「缺陷」に関連した中国語例文の一覧 -中国語例文検索

在商品没有缺陷或者出现故障的情况下，难以进行退货或者更换。

商品に欠陥や不具合がない限り、返品や交換は致しかねます。 - 中国語会話例文集

例如，普通缺陷移除算法包括在数字图像中查找色谱内、构成识别缺陷候选的形状范围内的形状的像素。

例えば、共通の欠陥除去アルゴリズムは、様々な範囲の形状の内の形を形成する色スペクトル内のピクセルに対するデジタル画像を検査して、欠陥候補を識別することを含んでいる。 - 中国語 特許翻訳例文集

检测部分 27基于每个像素的电压信号的电压电平 (该电压信号从 A/D转换器 23以预定时序提供 )，检测具有缺陷 (缺陷像素 )的像素。

検出部27は、A/D変換器23から、所定のタイミングで供給された画素毎の電圧信号の電圧レベルに基づいて、欠陥がある画素（欠陥画素）を検出する。 - 中国語 特許翻訳例文集

同样在如上所述的 PD短时间缺陷检测处理之后，如在 FD缺陷检测处理之后，如参照图 3的时序图所述读出像素信号 (像素值 )。

以上のようなPD短時間欠陥検出処理の後も、FD欠陥検出処理の後と同様に、図3のタイムチャートを参照して説明した画素信号（画素値）の読み出しが行われる。 - 中国語 特許翻訳例文集

同样，对上述缺陷像素 Ri的暂定的推算值 VR’i与若假定没有缺陷则本来应该得到的像素数据 VRi的比值ηRi(＝ VRi/VR’i)，与ηGi和ηBi具有相关性。

同様に、上記欠陥画素Riに対する暫定的な推定値VR'iと、仮に欠陥が無ければ本来得られるべき画素データVRiとの比ηRi（＝VRi／VR'i）は、ηGi及びηBiと相関を持つ。 - 中国語 特許翻訳例文集

同样，对上述缺陷像素的暂定的推算值 VR’i和若假定没有缺陷则本来应该得到的像素数据 VRi的比值 (误差率 )ηRi(＝ VRi/VR’i)，与ηGi和ηBi具有相关性。

同様に、上記欠陥画素に対する暫定的な推定値VR'iと、仮に欠陥が無ければ本来得られるべき画素データVRiとの比（誤差率）ηRi（＝VRi／VR'i）は、上記ηGiおよびηBiと相関を持つ。 - 中国語 特許翻訳例文集

为了通过再修正 ROM170a的缺陷像素位置数据对修正的像素位置范围进行扩张，设置有缺陷像素运算电路和地址选择电路。

欠陥画素演算回路及びアドレス選択回路は、再補正ROM170aの欠陥画素位置データにより、補正する画素位置範囲を拡張するために設けられている。 - 中国語 特許翻訳例文集

实施方式 1和 2中，虽然在具有不同波长滤色片的 3列 (3色 )的像素列中，以在 R列的一个像素有缺陷的情况下的例子为主体进行了说明，但在 G列或 B列的一个像素有缺陷的情况下也可以以同样的方法对缺陷像素的输出值进行推算。

実施の形態1及び2では、波長の異なるフィルタを有する3列（3色）の画素列のうち、R列の1画素に欠陥がある場合の例を主体に説明したが、G列あるいはB列の1画素に欠陥がある場合でも同様の手段で欠陥画素の出力値の推定が可能である。 - 中国語 特許翻訳例文集

电熔丝部分 45基于由比较部分 24执行的比较的结果停止存储器 41的缺陷部分(故障的存储器元件 )的功能。

eFuse部45は、比較部24の比較結果に基いて、メモリ41の欠陥部分（故障した記憶素子）の機能を停止させる。 - 中国語 特許翻訳例文集

本发明特别地能够解决上述问题和 /或避免所述缺陷。

本発明は、特に、こうした問題を解決し、かつ／またはこうした欠点を回避することを可能にする。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 1a-图 1d示出了可能出现在捕捉的数字图像中的常见闪光灯引起的眼睛缺陷的示例。

