算部54、及び、位相検出部55の実装の他の例を示すブロック図である。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 15是说明由图 11所示的前序处理块 19所执行的载波移位量检测处理的流程图。

図15は、図11のプリアンブル処理部19が行うキャリアずれ量検出処理を説明するフローチャートである。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 17是示出用于使用第三估计方法检测载波移位量的前序处理块 19(图 3)的典型结构的框图。

図17は、第3の推定方法によりキャリアずれ量を検出するプリアンブル処理部19（図3）の構成例を示すブロック図である。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 18是说明由图 17中的前序处理块 19执行的载波移位量检测处理的流程图。

図18は、図17のプリアンブル処理部19が行うキャリアずれ量検出処理を説明するフローチャートである。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 15为示出了根据示例性实施方式的校正图像检测例程 /程序的处理流程的流程图；

【図15】実施の形態に係る修正画像検出処理ルーチン・プログラムの処理の流れを示すフローチャートである。 - 中国語 特許翻訳例文集

现在将参照图 14，说明在执行图像处理以检测校正图像时的图像处理系统 10的操作。

次に図14を参照して、修正画像の検出を行う画像処理を実行する際の画像処理システム10の作用を説明する。 - 中国語 特許翻訳例文集

窗电路 (windowcircuit)109产生驱动列偏移检测电路 108和列偏移去除电路 111所需的控制信号。

ウィンドウ回路109は、列オフセット検出回路108及び列オフセット除去回路111を駆動する制御信号を生成する。 - 中国語 特許翻訳例文集

在第一实施例中所述的垂直噪声处理执行关注于在循环计算时的变化量的噪声检测。

第1の実施形態で示した垂直ノイズ処理は、巡回演算時の変化量に着目して、ノイズ検出を行うものである。 - 中国語 特許翻訳例文集

附图标记 123表示与焦点检测操作同步地控制 AF辅助光装置 116的发光的辅助光驱动电路；

123は補助光駆動回路で、焦点検出動作に同期してAF補助光装置116を点灯制御する。 - 中国語 特許翻訳例文集

另一方面，如参考图 5A、5B、6A和 6B所述，焦点检测像素具有光瞳分割功能。

一方、焦点検出用画素は図5及び図6で説明したように、瞳分割機能を有している。 - 中国語 特許翻訳例文集

同样，焦点检测像素 SHB、SVC和SVD分别接收已经通过光瞳 EPHB、EPVC和 EPVD的光束。

同様に焦点検出用画素SHB、SVC及びSVDはそれぞれ瞳EPHB、EPVC及びEPVDを通過した光束を受光する。 - 中国語 特許翻訳例文集

CPU 121获取焦点检测和摄像所需的镜头的特性数据，并将该特性数据存储在照相机存储器 144中。

また、焦点検出や撮像に必要なレンズの諸特性データを取得し、カメラ内メモリ144に保存する。 - 中国語 特許翻訳例文集

在步骤 S111中，CPU 121基于在步骤 S200中计算出的被摄体距离映射来确定焦点检测位置。

ステップS111では、ステップS200で算出した被写体距離マップに基づき、焦点検出位置を決定する。 - 中国語 特許翻訳例文集

当从主流程图中的步骤 S200跳至该子例程中的步骤 S200时，在步骤 S201中，CPU 121设置焦点检测区域。

メインフローのステップS200から当サブルーチンのステップS200にジャンプすると、ステップS201において焦点検出領域の設定を行う。 - 中国語 特許翻訳例文集

在步骤 S207中，CPU 121判别对于所有的焦点检测区域，失焦量计算是否完成。

ステップS207では、全焦点検出領域について、焦点ずれ量算出が完了したか否かを判別する。 - 中国語 特許翻訳例文集

如果在步骤 S207中 CPU 121判断出对于所有的焦点检测区域而言失焦量计算完成，则处理进入步骤 S208。

ステップS207で全焦点検出領域が完了したと判別されたときには、ステップS208に進む。 - 中国語 特許翻訳例文集

CPU 121按几个级别来区分失焦量的大小期望值，并将它们记录为与焦点检测操作的精度相关联的信息。

このような、焦点ずれ量の大小の期待値を、数段階に区別し、焦点検出動作の精度に関わる情報として記録する。 - 中国語 特許翻訳例文集

另外，可以使用与焦点检测操作的精度相关联的信息作为图像相关信息。

また、画像関連情報として、焦点検出動作の精度に関わる情報を用いることも可能である。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 17图示由 AE/AWB检测单元 73决定的第二图像数据 IMGL的每个小区域的权重的示例。

