「扩散」に関連した中国語例文の一覧 -中国語例文検索

在所述摄像机中，从 ASIC 60产生的热量通过接近该 ASIC 60的表面的机架主体 50的凸起部 51向机架主体 50移动，这样，热量会扩散到整个机架主体 50。

上記ビデオカメラにおいては、ASIC(60)から生じた熱は、該ASIC(60)の表面に近接したシャーシ本体(50)の隆起部(51)を通じてシャーシ本体(50)へ移動し、これによりシャーシ本体(50)全体に熱が拡散することになる。 - 中国語 特許翻訳例文集

类似地，在具有较长延迟扩散的信道中使用具有较小步长系数的外推器将会导致信道响应的“污染”或过度滤波。

同様に、長い遅延発散のチャネル内において、小さなステップサイズ係数を有する外挿部の使用は、‘汚れ（smearing）’または、チャネル応答のオーバーフィルタリングを生じさせる。 - 中国語 特許翻訳例文集

漏极门 40为设定有一定的电位的扩散区，一旦信号电荷向漏极 41输入，就能够将该信号电荷作为电流通过与该漏极 41连接的电极向外部排出。

ドレイン41は、一定の電位が設定される拡散領域であり、ドレイン41に信号電荷が入力されると、この信号電荷は電流としてドレイン41に接続された電極を介して外部に排出される。 - 中国語 特許翻訳例文集

如图 3所示，根据本实施例的像素阵列部分 16是像素共享型阵列，其中在像素列的延伸方向上安排的四个像素共享浮置扩散。 四个像素构成一个像素组 21。

本実施形態に係る画素アレイ部16は、図3に示すように、画素列（カラム）方向の4つの画素20がFDを共有する画素共有型であり、4つの画素が一つの画素群21を構成している。 - 中国語 特許翻訳例文集

接着，行扫描部分 12对于预定时段激活与包括要读出行的像素组 21相关联的行传送信号 以读出通过光电转换器件 PD获得的信号电荷到浮置扩散 22中。

次に、行走査部12は、光電変換素子PDの信号電荷をFD22に読み出すために、読み出し行を含む画素群21に対応する行転送信号φTGを所定期間アクティブにする。 - 中国語 特許翻訳例文集

在步骤 S52中，利用类似于图 4中的步骤 S4的处理，单元像素 131的目标行使浮置扩散区 145复位，并读出复位电平 (以下称作复位电平 R0)。

ステップS52において、注目行の単位画素131は、図4のステップS4と同様の処理により、浮遊拡散領域145をリセットし、リセットレベル（以下、リセットレベルR0と称する）を読み出す。 - 中国語 特許翻訳例文集

在步骤 S59中，利用类似于图 4的步骤 4的处理，单元像素 131的目标行使浮置扩散区 145复位，并读出复位电平 (以下称作复位电平 R1)。

ステップS59において、注目行の単位画素131は、図4のステップS4と同様の処理により、浮遊拡散領域145をリセットし、リセットレベル（以下、リセットレベルR1と称する）を読み出す。 - 中国語 特許翻訳例文集

在步骤 S60中，采用类似于步骤 S53的处理，单元像素 131的目标行从第二 CCD 142的存储部 174将当前帧的信号电荷 S1转移至浮置扩散区 145。

ステップS60において、注目行の単位画素131は、ステップS53と同様の処理により、現在のフレームの信号電荷S1を、第2CCD142のメモリ部174から浮遊拡散領域145に転送する。 - 中国語 特許翻訳例文集

此外，在以上描述中，在图 8的步骤 S59中，示出了当读出复位电平 R1时多余电荷N0从浮置扩散区 145中释放的实例，但多余电荷 N0也可提前被释放。

さらに、以上の説明では、図8のステップS59において、リセットレベルR1を読み出すときに不要電荷N0を浮遊拡散領域145から排出する例を示したが、事前に排出しておくようにすることも可能である。 - 中国語 特許翻訳例文集

在该情况下，如图所示，首先，在时刻 t1时，复位脉冲升高，浮点扩散部的复位信号被发送到垂直信号线 VSL。

この場合には、図示するように、まず、時刻t1の際、リセットパルスが立ち上がりフローティングディフージョン部のリセット信号が垂直信号線VSLに送られる。 - 中国語 特許翻訳例文集

此外，读取原稿 G的待读取表面 GA被从扩散板 67出射并被反射板 79反射的光 LF照射，并且光 LF在沿箭头 X的方向从读取位置 X0朝反射板 79侧偏移的反射位置 X1处被反射并成为漫射光。

また、拡散板67から出射され反射板79で反射された光LFは、読取原稿Gの被読取面GAに照射されると共に、矢印X方向で読み取り位置X0から反射板79側にずれた反射位置X1で反射されて拡散光となる。 - 中国語 特許翻訳例文集

此外，读取原稿 G的读取表面 GA被从扩散板 67出射并被反射板 79反射的光 LD照射，并且光 LD在沿箭头 X的方向从读取位置 X0朝反射板 79侧偏移的反射位置 X1处被反射并成为漫射光。