【図1】a乃至dは、捕捉されたデジタル画像に生じ得る通常のフラッシュで引き起こされた目欠陥の例を示す。 - 中国語 特許翻訳例文集

然而，可以将缺陷引入圆柱孔晶格中以产生特定局部化的部件。

しかしながら、欠陥を円筒孔の格子に導入して、特定の局在化したコンポーネントを生成することができる。 - 中国語 特許翻訳例文集

因此能够避免现有技术的高昂的成本与其它不希望的缺陷。

さらには、このようにして、従来技術アプローチに伴う高コストや他の好ましからざる欠点が回避される。 - 中国語 特許翻訳例文集

对异常分组的传统处理的又一缺陷是：

さらに、例外パケットの従来の処理に関する別の欠点は、静的帯域制限がパケット分類基準毎にカスタマイズすることができないことである。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 1是示出应用了根据本发明第一实施例的像素缺陷校正器件的成像设备的配置示例的框图；

【図1】本発明の第1実施形態に係る画素欠陥補正装置を適用した撮像装置の構成例を示すブロック図である。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 15是示出当通过以具有相同颜色的八个外围像素的平均值来替换要确定其缺陷的像素来计算伪亮度时的图像的图；

【図15】欠陥判定対象画素を同色周辺8画素の平均値で置き換えて擬似輝度を算出するイメージを示す図である。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 16A和图 16B是当仅感兴趣的像素有缺陷时处理区域的多个像素值的示例的说明图；

【図16】注目画素のみに欠陥がある場合の処理領域の複数の画素値の一例の説明図である。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 17A和图 17B是当在感兴趣的像素和外围像素中存在相邻缺陷时处理区域的多个像素值的示例的说明图；

【図17】注目画素および周辺画素に隣接欠陥がある場合の処理領域の複数の画素値の一例の説明図である。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 18是示出根据本发明第二实施例的缺陷检测和校正电路的配置示例的图；

【図18】本発明の第2実施形態に係る欠陥検出補正回路の構成例を示す図である。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 21示出了通过使用第一实施例中的像素缺陷校正处理来校正图 20中的图像所获得的图像；

【図21】図20の画像を第1実施形態の画素欠陥補正処理により補正した画像の一例である。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 1是示出应用根据本发明的实施例的像素缺陷检测和校正设备的成像装置的配置的例子的方框图；

【図1】本発明の実施形態に係る画素欠陥検出補正装置を適用した撮像装置の構成例を示すブロック図である。 - 中国語 特許翻訳例文集

CPU 101对样品图像的原始数据 205执行光学校正处理，光学校正处理包括缺陷校正、RawNR(降噪 )等 (步骤 102)。

CPU101は、試料画像のRawデータ205に対して、欠陥補正やRawNR（ノイズリダクション）等の光学補正処理を行う（ステップ102）。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 5是辅助说明图 4的缺陷检测处理中共享像素单元的操作的时序图；

【図5】図4の欠陥検出処理における共有画素ユニットの動作を説明するタイムチャートである。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 7是辅助说明图 6的缺陷检测处理中共享像素单元的操作的时序图。

【図7】図6の欠陥検出処理における共有画素ユニットの動作を説明するタイムチャートである。 - 中国語 特許翻訳例文集

地址存储部分 28存储缺陷像素的地址，该地址从检测部分 27提供。

アドレス記憶部28は、揮発性のメモリとして構成され、検出部27から供給された欠陥画素のアドレスを記憶する。 - 中国語 特許翻訳例文集

以下将参照图 6的流程图和图 7的时序图描述 PD短时间缺陷检测处理。

ここで、図6のフローチャートおよび図7のタイムチャートを参照して、PD短時間欠陥検出処理について説明する。 - 中国語 特許翻訳例文集

如此，本文所描述的实施例旨在解决传统方案的这些缺陷中的许多。

このため、本明細書で説明する実施形態は、これらの従来のアプローチの不完全性の多くに対処することを目的とする。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 4是对本发明实施方式 1所涉及的图像读取装置的缺陷像素进行说明的像素列的俯视图。

【図4】この発明の実施の形態1による画像読取装置の欠陥画素を説明する画素列の平面図である。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 8是对本发明的实施方式 2所涉及的图像读取装置的缺陷像素再修正电路部进行说明的框图。

【図8】この発明の実施の形態2による画像読取装置の欠陥画素再補正回路部を説明するブロック図である。 - 中国語 特許翻訳例文集

因此缺陷像素再修正电路部 17不使用从白修正部 15发送来的对应于被确定的像素位置的像素信号。

したがって欠陥画素再補正回路部17は特定された画素位置に対応する白補正部15から送られてきた画素信号は使用しない。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 4是对本发明实施方式 1所涉及的图像读取装置的缺陷像素进行说明的像素列的俯视图。

図4は、この発明の実施の形態1による画像読取装置の欠陥画素を説明する画素列の平面図である。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 4中，就 R列像素中第 i个像素 (以下称为Ri)有缺陷时进行说明。

