理論上は、単一チャネルのI／Oブロック702をより多くのDUTのI／Oブロック704、706、708、710に連結することで、信号のファンアウト／ファンインを任意の数の信号経路分（例えば4つ、若しくは8つ、若しくはその他任意の数の信号経路）のみ増加させ、‘378号出願に記載された並列試験回路を拡張することができる。しかし実際には、単一の並列試験回路700のファンアウト／ファンインを増加させると、信号精度とDUTの分離を維持することがより困難となる。例えば、より多くのDUTのI／Oブロック704、706、708、710を単一のチャネルI／Oブロック702に連結すると、類似した信号伝播特性同士を異なる信号ルート間で維持しながら、DUTのI／Oブロック704、706、708、710とチャネルI／Oブロック702との間の信号のルート設定を行うことがより困難となる。
然而，实际上，随着单个并行测试电路 700的扇出 /扇入增多，变得难以维持信号完整性和DUT隔离。 例如，随着更多的 DUT I/O块 704、706、708、710被耦合到单个通道 I/O块 702，变得更加难以在 DUT I/O块 704、706、708、710和通道 I/O块 702之间路由信CN 10201748913 AA 说 明 书 2/6页号以使得在不同的信号路由之间维持类似的信号传播特性。
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