また、拡散板67から出射されて反射板79で反射された光LDは、読取原稿Gの被読取面GAに照射されると共に、矢印X方向で読み取り位置X0から反射板79側にずれた反射位置X1で反射されて拡散光となる。 - 中国語 特許翻訳例文集

因此，对来自漏光修正用像素 24的漏光信号和来自与该漏光修正用像素 24相邻的普通像素 22的信号执行的减法处理能够减少普通像素 22的浮动扩散部 (FD)37中的暗电流。

従って、漏れ込み光補正用画素24からの漏れ信号と、これに隣接する通常画素22からの信号を減算処理するとき、通常画素22におけるフローティングディフージョン部（FD）での暗電流を低減できる。 - 中国語 特許翻訳例文集

如图 8所示，在漏光修正用像素 24中形成有形成在 P型半导体阱区域 33表面上的光接收区域 54、由 n型半导体区域形成的存储部 36、由 n型半导体区域形成的浮动扩散部 (FD)37、以及溢出沟道机构 40。

漏れ込み光補正用画素24は、図8に示すように、p型半導体ウェル領域33の表面に受光領域54と、n型半導体領域によるメモリ部36と、n型半導体領域によるフローティングディフージョン部（FD）37と、オーバーフロードレイン機構40が形成される。 - 中国語 特許翻訳例文集

如图 9所示，在漏光修正用像素 24中形成有形成在 P型半导体阱区域 33表面上的光接收区域 54、由 n型半导体区域形成的存储部 36、由 n型半导体区域形成的浮动扩散部(FD)37、以及溢出沟道机构 40。

漏れ込み光補正用画素24は、図8に示すように、p型半導体ウェル領域33の表面に受光領域54と、n型半導体領域によるメモリ部36と、n型半導体領域によるフローティングディフージョン部（FD）37と、オーバーフロードレイン機構40が形成される。 - 中国語 特許翻訳例文集

为了增大CN 10201391252 AA 说 明 书 5/5页传导和辐射交换并在整块板 38上以均匀的方式扩散热通量，传导辐射板 38可以包括焊接或粘结到其外表面上的热管道 41，如图 6a和 6b所示。

伝導及び放射による交換を増し、熱流束を板38全体にわたって均一なやり方で拡散させるため、伝導放射板38は図6a及び6bに表わされているように、その外表面上にロウ付け又は接着されたヒートパイプ41を備え得る。 - 中国語 特許翻訳例文集

放大晶体管 42使其栅极连接到浮动扩散 38，使其漏极连接到电源 Vdd，且使其源极经由垂直选择晶体管 40连接到像素线 51，并进一步连接到垂直信号线 19。

増幅用トランジスタ42は、ゲートがフローティングディフュージョン38に接続され、ドレインが電源Vddに、ソースは垂直選択用トランジスタ40を介して画素線51に接続され、さらに垂直信号線19に接続されるようになっている。 - 中国語 特許翻訳例文集

此外，传输晶体管 412使其栅极端子连接到电荷传输线 331和 332，并且经由浮动扩散 FD使其漏极端子连接到复位晶体管 413的源极端子和放大晶体管 414的栅极端子。

また、転送トランジスタ412は、そのゲート端子が電荷転送線331および332に接続され、そのドレイン端子がフローティングディフュージョンFDを介してリセットトランジスタ413のソース端子と増幅トランジスタ414のゲート端子とに接続される。 - 中国語 特許翻訳例文集

图 2中的共享像素单元 41包括光电二极管 (PD0和 PD1)51-1和 51-2、传送晶体管(M0和 M1)52-1和 52-2，浮置扩散 (FD)53、重置晶体管 (M2)54、放大晶体管 (M3)55、以及选择晶体管 (M4)56。

図2の共有画素ユニット41は、フォトダイオード（PD0，PD1）51−1，51−2、転送トランジスタ（M0，M1）52−1，52−2、フローティングディフュージョン（FD）53、リセットトランジスタ（M2）54、増幅トランジスタ（M3）55、および選択トランジスタ（M4）56から構成される。 - 中国語 特許翻訳例文集

驱动信号 SEL、驱动信号 TG0和 TG1和驱动信号 RST从图 3的顶部起以第一到第四的顺序示出。 在浮置扩散 (FD)53和垂直信号线 (VSL)57的电压的电压电平从图 3的顶部起分别在第五和第六示出。

図3の上から1乃至4番目には、駆動信号SEL、駆動信号TG0，TG1、および駆動信号RSTが順に示されており、上から5，6番目には、フローティングディフュージョン（FD）53および垂直信号線（VSL）57における電圧の電圧レベルがそれぞれ示されている。 - 中国語 特許翻訳例文集