図4において、R列画素のうちi番目の画素（以下Riと称する）に欠陥があるときについて説明する。 - 中国語 特許翻訳例文集

例如，若利用与缺陷像素 Ri相邻的像素 Ri-1和 Ri+1的输出平均值则可以通过以下的式子得到暂定的推定值 VR′ i。

例えば、欠陥画素Riに隣接する画素Ri−1及びRi＋1の出力平均値を用いると暫定的な推定値VR'iは以下の式で得られる。 - 中国語 特許翻訳例文集

可以把这些比值看作将对缺陷像素 Ri的暂定推算单元应用于 G列和 B列时的误差率的实测值。

これらの比は欠陥画素Riに対する暫定推定手段をG列およびB列に適用した場合の誤差率の実測値とみなすことができる。 - 中国語 特許翻訳例文集

从白修正部 15输出的 RGB三个系列的图像信号通过缺陷像素再修正电路部 170的缺陷像素运算电路，根据再修正 ROM170a的缺陷像素位置数据，对位于缺陷像素数据相邻或周围位置的像素位置数据，利用暂定推算单元 1和暂定推算单元 2进行运算处理，将三个系列的 RGB图像信号作为一列的逐列输出信号 (SIG)输出到系统主体等。

白補正部15から出力された3系列のRGB画像信号は、欠陥画素再補正回路部170の欠陥画素演算回路で再補正ROM170aの欠陥画素位置データにより欠陥画素データに隣接又は周辺に位置する画素位置データを欠陥画素演算回路で暫定推定手段1及び暫定推定手段2を用いて演算処理し、1ラインの順次出力信号（SIG）として3系列のRGB画像信号をシステム本体などに送出する。 - 中国語 特許翻訳例文集

缺陷像素再修正电路部 170基于地址选择电路的像素位置数据进行运算处理。

欠陥画素再補正回路部170は、アドレス選択回路の画素位置データに基づき演算処理する。 - 中国語 特許翻訳例文集

因此，能够降低由前灯 98及刹车灯 99的点亮引起的、在合成图像的重复部分所产生的缺陷。

このため、ヘッドライト98及びブレーキランプ99の点灯に起因して合成画像の重複部分に生じる不具合を低減できる。 - 中国語 特許翻訳例文集

我公司因发现了所经营的商品的缺陷，所以在报纸上登出了不良商品的通知。

我が社が取り扱っている商品に欠陥が見つかったため、欠陥商品のお知らせを新聞に掲載した。 - 中国語会話例文集

可以说是由于没有检查出系统构造上的缺陷而造成了这次的故障。

システムの構造上の欠陥とチェックの見落としが重なり招かれた障害であると言えます。 - 中国語会話例文集

图 10是示出根据本实施例的缺陷检测和校正电路的配置的第二例子的图，且也是示出将排除最大和最小值的六个像素的平均值设置为具有不同颜色的像素的平均值的缺陷检测和校正电路的图；

【図10】本実施形態に係る欠陥検出補正回路の第2の構成例を示す図であって、異色隣接画素の平均値を、最大値、最小値を除いた6画素平均とする欠陥検出補正回路を示す図である。 - 中国語 特許翻訳例文集

接着，对与缺陷像素 Ri在副扫描方向处于不同像素列上、且与 Ri在主扫描方向上处于相同位置的像素 Gi和 Bi，以与缺陷像素 Ri所实施的方法相同的方法求出像素 Gi和像素 Bi的暂定推算值。

次に、欠陥画素Riとは副走査方向に異なる画素列上にあり、かつRiと主走査方向で同じ位置にある画素GiおよびBiに対して、欠陥画素Riで行ったものと同一手段で画素Gi及び画素Biの暫定推定値を求める。 - 中国語 特許翻訳例文集

例如，作为用于再修正的数学式，利用上述ηGi和ηBi的平均值，缺陷像素再修正电路部 17将以下所示的暂定推算单元 1和暂定推算单元 2相乘作为对缺陷像素 Ri进行修正后 (数据替换后 )的输出值。

例えば、再補正に用いる数式として、上記ηGiおよびηBiの平均値を用いて以下に示す暫定推定手段1と暫定推定手段2とを乗算して欠陥画素Riに対する補正後（データ置き換え後）の出力値とする。 - 中国語 特許翻訳例文集

