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「ファン試験」を含む例文一覧
該当件数 : 3件
動作上、並列試験回路700のTESTER＿IOノードにおいて受信した信号を、DUT＿IOノードのいずれか若しくは全てにファンアウトし得る、又はDUT＿IOノードのいずれかにおいて読み取った信号を、選択的にTESTER＿IOノードに戻すよう伝送し得る。
在操作中，在并行测试电路 700的 TESTER_IO节点处接收的信号可被扇出到任意或全部 DUT_IO节点，或者在任意 DUT_IO节点处读取的信号可被选择性地传回TESTER_IO节点。
- 中国語 特許翻訳例文集
再度図1を参照すると、図1は図3に示す伝送路網を如何に使用して、試験システム102（例えば回路試験装置）の単一の試験チャネルを、‘378号出願で開示された並列試験回路106、108のうちの2つにファンアウトすることができるか（そして最終的に複数のDUTのI／O116にファンアウトできるか）を示している。伝送路網104上でのデータフローの所望の方向に依存して、1）送信／受信ユニット110、112、114の各々を送信モード又は受信モードに動的に置くように、さらに2）各送信／受信ユニット110、112、114のアクティブな終端処理を動的に有効及び無効にするように、図3及び図4で示すような制御システムを構成することができる。
现返回参考图 1，图 1图示出图 3所示的传输线路网络可以如何用来将测试系统102(例如，电路测试器 )的单个测试通道扇出到’ 378申请中所公开的两个并行测试电路 106、108(并且最终扇出到多个 DUT I/O116)。 根据传输线路网络 104上数据流的希望方向，诸如图 3和 4中公开的控制系统之类的控制系统可被配置为： - 中国語 特許翻訳例文集
理論上は、単一チャネルのI／Oブロック702をより多くのDUTのI／Oブロック704、706、708、710に連結することで、信号のファンアウト／ファンインを任意の数の信号経路分（例えば4つ、若しくは8つ、若しくはその他任意の数の信号経路）のみ増加させ、‘378号出願に記載された並列試験回路を拡張することができる。しかし実際には、単一の並列試験回路700のファンアウト／ファンインを増加させると、信号精度とDUTの分離を維持することがより困難となる。例えば、より多くのDUTのI／Oブロック704、706、708、710を単一のチャネルI／Oブロック702に連結すると、類似した信号伝播特性同士を異なる信号ルート間で維持しながら、DUTのI／Oブロック704、706、708、710とチャネルI／Oブロック702との間の信号のルート設定を行うことがより困難となる。
然而，实际上，随着单个并行测试电路 700的扇出 /扇入增多，变得难以维持信号完整性和DUT隔离。 例如，随着更多的 DUT I/O块 704、706、708、710被耦合到单个通道 I/O块 702，变得更加难以在 DUT I/O块 704、706、708、710和通道 I/O块 702之间路由信CN 10201748913 AA 说 明 书 2/6页号以使得在不同的信号路由之间维持类似的信号传播特性。 - 中国語 特許翻訳例文集
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