在具有较短延迟扩散的信道中使用具有较大步长系数的外推器与使用具有较小步长的外推器相比将不能够去除那么多噪声，但它将保持信道的形状。

短い遅延発散のチャネル内において、大きなステップサイズ係数を有する外挿部の使用は、小さいステップサイズの外挿部と比べて、多くのノイズを取り除くことはできないが、チャネルの外形を維持することができる。 - 中国語 特許翻訳例文集

在覆盖模式 (图 7A)中，通过接通读出门 91，将在 CCD存储器 80中被传输了一圈的信号电荷作为电信号用浮动扩散放大器 92检测并放大，并用读出电路 93从最终传输段82读出。

上書きモード（図7（a））においては、CCDメモリ80内を1周した信号電荷は、最終転送段82から読み出しゲート91をオンすることによって、フローティングディフュージョンアンプ92で電気信号として検知、増幅され、読み出し回路93を用いて読み出される。 - 中国語 特許翻訳例文集

这里，由于选择脉冲 SEL被施加至选择晶体管 147的栅电极，表示浮置扩散区 145(其释放信号电荷 S1)的电压 (下文中称作复位电平 R2)的像素信号从放大晶体管 148输出至垂直信号线 155。

ここで、選択トランジスタ147のゲート電極に選択パルスSELが印加されているので、信号電荷S1が排出された浮遊拡散領域145の電圧（以下、リセットレベルR2と称する）を示す画素信号が、増幅トランジスタ148から垂直信号線155に出力される。 - 中国語 特許翻訳例文集

在步骤 S62中，采用类似于步骤 S55的处理，单元像素 131的目标行使浮置扩散区145复位，释放当前帧的信号电荷 S1，并停止选择脉冲 SEL施加至选择晶体管 147的栅电极。

ステップS62において、注目行の単位画素131は、ステップS55と同様の処理により、浮遊拡散領域145をリセットし、現在のフレームの信号電荷S1を排出し、選択トランジスタ147のゲート電極への選択パルスSELの印加を停止する。 - 中国語 特許翻訳例文集

在读取位置 X0在慢扫描方向上的反射板 79侧，反射板 79被放置成比第一保持件51的端部 51C更靠近光轴 LT，但是由于反射板 79的安装位置基于从扩散板 67出射的光 LB的反射状态设定，因而从光轴 LT至反射板 79的距离也可在 12mm以内。

一方、副走査方向で読み取り位置X0から反射板79側では、反射板79が第1ホルダー51の端部51Cよりも光軸LTに近い配置となっているが、反射板79の取り付け位置については、拡散板67から出射された光LBの反射状態に基づいて設定されるため、光軸LTから反射板79までの距離が12mm以内であってもよい。 - 中国語 特許翻訳例文集

(虽然该图示出了六个这样的元件和相应条纹，但也可以根据应用需要使用更多或更少的元件和条纹。)反射器 74可以略微弯曲，如该图所示，以使所述条纹扩散至更宽的区，并使相邻的条纹在它们的边缘处重叠。

（図はこのような6つの光電子要素とそれぞれのストライプを示すが、用途の必要性によりもっと大きな数または小さな数の光電子要素とストライプも使用可能である。）反射子74は、図に示すように、ストライプがより広い領域に拡がり、隣接するストライプに端部で重複するように、僅かに曲面を有してもよい。 - 中国語 特許翻訳例文集

此时，在通常时 (a)，浮点扩散部 (FD)被遮光，电位变动几乎为零，由于复位信号出现与自动调零时所取得的电压几乎相等的电压，所以比较器 8反转，在该时间之前，通过由计数器 11对时钟计数值进行计数 (计测 )，由此来确定复位计数值。

この際、通常時（a）では、フローティングディフージョン部（FD）は遮光されており電位変動はほぼ無い為、リセット信号はオートゼロ時に取得したとほぼ等しい電圧が出るのでコンパレータ8は反転し、その時間までのクロックカウント値をカウンタ11でカウント（計測）することでリセットカウントが確定する。 - 中国語 特許翻訳例文集

接着，在时刻t6时，在通常时(a)，浮点扩散器FD被遮光，电位变动大致变无，所以复位信号向垂直信号线 VSL读取与在自动调零期间 (1)取得的信号大致相等的电压，所以在垂直信号线 VSL和参照电压 VREF变相等时比较器 8反转，通过在边缘检测器 10捕捉该反转时的边缘，能够在计数器 11对该时间为止的时钟计数 (count clk)的值进行计数 (计测 )，并确定复位计数。

続いて、時刻t6の際、通常時（a）では、フローティングディフージョンFDは遮光されており電位変動はほぼ無いため、リセット信号は垂直信号線VSLにはオートゼロ期間（1）中に取得した信号とほぼ等しい電圧が読み出されるので、垂直信号線VSLと参照電圧VREFが等しくなった時にコンパレータ8は反転し、エッジ検出器10でその反転時のエッジを捉える事で、その時間までのクロックカウント（count clk）の値をカウント11でカウント（計測）することでき、リセットカウントが確定する。 - 中国語 特許翻訳例文集