即，虽然像素检测电路 16使 A/D转换部 13的输出产生分支后，不通过黑修正部 14和白修正部 15输出到像素修正电路部 17、170，但是在缺陷像素是 ON(饱和输出或 GND输出 )的输出还是 OFF(GND输出或饱和输出 )的输出不明确的情况下，由于即使是通过了黑修正部 14和白修正部 15的被黑白修正后的输出，也可以通过精细地设定缺陷像素的阈值范围与缺陷像素的判定相对应，所以也可以将像素检测电路 16和像素修正电路部 17、170组合起来。

すなわち、画素検出回路16は、A／D変換部13の出力から分岐させて、黒補正部14及び白補正部15を介さないで画素補正回路部17、170に出力するようにしたが、欠陥画素がON（飽和出力又はGND出力）／OFF（GND出力又は飽和出力）的な出力であることが明らかな場合は、黒補正部14及び白補正部15を介した白黒補正された出力であっても欠陥画素の閾値範囲を細かく設定することにより欠陥画素の判定に対応できるので画素検出回路16を画素補正回路部17、170に組み込んでも良い。 - 中国語 特許翻訳例文集

当在从时间 T6到时间 T7的时段期间 VSL 57的电压电平的改变因此大于预定阈值时，检测部分 27在步骤 S15为地址存储部分 28提供指示设为缺陷检测的目标的像素 (光电二极管 51-1)的位置的地址作为缺陷像素的地址，并且使得地址存储部分 28存储该地址。

このように、時刻T6乃至T7の期間の、VSL57における電圧レベルの変化が所定の閾値より大きい場合、ステップS15において、検出部27は、欠陥検出対象となっている画素（フォトダイオード51−1）の位置を示すアドレスを、欠陥画素のアドレスとして、アドレス記憶部28に供給し、記憶させる。 - 中国語 特許翻訳例文集

此外，实施方式 1中利用了相对缺陷像素在读取宽度方向上相邻的两侧的受光部数据，但是，也可以考虑位于缺陷像素相反侧的相邻像素而向两侧的受光部数据中添加加权后的系数以用于暂定推算单元 1和暂定推算单元 2。

また、実施の形態1では欠陥画素に対して読み取り幅方向に隣接する両側の受光部データを用いるようにしたが、両側の受光部データには、欠陥画素と反対側にある隣接画素を考慮して重み付けした係数を付加して暫定推定手段1及び暫定推定手段2に用いても良い。 - 中国語 特許翻訳例文集

此外，实施方式 2中虽然设有地址选择电路，但是也可以由 CPU直接向缺陷像素运算电路发出扩张像素位置范围的地址扩张指示后用软件进行处理，以此来代替地址选择电路，也可以将列延迟计时器电路预先设置在缺陷像素运算电路或其他的信号处理电路部分的区域中。

なお、実施の形態2では、アドレス選択回路を設けたが、アドレス選択回路に替えてCPUから欠陥画素演算回路に直接、画素位置範囲を拡張するアドレス拡張指示を与えてソフトウェアで処理しても良く、ライン遅延タイマー回路は、あらかじめ欠陥画素演算回路やその他の信号処理回路部分の領域に設けても良い。 - 中国語 特許翻訳例文集

然而，实际上，像素缺陷噪声和 RTS噪声重叠在作为列偏移检测区域的 VOB区域的输出信号上，并且在这些噪声成分的影响下，循环计算值中产生了误差。

しかし実際には、列オフセットの検出領域であるVOBの出力信号には画素欠陥ノイズやRTSノイズが重畳しており、これらのノイズの影響によって巡回演算値に誤差が発生する。 - 中国語 特許翻訳例文集

假设这些存储器区域是缺陷的，使得当值写入地址 1的存储器区域中时，在地址 3的存储器区域中存储的值重写到预定值。

また、これらの記憶領域においては、図4（A）に示すように、アドレス1の記憶領域に値を書き込んだ場合に、アドレス3の記憶領域に記憶されている値が所定値に書き換わる欠陥があるものとする。 - 中国語 特許翻訳例文集

另一方面，当如图 4C所示确定关于存储器 41的写入顺序和读取顺序时，地址 3的存储器区域中的前述缺陷不影响固态成像设备 1的操作。

一方、図4（C）に示すように、メモリ41への書き込み順序及び読み出し順序が定まっている場合には、アドレス3の記憶領域における上述のような欠陥は、固体撮像装置1の動作に影響を与えない。 - 中国語 特許翻訳例文集

当在存储器 41中的各个存储器元件没有检测到缺陷时，生成具有与写入存储器41中的数据相同像素值的图像数据。

メモリ41の各記憶素子の欠陥が検出されなかった場合は、メモリ41に書き込まれたデータと同じ画素値を有する画像データが生成される。 - 中国語 特許翻訳例文集