図17は、AE／AWB検出部73が決定する第2画像データの小領域ごとの重みの一例を示す。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 20图示由 AE/AWB检测单元 73决定的第一图像数据 IMGR的每个小区域的权重的示例。

図20は、AE／AWB検出部73が決定する第1画像データの小領域ごとの重みの一例を示す。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 11说明了用于解释黑化检测时间段中图 10中校正偏置选择部件操作的时序图；

【図11】図10の補正用バイアス選択部における黒化現象検出期間の動作を説明するためのタイミングチャートを示す図である。 - 中国語 特許翻訳例文集

根据校正偏置选择部件 170所设置的黑化检测钳制电压设置值 SCVL控制开关SW0～ SWN的接通 /切断。

スイッチSW0〜SWNは、補正用バイアス選択部170による黒化現象検出用クランプ電圧設定値SCVLに応じてオン、オフ制御される。 - 中国語 特許翻訳例文集

这拓宽了固定的黑化检测钳制电压设置值处的可校正黑化的范围。

これにより、固定の黒化現象検出用クランプ電圧設定値での黒化現象補正範囲が拡大する。 - 中国語 特許翻訳例文集

在图 7中，时间段 K1表示黑化检测时间段，时间段 K2表示正常驱动时间段。

なお、図7においては、K1期間は黒化現象検出期間を、K2は通常駆動期間を示している。 - 中国語 特許翻訳例文集

因此，黑化检测钳制电压 SLP_SUN随用于 AD转换的参照信号 SLP_ADC的斜率而变化，如图 8中所示。

このため、図8に示すように、AD変換用参照信号の傾きSLP＿ADCに合わせて黒化検出用クランプ電圧SLP＿SUNが変動する。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 11说明了用于解释黑化检测时间段中图 10中校正偏置选择部件操作的时序图。

図11は、図10の補正用バイアス選択部における黒化現象検出期間の動作を説明するためのタイミングチャートを示す図である。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 10中的校正偏置选择部件 170具有比较器 171、计数器 172、斜率检测部件 173、以及设置值确定部件 174。

図10の補正用バイアス選択部170は、比較器171、カウンタ172、傾き検出部173、および設定値判断部174を有する。 - 中国語 特許翻訳例文集

另外，在新视听者的情况下，分配临时识别符，追加到添加识别符的面部检测结果 600中。

また、新規の視聴者の場合は仮識別子を割り当て識別子付加顔検知結果600に追加する。 - 中国語 特許翻訳例文集

更新在 s505中判断为是已知视听者的识别符 (601)的添加识别符的面部检测结果 600信息。

s505で既知の視聴者と判断された識別子（601）の識別子付加顔検知結果600情報を更新する。 - 中国語 特許翻訳例文集

将分配了临时识别符的新视听者的信息追加到添加识别符的面部检测结果600信息中。

仮識別子を割り当てられた新規視聴者の情報を識別子付加顔検知結果600情報に追加。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 3是图示 I/P转换器的帧素材的检测方案 (通过 2-3下拉方案的转换 )的图；

【図3】I／P変換部におけるフィルム素材（2−3プルダウン方式による変換）の検出方法を説明するための図である。 - 中国語 特許翻訳例文集

图像处理装置 100包括 I/P转换器 110、图像处理器 120、以及上转换素材检测器 130。

この画像処理装置100は、I／P変換部110と、画像処理部120と、アップコンバート素材検出部130を有している。 - 中国語 特許翻訳例文集

I/P转换器 110检测与 1个场之前 (目前的 )场的内插位置对应的图像的运动。

I／P変換部110は、1フィールド前（Current）のフィールドの補間位置に対応する、画像の動きを検出する。 - 中国語 特許翻訳例文集

相应地，确定稳定器 134输出控制信号 SC进行控制以便升高检测信号Sdet的值。

そのため、判定安定化部134は、検出信号Sdetの値を上げるように制御する制御信号SCを出力する。 - 中国語 特許翻訳例文集

相应地，确定稳定器 134输出控制信号 SC进行控制以便减小检测信号 Sdet的值。

そのため、判定安定化部134は、検出信号Sdetの値を下げるように制御する制御信号SCを出力する。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 11图示了从图像处理强度确定器 135输出的检测信号 Sdet的修改的示例。

図11は、画像処理強度決定部135から出力される検出信号Sdetの変化例を示している。 - 中国語 特許翻訳例文集